一种干涉仪测试结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种干涉仪测试结构，涉及干涉仪测试技术领域，该干涉仪测试结构，包括干涉仪本体和活动安装在干涉仪本体底端表面的干涉仪放置板，所述干涉仪放置板的底端表面安装有三角支架，所述干涉仪放置板的内部安装有引出结构，所述干涉仪本体内部安装有四个固定结构，所述干涉仪本体的外侧表面安装有取出结构。本实用新型专利技术通过顶柱本体阻挡移动板随着干涉仪本体向下移动，移动板带动四个斜角顶块本体向上移动，斜角顶块本体将固定卡块本体向干涉仪本体外侧挤出，固定卡块本体卡在卡接槽内，使干涉仪本体固定在干涉仪放置板内，使干涉仪本体在测量使不会发生晃动，使干涉仪本体测量数据准确性高。体测量数据准确性高。体测量数据准确性高。

【技术实现步骤摘要】
一种干涉仪测试结构


[0001]本技术涉及干涉仪测试
，具体为一种干涉仪测试结构。

技术介绍

[0002]干涉仪是很广泛的一类实验技术的总称，其思想在于利用波的叠加性来获取波的相位信息，从而获得实验所关心的物理量，干涉仪并不仅仅局限于光干涉仪，干涉仪在天文学，光学，工程测量，海洋学，地震学，波谱分析，量子物理实验，遥感，雷达等等精密测量领域都有广泛应用。
[0003]当干涉仪进行测量数据时，需要保持干涉仪放置稳定，现有的干涉仪放置时，干涉仪装配步骤复杂，且干涉仪装配不稳定，且在干涉仪在室外场地操作过程中，需要借助外部支撑架对其进行固定和支撑，外部支撑架更加增添了工作人员干涉仪安装难的问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种干涉仪测试结构，具备干涉仪测试稳定效果好和快速安装和拆卸的优点，以解决干涉仪测试稳定效果不佳的且安装和拆卸慢的问题。
[0005]为实现干涉仪测试稳定效果好和快速安装和拆卸的目的，本技术提供如下技术方案：一种干涉仪测试结构，包括干涉仪本体和活动安装在干涉仪本体底端表面的干涉仪放置板，所述干涉仪放置板的底端表面安装有三角支架，所述干涉仪放置板的内部安装有引出结构，所述干涉仪本体内部安装有四个固定结构，用于将干涉仪本体固定在干涉仪放置板内，所述干涉仪本体的外侧表面安装有取出结构，用于方便将干涉仪本体从干涉仪放置板内取出，所述引出结构用于带动固定结构移动。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述引出结构包括挤压机构和推出机构，所述挤压机构安装在干涉仪放置板的内部，所述推出机构安装在挤压机构的顶端表面，用于将固定结构推到干涉仪本体外侧，所述挤压机构用于带动推出机构进行移动。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述挤压机构包括顶柱本体和顶柱孔，所述顶柱本体安装在干涉仪放置板的内壁处，所述顶柱孔开设在干涉仪本体的底端表面，所述顶柱本体与顶柱孔活动接触。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述推出机构包括两个第一连接弹簧和移动板，两个所述第一连接弹簧的一端表面安装在干涉仪本体的内部，所述移动板安装在两个第一连接弹簧的另一端表面，所述移动板的顶端表面安装有四个斜角顶块本体。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述固定结构包括顶出槽和卡接机构，所述顶出槽开设在干涉仪本体的外侧表面，所述顶出槽的内壁处安装有固定块，所述固定块的内部活动安装有固定卡块本体，所述固定块的内部开设有斜角顶块移动腔，所述斜角顶块本体与斜角顶块移动腔和固定卡块本体活动接触，所述卡接机构安装在固定卡块本体的外侧表面，用于将干涉仪本体固定在干涉仪放置板内。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述卡接机构包括限位块和限位滑板，所
述限位块安装在固定卡块本体的顶端表面，所述限位滑板安装在固定块的内壁处，所述限位滑板与限位块活动接触，所述限位块的外侧表面安装有第二连接弹簧，所述第二连接弹簧的一端表面延伸至限位滑板的外侧表面，所述干涉仪放置板的内壁处开设有卡接槽，所述固定卡块本体与卡接槽活动接触。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述取出结构包括外挡板和磁铁板，所述外挡板安装在干涉仪本体的外侧表面，所述磁铁板活动安装在干涉仪本体的外侧表面，所述外挡板的顶端开设四个球槽，四个所述球槽的内壁处活动皆安装有球轴，四个所述球轴的外侧表面安装有支撑杆，所述磁铁板的底端表面开设有四个支撑槽，所述支撑杆与支撑槽活动接触。
[0012]与现有技术相比，本技术提供了一种干涉仪测试结构，具备以下有益效果：
