一种检测效果好的芯片测试机制造技术

本发明专利技术公开了一种检测效果好的芯片测试机，包括测试机和活动箱门，所述测试机的右侧嵌入安装有活动箱门，所述测试机的内侧安装有传送带；所述测试机的内侧的顶部安装有图像采集器；所述测试机内侧的顶部安装有电动推杆，所述传送带的顶部安装有自调节安装座。本发明专利技术通过安装有自调节安装座，顶部的推杆装置带动连接插孔下降的时候，外侧的组合块将自动沿着限位块的内侧挤压底部的芯片架，使得芯片架沿着引导杆进行移动，自调节安装座内侧达成位置自动微调的效果，再将连接插孔插入针脚外侧进行电源连接，再进行测试，避免因为装置误差导致芯片针脚压弯损坏的情况。致芯片针脚压弯损坏的情况。致芯片针脚压弯损坏的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种检测效果好的芯片测试机


[0001]本专利技术涉及芯片制造
，具体为一种检测效果好的芯片测试机。

技术介绍

[0002]随着时代的发展，现代化的信息科技逐渐发达，许多相关电子产品中最为重要的核心部件就是芯片，在对于芯片进行生产制造的时候，通常需要对每个芯片进行测试，通过插入测试端的接口出来检测芯片是否存在问题，传统在进行检测是时候需要使用到芯片测试机。
[0003]现有技术中芯片测试机存在的缺陷是：
[0004]1、专利文件CN211700197U公开了一种自动芯片测试机，包括“机架，机架上安装有测试座，测试座上成型开槽，开槽内间隙配合安装有芯片，开槽上成型有数个对应供芯片针脚插入的插孔，测试座采用绝缘塑料一体成型，插孔上端的开口处成型有方便芯片针脚插入的倒圆角，测试座的下侧成型有数个对应设置在插孔下方的圆槽，圆槽与插孔之间相互连通，圆槽内固定安装有导电柱，导电柱的下端通出圆槽设置，导电柱的上方间隔设置安装有导电片，芯片针脚的下端抵接在导电片上，导电片与导电柱之间还抵接安装有导电弹片，开槽上端的内侧设有防止芯片脱出开槽的卡扣；在导电弹片的弹性应力下使得芯片针脚的接触更加稳定，芯片针脚不会发生移位，从而方便对芯片的测试”，但是该装置在使用的时候，由于电机在进行调控和使用中各种情况出现，不乏会导致装置移动的范围出现不足的情况，芯片插入内部的时候会出现偏移，从而容易导致芯片出现针脚挤压变形的情况，直接损坏装置。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种检测效果好的芯片测试机，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种检测效果好的芯片测试机，包括测试机和活动箱门，所述测试机的右侧嵌入安装有活动箱门，所述测试机的内侧安装有传送带；
[0007]所述测试机的内侧的顶部安装有图像采集器；
[0008]所述测试机内侧的顶部安装有电动推杆，所述传送带的顶部安装有自调节安装座。
[0009]优选的，所述测试机的底部安装有四组支撑座，测试机的顶部按照也够警报灯，测试机的内侧安装有支撑架，且支撑架位于传送带的内侧，测试机内部的左侧开设有出料口。
[0010]优选的，所述活动箱门的右侧安装有控制面板，控制面板的右侧安装有显示屏，控制面板的右侧安装有若干组控制按钮。
[0011]优选的，所述传送带的内侧安装有两组支撑辊，支撑辊的两侧安装有定位架，且定位架位于测试机的正面和背面，支撑辊的左侧安装有伺服电机。
[0012]优选的，所述图像采集器的左侧安装有接线盒，图像采集器的底部安装有图像采集摄像头。
[0013]优选的，所述电动推杆的右侧安装有驱动电机，电动推杆的输出端的底部安装有连接测试端，所述连接测试端顶部安装有两组定位杆，且定位杆位于电动推杆的正面和背面，连接测试端的底部安装有四组组合块，连接测试端的底部安装有连接插孔，且连接插孔位于组合块的内侧。
[0014]优选的，所述自调节安装座的底部安装有固定板，自调节安装座的顶部按走与两组芯片架，芯片架的顶部安装有四组限位块，且限位块位于组合块的内侧，芯片架的内侧观察安装有引导杆，芯片架的正面和背面分别嵌入安装有两组支撑弹簧。
[0015]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0016]1、本专利技术通过安装有自调节安装座，当装置在使用的是时候，将芯片针脚朝向上方直接安装在芯片架的内侧，外侧的自调节安装座可以为内部的即通过提供稳定性，并且利用内部的结构可以为直接带动整体装置进行位置自动调节，顶部的推杆装置带动连接插孔下降的时候，外侧的组合块将自动沿着限位块的内侧挤压底部的芯片架，使得芯片架沿着引导杆进行移动，自调节安装座内侧达成位置自动微调的效果，再将连接插孔插入针脚外侧进行电源连接，再进行测试，避免因为装置误差导致芯片针脚压弯损坏的情况。
