具有交错列的检测器矩阵制造技术

在一个示例中，提供了一种被配置成在用于使用检查辐射检查货物的系统中被使用的检测器矩阵，该矩阵包括多列检测器模块，每列的所述检测器模块沿基本纵向方向延伸，每个检测器模块包括配置成接收检查辐射的表面，以及所述多列检测器模块在基本垂直于所述纵向方向并且基本平行于所述检测器模块的所述表面的横向方向上彼此相邻，其中，所述多列检测器模块包括在基本垂直于所述横向方向和所述纵向方向两者的深度方向上相对于彼此偏移的至少两列检测器模块。列检测器模块。列检测器模块。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有交错列的检测器矩阵


[0001]本专利技术涉及但不限于一种检测器矩阵，其被配置成在用于使用检查辐射检查货物的系统中被使用。本专利技术还涉及制造这种检测器矩阵的方法。

技术介绍

[0002]检测器矩阵中的列的最佳数量取决于其上要安装矩阵的货物检查系统的类型(例如，系统是传送门、移动系统还是门架)和期望的扫描速度。
[0003]检测器矩阵可以由粘合在相应的光电二极管矩阵上的闪烁晶体矩阵制成。
[0004]对于具有不同列数的矩阵，各个光电二极管矩阵是不同的。类似地，对于具有不同列数的矩阵，各个闪烁晶体矩阵是不同的。根据所需的列数，针对不同类型的检测器矩阵制造每个不同的光电二极管矩阵和每个不同的闪烁晶体矩阵。

