行李物品智能安检系统和方法技术方案

本申请涉及行李物品智能安检系统和方法。该系统包括：一级检测设备，用于对传送设备上的受检物品进行一级检测；二级检测设备，用于对已经过一级检测而被确定为可疑的受检物品中的一个或多个特定区域进行二级检测，其中，传送设备包括缓冲传送段，该缓冲传送段位于一级检测设备和二级检测设备之间，用于将可疑的受检物品运送到二级检测设备；以及控制设备，用于根据缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况来控制缓冲传送段的运行以缓冲一级检测设备和二级检测设备的检测速率之间的差异。测设备和二级检测设备的检测速率之间的差异。测设备和二级检测设备的检测速率之间的差异。

【技术实现步骤摘要】
行李物品智能安检系统和方法


[0001]本专利技术涉及安检
，尤其涉及双级安检系统和方法。

技术介绍

[0002]X射线透视技术(Digital Radiography，DR)和X射线断层成像技术(Computed Tomography，CT)凭借检测方便快捷、检测物品涉及范围广等优势已成为公共安全领域的重要技术手段，覆盖机场、地铁、海关等众多应用场景。然而，CT和DR检测难以对原子序数和电子密度接近的物质进行有效区分，因此在实际应用中容易产生较高的误报率。
[0003]X射线衍射(X
‑
ray diffraction，XRD)技术通过测量物质的衍射谱进行物质识别，可提供物质分子层面的结构信息，具有很强的特异性。然而，XRD检测如果要对物品内部进行全面检测，则扫描时间过长。如果通过增大探测器面积或提高光机电流等方式来提高XRD检测速度，则会导致成本升高、防护难度加大等问题，影响产品实用性。
[0004]近年来，已经提出将CT或DR和XRD检测相结合，从而提高检测准确度的方案。然而，传统地，CT或DR检测和XRD检测只是简单结合，由于XRD检测所需时间长于CT或DR检测，因此不可避免会大大延长检测时间，影响安检通过效率和检测效率。

