一种多通道芯片性能测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多通道芯片性能测试设备，包括设备主体以及设置在设备主体下侧用于支撑用的底座，当作业人员视角高于显示屏时，能通过按压显示面板，在转动槽内利用转动套轴向后侧进行转动，从而调整显示面板的角度，让其转动到方便作业人员进行观看的角度，在操作过程中，作业人员能够更加舒适的完成测试作业，另外，通过塑料板的设置，能起到遮挡上方灰尘进入转动槽内的遮挡防尘作用，当显示面板需要更大面积散热时，亦能通过按压固定块，在滑槽内推动塑料板向后侧进行移动，打开转动槽上方空间，促进气流交换，加快散热效率，卡板的设置，则能起到防止显示面板过度向后转动，和转动槽内壁发生磕碰的保护效果

【技术实现步骤摘要】
一种多通道芯片性能测试设备


[0001]本技术属于测试设备相关
，具体涉及一种多通道芯片性能测试设备
。

技术介绍

[0002]多通道芯片性能测试设备是一种用于测试多通道芯片性能的设备
。
多通道芯片是一种具有多个通道的集成电路芯片，每个通道可以独立地进行信号处理
、
数据转换和通信等功能
。
[0003]多通道芯片性能测试设备的应用范围广泛，包括通信
、
电子
、
医疗
、
工业等领域，用于对多通道芯片的性能进行评估和验证，以确保其在实际应用中的可靠性和稳定性
[0004]但是现有的多通道芯片性能测试设备在实际使用中，存在显示屏一体化和设备主体进行连接，不能调节显示角度，导致作业人员以高于显示屏视角操作时，视角受限的问题
。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种多通道芯片性能测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的多通道芯片性能测试设备在实际使用中，存在显示屏一体化和设备主体进行连接，不能调节显示角度，导致作业人员以高于显示屏视角操作时，视角受限的问题
。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种多通道芯片性能测试设备，包括设备主体以及设置在设备主体下侧用于支撑用的底座；
[0007]所述设备主体的前侧右方位置处设置有控制面板，所述控制面板的前侧上方位置处设置有控制按钮，所述控制按钮的左下侧位置处设置有连接插孔；
[0008]所述设备主体通过连接外部电源进行供电；
[0009]所述设备主体的左前侧内部位置处开设有转动槽，所述转动槽的前侧内部位置处设置有显示面板，所述显示面板的前侧中间内部位置处设置有显示屏，所述显示面板的下侧和设备主体的连接位置处设置有转动套轴；
[0010]所述显示面板的上侧后方位置处设置有塑料板，所述塑料板的前侧上方中间位置处固定设置有固定块，所述塑料板的左右两侧下方位置处分别设置有滑块，所述滑块和设备主体的连接位置处设置有滑槽，所述塑料板的前侧下方位置处设置有卡板
。
[0011]优选的，所述显示面板通过下侧左右两端的转动套轴嵌套进设备主体内，且所述显示面板能通过转动套轴在转动槽内进行转动
。
[0012]优选的，两个所述滑块通过一体化连接方式和塑料板进行连接，两个所述滑块通过内嵌连接方式和滑槽进行连接
。
[0013]优选的，所述塑料板能通过两个所述滑块在滑槽内进行前后移动，所述卡板和显示面板后侧相贴合
。
[0014]优选的，所述塑料板为透明颜色，所述卡板通过螺栓连接方式和塑料板进行连接
。
[0015]优选的，所述设备主体的左右两侧上方中间位置处分别设置有握槽，所述设备主体的左右两侧上方内部位置处开设有多个散热口
。
[0016]与现有技术相比，本技术提供了一种多通道芯片性能测试设备，具备以下有益效果：
[0017]通过显示面板
、
转动槽
、
转动套轴
、
滑槽
、
塑料板
、
固定块
、