[0013]1、该干涉仪测试结构，顶柱本体阻挡移动板随着干涉仪本体向下移动，移动板带动四个斜角顶块本体向上移动，斜角顶块本体将固定卡块本体向干涉仪本体外侧挤出，固定卡块本体卡在卡接槽内，使干涉仪本体固定在干涉仪放置板内，使干涉仪本体在测量使不会发生晃动，使干涉仪本体测量数据准确性高。
[0014]2、该干涉仪测试结构，磁铁板向下移动，磁铁板与限位块之间产生排斥力，限位块带动固定卡块本体向干涉仪本体内部移动，第二连接弹簧复位，加快固定卡块本体从卡接槽移出，固定卡块本体挤压斜角顶块本体向下运动，当固定卡块本体从卡接槽移出时，可以将干涉仪本体从干涉仪放置板取出。
附图说明
[0015]图1为本技术外部结构示意图；
[0016]图2为本技术内部结构示意图；
[0017]图3为本技术外部图2中A部分结构放大示意图；
[0018]图4为本技术卡接机构结构示意图。
[0019]图中：1、干涉仪本体；2、干涉仪放置板；3、三角支架；4、顶柱本体； 5、顶柱孔；6、第一连接弹簧；7、移动板；8、斜角顶块本体；9、顶出槽； 10、固定块；11、斜角顶块移动腔；12、固定卡块本体；13、限位块；14、第二连接弹簧；15、限位滑板；16、卡接槽；17、外挡板；18、磁铁板；19、球轴；20、球槽；21、支撑杆；22、支撑槽。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
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图4，本技术公开了一种干涉仪测试结构，包括干涉仪本体1和活动安装在干涉仪本体1底端表面的干涉仪放置板2，干涉仪放置板 2的底端表面安装有三角支架3，干涉仪放置板2的内部安装有引出结构，干涉仪本体1内部安装有四个固定结构，用于将干涉仪本体1固定在干涉仪放置板2内，干涉仪本体1的外侧表面安装有取出结构，用于方便将干涉仪本体1从干涉仪放置板2内取出，引出结构用于带动固定结构移动。
[0022]具体的，引出结构包括挤压机构和推出机构，挤压机构安装在干涉仪放置板2的内部，推出机构安装在挤压机构的顶端表面，用于将固定结构推到干涉仪本体1外侧，挤压机构用于带动推出机构进行移动。
[0023]进一步的，挤压机构包括顶柱本体4和顶柱孔5，顶柱本体4安装在干涉仪放置板2的内壁处，顶柱孔5开设在干涉仪本体1的底端表面，顶柱本体4 与顶柱孔5活动接触，顶柱本体4从顶柱孔5进入干涉仪本体1内部，顶柱孔5和顶柱本体4限定干涉仪本体1放置在干涉仪放置板2内的位置。
[0024]进一步的，推出机构包括两个第一连接弹簧6和移动板7，两个第一连接弹簧6的一端表面安装在干涉仪本体1的内部，移动板7安装在两个第一连接弹簧6的另一端表面，移动板7的顶端表面安装有四个斜角顶块本体8，顶柱本体4阻挡移动板7随着干涉仪本体1向下移动，移动板7带动第一连接弹簧6向上移动，移动板7带动四个斜角顶块本体8向上移动，斜角顶块本体8在斜角顶块移动腔11向上移动。
[0025]进一步本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种干涉仪测试结构，包括干涉仪本体(1)和活动安装在干涉仪本体(1)底端表面的干涉仪放置板(2)，其特征在于：所述干涉仪放置板(2)的底端表面安装有三角支架(3)，所述干涉仪放置板(2)的内部安装有引出结构，所述干涉仪本体(1)内部安装有四个固定结构，用于将干涉仪本体(1)固定在干涉仪放置板(2)内，所述干涉仪本体(1)的外侧表面安装有取出结构，用于方便将干涉仪本体(1)从干涉仪放置板(2)内取出，所述引出结构用于带动固定结构移动。2.根据权利要求1所述的一种干涉仪测试结构，其特征在于：所述引出结构包括挤压机构和推出机构，所述挤压机构安装在干涉仪放置板(2)的内部，所述推出机构安装在挤压机构的顶端表面，用于将固定结构推到干涉仪本体(1)外侧，所述挤压机构用于带动推出机构进行移动。3.根据权利要求2所述的一种干涉仪测试结构，其特征在于：所述挤压机构包括顶柱本体(4)和顶柱孔(5)，所述顶柱本体(4)安装在干涉仪放置板(2)的内壁处，所述顶柱孔(5)开设在干涉仪本体(1)的底端表面，所述顶柱本体(4)与顶柱孔(5)活动接触。4.根据权利要求2所述的一种干涉仪测试结构，其特征在于：所述推出机构包括两个第一连接弹簧(6)和移动板(7)，两个所述第一连接弹簧(6)的一端表面安装在干涉仪本体(1)的内部，所述移动板(7)安装在两个第一连接弹簧(6)的另一端表面，所述移动板(7)的顶端表面安装有四个斜角顶块本体(8)。5.根据权利要求4所述的一种干涉仪测试结构，其特征在于：所述固定结构包括顶出槽(9)和卡接机构，所述顶出槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：张宝安，
申请(专利权)人：苏州然玓光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：