技术实现思路

[0005]本专利技术的方面和实施例在所附权利要求中阐述。本专利技术的这些和其它方面和实施例也在此描述。
附图说明
[0006]现在将参考附图通过示例的方式描述本公开的实施例，在附图中：
[0007]图1A示意性地示出了在检查辐射的传播的深度方向(OZ)上观察的根据本公开的示例性检测器矩阵的正视图；
[0008]图1B示意性地示出了具有第一偏移的图1A的示例性检测器矩阵的顶视图；
[0009]图2示意性地示出了具有第二偏移的另一示例性检测器矩阵的顶视图；
[0010]图3示意性地示出了包括具有对称平面的四列的另一示例检测器矩阵的顶视图；
[0011]图4A示意性地示出了包括四列的另一示例检测器矩阵的顶视图，其中每列相对于相邻列偏移；
[0012]图4B示意性地示出了包括五列的检测器的另一示例矩阵的顶视图，其中每列相对于相邻列偏移；
[0013]图5示意性地示出了包括三列的另一示例检测器矩阵的顶视图，其中两列相对于彼此不偏移；
[0014]图6示意性地示出了包括具有对称平面的四列的另一示例检测器矩阵的顶视图，其中检测器模块包括多个堆叠的检测器；以及
[0015]图7示意性地示出了根据本公开的任何方面的用于制造检测器矩阵的示例方法的流程图。
[0016]在附图中，类似的元件具有相同的附图标记。
具体实施方式
[0017]概述
[0018]本公开的实施例提供了一种用于使用检查辐射检查货物的检查系统的检测器矩阵。检测器矩阵可以包括在基本垂直于扫描方向的纵向方向上延伸的多列。每列包括用于接收检查辐射的多个模块。所述多列在基本平行于扫描方向的横向方向上彼此相邻，以形成检测器矩阵。在所述多列中，至少两列在与横向方向和纵向方向两者基本垂直的深度方向上相对于彼此偏移。
[0019]在本公开的实施例中，偏移使得能够使用用于检测器矩阵的可缩放架构。在本公开的实施例中，不管列数如何，该偏移使得能够使用相同或相似的列和/或相同或相似的检测器模块来增加或减少列数。在本公开的实施例中，偏移使得能够增加或减少列数，而不使用专用于给定列数的光电二极管矩阵或闪烁晶体矩阵。
[0020]本公开的实施例所实现的可扩展性实现了相对低的制造成本。
[0021]示例性实施例的详细描述
[0022]图1A和图1B示意性地示出了被配置成在用于使用检查辐射检查货物的系统中使用的示例检测器矩阵1。
[0023]在图1A和图1B中，检测器矩阵1包括多个(n个)(n≥2，在图1A和图1B中n＝2)检测器模块3的列2。
[0024]如图1A和图1B所示，每列2的检测器模块3沿基本纵向方向LONG延伸。在图1A和图1B中，纵向方向LONG基本平行于方向(OY)。
[0025]每个检测器模块3包括被配置成接收检查辐射5的检查表面4.在图1A和图1B中，检查表面4基本平行于平面(XOY)。
[0026]检测器模块3的多个(n个)列2在基本垂直于纵向方向LONG并且基本平行于检测器模块3的检查表面4的横向方向LAT上彼此相邻。在图1A和图1B中，横向方向LAT基本垂直于方向(OY)并且基本平行于平面(XOY)。在图1A和图1B中，横向方向LAT基本平行于方向(OX)。
[0027]如图1A和图1B所示，多个(n个)列2包括列在基本垂直于横向方向LAT和纵向方向LONG两者的深度方向DEPTH上彼此相对偏移的至少两列2。
[0028]在图1A和图1B中，两个列2在基本垂直于横向方向LAT和纵向方向LONG的方向(OZ)上相对于彼此偏移一个偏移δ。在图1A和图1B中，在一个列2的检查表面4和另一个被偏移的列2的检查表面4之间测量偏移δ。
[0029]如下面更详细地解释的，在深度方向DEPTH上的偏移δ可以使得能够实现列在横向方向LAT上的至少部分重叠。列在横向方向LAT上的至少部分重叠可以使得能够在用于检测器矩阵的可缩放架构中使用相同或相似的列和/或相同或相似的检测器模块。
[0030]如图所示，在一些实施例中，每列2包括至少一个印刷电路板6。
[0031]在图1A和图1B的示例中，至少一个印刷电路板6与列2的检测器模块3相邻，并且在基本垂直于列2的检测器模块3的检查表面4的平面中延伸，在图1A和图1B的示例中，至少一个印刷电路板6在基本平行于平面(YOZ)的平面中延伸，所述平面(YOZ)垂直于列2的检测器模块3的检查表面4。
[0032]在图4A的示例中，至少一个印刷电路板6至少部分地与列2的检测器模块3相邻，并且在基本平行于列2的检测器模块3的检查表面4的平面中延伸。在图4A的示例中，至少一个
印刷电路板6在基本平面(YOZ)的平面中延伸，所述平面(YOZ)垂直于与列2的检测器模块3的检查表面4垂直。
[0033]在图4B的示例中，一个印刷电路板6在基本平行于列2的检测器模块3的检查表面4的平面中(在基本垂直于平面(YOZ)的平面中)延伸，并且两个印刷电路板6在基本垂直于列2的检测器模块3的检查表面4的平面中(在基本平行于平面(YOZ)的平面中)延伸。
[0034]可以设想电路板6的位置的其它配置和组合。
[0035]如图中所示，每个检测器模块3包括至少一个检测器30，其被配置成与检查辐射相互作用。如图中所示，每个检测器模块3包括至少一个传感器7，其被配置成检测检测器30对与检查辐射5的相互作用的响应。如图所示，至少一个传感器7可位于至少一个印刷电路板6和至少一个检测器30之间。
[0036]如图1A和图1B所示，在深度方向DEPTH上的偏移δ能够实现列2在横向方向LAT上的部分重叠λ，并使得能够在用于检测器矩阵的可缩放体系架构中使用相同的列和/或相同的检测器模块。如图1A和图1B所示，列2在横向方向LAT上的部分重叠λ使得一个列2的与检查表面4相对的检测器30的后表面8在横向方向LAT上至少部分地或完全地覆盖另一个列2的至少一个印刷电路6和至少一个传感器7。在图1A和图1B中，偏移δ和重叠λ使得一个列2的检测器30在横向方向LAT上不与另一列2的检测器30重叠。
[0037]图1B和2示出了偏移δ的示例，δ本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检测器矩阵，被配置成在用于使用检查辐射检查货物的系统中被使用，所述检测器矩阵包括多列检测器模块，每列的所述检测器模块沿基本纵向方向延伸，每个检测器模块包括被配置成接收所述检查辐射的检查表面，以及所述多列检测器模块在基本垂直于所述纵向方向并且基本平行于所述检测器模块的所述表面的横向方向上彼此相邻，其中，所述多列检测器模块包括在基本垂直于所述横向方向和所述纵向方向两者的深度方向上相对于彼此偏移的至少两列检测器模块。2.如前述权利要求所述的矩阵，其中一个列的所述检查表面与另一个被偏移的列的所述检查表面之间的偏移δ是这样的：0<δ≤5D，其中D是所述检测器模块在所述深度方向上的尺寸。3.如前述权利要求中的任意项所述的矩阵，包括偶数个列。4.如权利要求3所述的矩阵，具有中心对称平面，所述中心对称平面基本平行于所述深度方向并且基本平行于所述纵向方向。5.如权利要求1或2所述的矩阵，包括奇数个列。6.如前述权利要求中的任意项所述的矩阵，其中所述多列中的每列相对于所述多列中的相邻列偏移。7.如权利要求1至6中的任意项所述的矩阵，其中所述多列检测器模块包括在所述深度方向上彼此不偏移的至少三列检测器和至少两列检测器。8.如前述权利要求中的任意项所述的矩阵，其中至少一列包括至少一个印刷电路板，其中，所述至少一个印刷电路板与所述列的所述检测器模块相邻，并且在与所述列的所述检测器模块的被配置成接收所述检查辐射的所述表面基本垂直的平面中延伸。9.如权利要求1至8中任意项所述的矩阵，其中至少一列包括至少一个印刷电路板，其中所述至少一个印刷...

【专利技术属性】
技术研发人员：S，
申请(专利权)人：史密斯探测法国股份公司，
类型：发明
国别省市：