【技术实现步骤摘要】
压模治具及固晶工艺
[0001]本申请涉及半导体封装
,特别是涉及一种压模治具及固晶工艺。
技术介绍
[0002]在半导体器件的生产过程中,经常需要利用压模治具将熔融态的焊锡由聚集在一起的水滴状压扁成片状,从而使得半导体器件与焊锡的接触面积更大,从而提高半导体器件的焊接后的可靠性。
[0003]现有技术中,压模治具的内腔为长方体结构,用于将焊锡印刷形成平整的焊接图案,提供较好的焊接效果。
[0004]然而,熔融态的焊锡作为液体存在表面张力,在压模过程后,焊锡层的表面由于表面张力重新以一定微小的弧度呈现曲面,使得焊锡层在竖直方向上的厚度分布不均匀,导致焊锡与半导体器件表面的结合不牢靠。
技术实现思路
[0005]基于此,有必要针对上述焊锡层表面厚度分布不均匀的问题,提供一种压模治具。
[0006]一种压模治具,包括夹持座与压模座。所述夹持座用于外界执行机构夹持,所述压模座的一端连接所述夹持座,相对远离所述夹持座的另一端开设有图形槽,所述图形槽的底面内由内向外依次设置有环形的第一成型 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种压模治具,其特征在于,包括:夹持座(1),用于外界执行机构夹持;压模座(2),所述压模座(2)的一端连接所述夹持座(1),相对远离所述夹持座(1)的另一端开设有图形槽(20),所述图形槽(20)的底面内由内向外依次设置有环形的第一成型部(21)及第二成型部(22),所述第二成型部(22)沿第一方向的厚度小于所述第一成型部(21)沿所述第一方向的厚度。2.根据权利要求1所述的压模治具,其特征在于,所述第一成型部(21)在所述第一方向上的厚度由内向外逐渐降低。3.根据权利要求2所述的压模治具,其特征在于,所述第一成型部(21)在所述第一方向上的厚度变化率由内向外逐渐增加。4.根据权利要求1所述的压模治具,其特征在于,所述图形槽(20)的底面还设置有第三成型部(23),所述第三成型部(23)环绕所述第二成型部(22)设置,所述第二成型部(22)沿所述第一方向的厚度小于所述第三成型部(23)沿所述第一方向的厚度。5.根据权利要求1所述的压模治具,其特征在于,所述第一成型部(21)被配置为矩形结构,所述第二成型部(22)被配置...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏桦军,韩致峰,苏凯琳,
申请(专利权)人:深圳市桦沣实业有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。