技术实现思路

[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种双级安检系统，包括：一级检测设备，用于对传送设备上的受检物品进行一级检测；二级检测设备，用于对已经过一级检测而被确定为可疑的受检物品中的一个或多个特定区域进行二级检测，其中，传送设备包括缓冲传送段，该缓冲传送段位于一级检测设备和二级检测设备之间，用于将可疑的受检物品运送到二级检测设备；以及控制设备，用于根据缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况来控制缓冲传送段的运行以缓冲一级检测设备和二级检测设备的检测速率之间的差异。
[0006]根据本专利技术的另一方面，提供了一种双级安检方法，包括：通过一级检测设备对传送设备上的受检物品进行一级检测；通过二级检测设备对已经过一级检测而被确定为可疑的受检物品中的一个或多个特定区域进行二级检测，其中传送设备包括缓冲传送段，该缓冲传送段位于一级检测设备和二级检测设备之间，用于将可疑的受检物品运送到二级检测设备；以及通过控制设备根据缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况来控制缓冲传送段的运行以缓冲一级检测设备和二级检测设备的检测速率之间的差异。
[0007]根据本专利技术的另一方面，提供了一种XRD检测设备，包括：射线源，具有一排多个射线源焦点，每个射线源焦点能被独立控制而发射射线；前准直器，被布置为使得来自射线源的射线在一个或多个扇束平面照射到受检物品上；探测器模块，包括一组或多组探测器，每组探测器与一个或多个扇束平面之一相对应，并用于探测与该组探测器相对应的扇束平面的射线经受检物品衍射并经准直后的射线，其中，每组探测器包括一个或多个探测器，每个探测器用于探测经受检物品中的特定位置衍射并经准直后的射线，该特定位置处于该探测器的各像素元件沿与相应准直方向相反的方向与该组探测器相对应的扇束平面相交的交
点位置。
[0008]根据本专利技术的另一方面，提供了一种XRD检测方法，包括：通过射线源来发射射线，其中射线源具有一排多个射线源焦点，每个射线源焦点能被独立控制而发射射线；通过前准直器使得来自射线源的射线在一个或多扇束平面照射到受检物品上；通过探测器模块来探测一个或多个扇束平面的射线经受检物品衍射并经准直后的射线，其中，探测器模块包括一组或多组探测器，每组探测器与一个或多个扇束平面之一相对应，并用于探测与该组探测器相对应的扇束平面的射线经受检物品衍射并经准直后的射线，其中每组探测器包括一个或多个探测器，每个探测器用于探测经受检物品中的特定位置衍射并经准直后的射线，该特定位置处于该探测器的各像素元件沿与相应准直方向相反的方向与该组探测器相对应的扇束平面相交的交点位置。
[0009]根据本专利技术的又一方面，提供一种双级安检方法，包括：通过一级检测设备对传送设备的一级检测传送段上的受检物品进行一级检测；使得经过一级检测而被认为不可疑的受检物品通过传送设备的放行传送段而放行；使得经过一级检测而被认为可疑的受检物品传送到传送设备的缓冲传送段，其中缓冲传送段用于将可疑的受检物品运送到二级检测设备；通过控制设备根据缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况来控制缓冲传送段的运行，以缓冲一级检测设备和二级检测设备的检测速率之间的差异；通过二级检测设备对可疑的受检物品中的每一个可疑的区域进行二级检测；使得经过二级检测而被认为不可疑的受检物品通过传送设备的放行传送段而放行；以及使得经过二级检测而被认为可疑的受检物品传送到传送设备的查验传送段以经受进一步检查。
[0010]根据本申请的双级安检系统和双级检测方法，由于缓冲传送段以及相关联的控制设备的设置，能够有效缓冲一级检测和二级检测之间的检测速率之间的差异，从而避免由于这两级检测的检测速率不同而可能导致由于二级检测设备处检测任务堆积而要求对安检系统的其他部分进行暂停的需求，从而提高通过效率和检测效率。此外，在二级检测中采用了多焦点多扇束平面出束方式，可以覆盖传送方向上尽可能多的范围。
附图说明
[0011]通过参考附图会更加清楚地理解本专利技术的特征和优点，附图是示意性的而不应理解为对本专利技术进行任何限制，在附图中：
[0012]图1图示出根据本申请的实施例的双级安检系统的示意图；
[0013]图2图示出根据本申请的实施例的缓冲传送段的示意图；
[0014]图3图示出根据本申请的实施例的在图1的双级安检系统中安装了成像设备的示意图；
[0015]图4图示出根据本申请的实施例的XRD检测设备的示意图；
[0016]图5图示出根据本申请的实施例的XRD检测设备的示意图；
[0017]图6是示出根据本申请的实施例的双级安检方法的流程图；
[0018]图7是示出根据本申请的实施例的XRD检测方法的流程图；
[0019]图8是示出根据本申请的实施例的双级安检系统和方法的应用场景图示；以及