滑块以及卡板的设置，当作业人员视角高于显示屏时，能通过按压显示面板，在转动槽内利用转动套轴向后侧进行转动，从而调整显示面板的角度，让其转动到方便作业人员进行观看的角度，在操作过程中，作业人员能够更加舒适的完成测试作业，另外，通过塑料板的设置，能起到遮挡上方灰尘进入转动槽内的遮挡防尘作用，当显示面板需要更大面积散热时，亦能通过按压固定块，在滑槽内推动塑料板向后侧进行移动，打开转动槽上方空间，促进气流交换，加快散热效率，卡板的设置，则能起到防止显示面板过度向后转动，和转动槽内壁发生磕碰的保护效果
。
附图说明
[0018]图1为本技术的结构示意图
。
[0019]图2为本技术中显示面板区域放大后的结构示意图
。
[0020]图3为本技术中显示面板取出后的结构示意图
。
[0021]图4为本技术中塑料板后侧视角的结构示意图
。
[0022]图中：
1、
设备主体；
2、
底座；
3、
控制面板；
4、
控制按钮；
5、
连接插孔；
6、
显示面板；
7、
显示屏；
8、
转动槽；
9、
滑块；
10、
滑槽；
11、
固定块；
12、
塑料板；
13、
转动套轴；
14、
握槽；
15、
散热口；
16、
卡板
。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0024]本技术提供了如图1‑4所示的一种多通道芯片性能测试设备，包括设备主体1以及设置在设备主体1下侧用于支撑用的底座2；
[0025]设备主体1的前侧右方位置处设置有控制面板3，控制面板3的前侧上方位置处设置有控制按钮4，控制按钮4的左下侧位置处设置有连接插孔5；
[0026]设备主体1通过连接外部电源进行供电；
[0027]设备主体1的左前侧内部位置处开设有转动槽8，转动槽8的前侧内部位置处设置有显示面板6，显示面板6的前侧中间内部位置处设置有显示屏7，显示面板6的下侧和设备主体1的连接位置处设置有转动套轴
13
；
[0028]显示面板6的上侧后方位置处设置有塑料板
12
，塑料板
12
的前侧上方中间位置处固定设置有固定块
11
，塑料板
12
的左右两侧下方位置处分别设置有滑块9，滑块9和设备主体1的连接位置处设置有滑槽
10
，塑料板
12
的前侧下方位置处设置有卡板
16。
[0029]本实施例中，作业人员能通过连接外部电源给设备主体1进行供电，能通过按下控
制面板3前侧控制按钮4开启设备主体1，通过将测试芯片的电笔连接连接插孔5内，并通过控制按钮4配合显示屏7设置好测试参数，利用电笔接触连接芯片的引脚，向芯片发送测试信号，并接收芯片返回的响应信号，随后设备主体1通过对测试信号和响应信号进行分析和处理，可以得出芯片的性能参数，如响应时间
、
功耗
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多通道芯片性能测试设备，包括设备主体（1）以及设置在设备主体（1）下侧用于支撑用的底座（2）；所述设备主体（1）的前侧右方位置处设置有控制面板（3），所述控制面板（3）的前侧上方位置处设置有控制按钮（4），所述控制按钮（4）的左下侧位置处设置有连接插孔（5）；所述设备主体（1）通过连接外部电源进行供电；其特征在于：所述设备主体（1）的左前侧内部位置处开设有转动槽（8），所述转动槽（8）的前侧内部位置处设置有显示面板（6），所述显示面板（6）的前侧中间内部位置处设置有显示屏（7），所述显示面板（6）的下侧和设备主体（1）的连接位置处设置有转动套轴（
13
）；所述显示面板（6）的上侧后方位置处设置有塑料板（
12
），所述塑料板（
12
）的前侧上方中间位置处固定设置有固定块（
11
），所述塑料板（
12
）的左右两侧下方位置处分别设置有滑块（9），所述滑块（9）和设备主体（1）的连接位置处设置有滑槽（
10
），所述塑料板（
12
）的前侧下方位置处设置有卡板（
16
）
。2.
根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述显示面板（6）通过下侧左右两端的转动套轴（
13

【专利技术属性】
技术研发人员：李永刚，李佳慧，
申请(专利权)人：昊丰电子科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：