[0017]2、本专利技术通过安装有挡板，但是传统的装置在使用的时候，通常需要一批将芯片全部安装在内部的检测装置上进行检测，装置检测的连续性较差，检测的效率较低，将传送带内侧的支撑辊利用定位架进行固定，保证支撑辊的稳定性，避免支撑辊在使用的时候出现晃动，支撑辊通过左侧的伺服电机即可带动外侧的传送带进行旋转，从而带动外侧的芯片安装结构进行移动，装置进行检测的时候连续性强，大大提升了装置的检测效率。
附图说明
[0018]图1为本专利技术的整体结构示意图；
[0019]图2为本专利技术的图像采集器截面示意图；
[0020]图3为本专利技术的连接测试端截面示意图；
[0021]图4为本专利技术的自调节安装座结构示意图。
[0022]图中：1、测试机；101、支撑座；102、警报灯；103、支撑架；104、出料口；2、活动箱门；201、控制面板；202、显示屏；203、控制按钮；3、传送带；301、定位架；302、支撑辊；303、伺服电机；4、图像采集器；401、接线盒；402、图像采集摄像头；5、连接测试端；501、电动推杆；502、驱动电机；503、定位杆；504、组合块；505、连接插孔；6、自调节安装座；601、固定板；602、芯片架；603、限位块；604、支撑弹簧；605、引导杆。
具体实施方式
[0023]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相
连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0025]请参阅图1和图2，本专利技术提供一种实施例：一种检测效果好的芯片测试机；
[0026]包括测试机1，所述测试机1的底部安装有四组支撑座101，测试机1的顶部按照也够警报灯102，测试机1的内侧安装有支撑架103，且支撑架103位于传送带3的内侧，测试机1内部的左侧开设有出料口104，测试机1为装置的主体结构，用于为内侧的装置提供安装位置，并且可以直接对芯片进行测试，保证装置可以正常使用，底部的支撑座101用于和地面进行接触，为顶部的装置提供支撑，支撑架103在顶部装置下压的时候可以提供承载效果，增加检测的稳定性，出料口104用于提出针脚出现弯曲的芯片，测试机1的右侧嵌入安装有活动箱门2，活动箱门2的右侧安装有控制面板201，控制面板201的右侧安装有显示屏202，控制面板201的右侧安装有若干组控制按钮203，活动箱门2可以活动开启对内部结构进行维修，利用右侧的控制面板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测效果好的芯片测试机，包括测试机(1)和活动箱门(2)，其特征在于：所述测试机(1)的右侧嵌入安装有活动箱门(2)，所述测试机(1)的内侧安装有传送带(3)；所述测试机(1)的内侧的顶部安装有图像采集器(4)；所述测试机(1)内侧的顶部安装有电动推杆(501)，所述传送带(3)的顶部安装有自调节安装座(6)。2.根据权利要求1所述的一种检测效果好的芯片测试机，其特征在于：所述测试机(1)的底部安装有四组支撑座(101)，测试机(1)的顶部按照也够警报灯(102)，测试机(1)的内侧安装有支撑架(103)，且支撑架(103)位于传送带(3)的内侧，测试机(1)内部的左侧开设有出料口(104)。3.根据权利要求1所述的一种检测效果好的芯片测试机，其特征在于：所述活动箱门(2)的右侧安装有控制面板(201)，控制面板(201)的右侧安装有显示屏(202)，控制面板(201)的右侧安装有若干组控制按钮(203)。4.根据权利要求1所述的一种检测效果好的芯片测试机，其特征在于：所述传送带(3)的内侧安装有两组支撑辊(302)，支撑辊(302)的两侧安装有定位架(301)，且定位架(301)位于测试机(1)的正面和背面，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李永刚，李佳慧，
申请(专利权)人：昊丰电子科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：