[0020]图9是示出根据本申请的实施例的双级安检方法的流程图。
具体实施方式
[0021]本申请提出了复合式双级安检系统和方法，其中两级检测并不是简单结合，而是通过独特缓冲传送段设计而链接，能够避免由于这两级检测的检测速率不同而可能导致由于二级检测设备处检测任务堆积而要求对安检系统的其他部分进行暂停的需求，从而提高通过效率和检测效率。此外，本申请还提出了一种独特的安检设备，其中射线发射模块和探测器模块具有独特的结构和排布，能够有助于实现高效检测。
[0022]下面结合图1
‑
9来说明根据本专利技术实施例的双级安检系统和方法。
[0023]图1图示出根据本申请的实施例的双级安检系统100的示意图。如图1所示，双级安检系统100包括：一级检测设备102，用于对传送设备104上的受检物品106进行一级检测；二级检测设备108，用于对已本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双级安检系统，包括：一级检测设备，用于对传送设备上的受检物品进行一级检测；二级检测设备，用于对已经过所述一级检测而被确定为可疑的受检物品中的一个或多个特定区域进行二级检测，其中，所述传送设备包括缓冲传送段，所述缓冲传送段位于所述一级检测设备和所述二级检测设备之间，用于将所述可疑的受检物品运送到所述二级检测设备；以及控制设备，用于根据所述缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况来控制所述缓冲传送段的运行以缓冲所述一级检测设备和所述二级检测设备的检测速率之间的差异。2.根据权利要求1所述的双级安检系统，其中，所述缓冲传送段包括能独立滚动的多个圆柱件，所述多个圆柱件沿着传送方向依次排布，并且，所述控制设备根据所述缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况而选择性地控制所述多个圆柱件中的一个或多个圆柱件以进行滚动或停止滚动。3.根据权利要求1或2所述的双级安检系统，其中，所述双级安检系统还包括以下设备中的至少一种设备：成像设备、光学传感器设备和重力传感器设备，以从该至少一种设备所获得的信息来确定所述缓冲传送段上的可疑的受检物品的运送情况。4.根据权利要求1所述的双级安检系统，其中所述二级检测设备是X射线衍射XRD检测设备。5.根据权利要求4所述的双级安检系统，其中，所述XRD检测设备包括：射线发射模块，在一个或多个扇束平面向所述可疑的受检物品发射射线；以及探测器模块，探测所述一个或多个扇束平面的射线经所述可疑的受检物品衍射并经准直后的射线，其中所述探测器模块包括一组或多组探测器，每组探测器与所述一个或多个扇束平面之一相对应，并用于探测与该组探测器相对应的扇束平面的射线经所述可疑的受检物品衍射并经准直后的射线。6.根据权利要求5所述的双级安检系统，其中每组探测器包括一个或多个探测器，每个探测器用于探测经所述可疑的受检物品中的特定位置衍射并经准直后的射线，该特定位置处于所述探测器的各像素元件沿与相应准直方向相反的方向与该组探测器相对应的扇束平面相交的交点位置。7.根据权利要求6所述的双级安检系统，其中，所述射线发射模块包括：射线源，用于发射射线，其中，所述射线源具有一排多个射线源焦点，每个射线源焦点能被独立控制而发射射线；以及前准直器，被布置为使得来自所述射线源的射线在所述一个或多个扇束平面照射到所述可疑的受检物品上。8.根据权利要求7所述的双级安检系统，其中，所述多个射线源焦点中的一个或多个射线源焦点被选定来发射射线，其中，选定的射线源焦点是根据基于所述一级检测的信息所确定的所述可疑的受检物品上的所述一个或多个特定区域而被选定的，以使得所述一个或多个特定区域中的至少一个特定区域能被所述一个或多个扇束平面中的至少一个扇束平面覆盖。9.根据权利要求8所述的双级安检系统，其中，所述一个或多个特定区域是根据基于所述一级检测的信息所确定的所述可疑的受检物品中的可疑物的位置、可疑物周边的干扰物
的位置而确定的。10.根据权利要求9所述的双级安检系统，其中，所述一个或多个探测器包括至少一个可移动式探测器，所述可移动式探测器能被独立控制而移动，并且所述至少一个可移动式探测器之一能被移动到与所述至少一个特定区域之一相应的位置。11.一种双级安检方法，包括：通过一级检测设备对传送设备上的受检物品进行一级检测；通过二级检测设备对已经过所述一级检测而被确定为可疑的受检物品中的一个或多个特定区域进行二级检测,其中所述传送设备包括缓冲传送段，所述缓冲传送段位于所述一级检测设备和所述二级检测设备之间，用于将所述可疑的受检物品运送到所述二级检测设备；以及通过控制设备根据所述缓冲传送段上的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张丽，杨洪恺，邢宇翔，孙运达，金鑫，沈乐，常铭，许晓飞，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：