光学传感器芯片的测试系统技术方案

本公开的实施例涉及一种光学传感器芯片的测试系统。该测试系统包括：光源控制器，用于生成光源控制信号；光源，对准设置于测试板上的光学传感器芯片，用于根据光源控制信号向光学传感器芯片发射对应的测试光信号；测试板，包括：测试治具，用于固定光学传感器芯片，以及接收光学传感器芯片响应于测试光信号所输出的电信号，测试治具包括：基座，基座上设置有用于安装光学传感器芯片的安装槽；限位装置，限位装置设置有按压部，用于施加压力以便将光学传感器芯片限位于安装槽内，按压部遮挡光学传感器芯片的非光敏区域。本公开可以显著提高图像传感器芯片测试的准确度。像传感器芯片测试的准确度。像传感器芯片测试的准确度。

【技术实现步骤摘要】
光学传感器芯片的测试系统


[0001]本公开的实施例总体涉及光学传感器领域，并且更具体地涉及一种光学传感器芯片的测试系统。

技术介绍

[0002]图像传感器芯片（包含但不限于CMOS图像传感器芯片）已广泛应用于数字成像领域。图像传感器芯片需要经受测试流程，以便确定图像传感器芯片是否符合预定的功能、性能指标。传统的测试系统结构复杂，给测试流程造成诸多不便，影响测试效率，而且影响测试的准确度。
[0003]综上，传统的用于图像传感器芯片的测试系统存在测试准确度较低等不足。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本公开提供了一种光学传感器芯片的测试系统，能够显著提高图像传感器芯片测试的准确度。
[0005]根据本公开的一个方面，提供一种光学传感器芯片的测试系统。该测试系统包括：光源控制器，用于生成光源控制信号；光源，对准设置于测试板上的光学传感器芯片，用于根据光源控制信号向光学传感器芯片发射对应的测试光信号；测试板，包括：测试治具，用于固定光学传感器芯片，以及接收光学传感器芯片响应于测试光信号所输出的电信号，测试治具包括：基座，基座上设置有用于安装光学传感器芯片的安装槽；限位装置，限位装置设置有按压部，用于施加压力以便将光学传感器芯片限位于安装槽内，按压部遮挡光学传感器芯片的非光敏区域。
[0006]在一些实施例中，测试治具还包括：上盖，设置于限位装置的上方，上盖上设置有窗口，用于供光源发射的测试光信号穿过以便到达光学传感器芯片，以及锁止机构，用于根据上盖的驱动锁止或者解锁限位装置；以及测试板还包括：基板，用于支撑测试治具，并分别与测试治具以及数据采集装置电连接，以便将来自测试治具的电信号传输至数据采集装置以用于确定测试结果。
[0007]在一些实施例中，限位装置上设置有滑槽，锁止机构包括：顶杆，顶杆的一端与上盖连接以便被上盖驱动，顶杆的另一端与杠杆的一端枢接以便驱动杠杆；杠杆，杠杆的另一端与滑杆枢接以便驱动滑杆沿着滑槽限定的轨迹滑动；以及滑杆，穿设于滑槽内，用于在滑动至滑槽内的第一位置时锁止限位装置，以及在滑动至滑槽内的第二位置时解锁限位装置。
[0008]在一些实施例中，锁止机构还包括：弹簧，弹簧的一端抵靠上盖，弹簧的另一端抵靠基座；拉钩，固定于上盖的下方，用于被按压式自锁卡扣锁止或者解锁，以便在被锁止时压缩弹簧以将上盖限制于靠近基座的第三位置，以及在被解锁时使得弹簧伸展，以便伸展的弹簧驱动上盖移动至远离基座的第四位置；以及按压式自锁卡扣，设置于基座上，用于锁止或者解锁拉钩。
[0009]在一些实施例中，滑杆还用于在滑动至滑槽内的第二位置时驱动限位装置向远离安装槽内的光学传感器芯片的方向转动。
[0010]在一些实施例中，锁止机构还包括：扭簧，设置于限位装置与基座之间，用于在限位装置被锁止时被压缩，以及在限位装置被解锁时伸展，以便驱动限位装置向远离安装槽内的光学传感器芯片的方向转动。
[0011]在一些实施例中，光学传感器芯片包括：陶瓷管壳，与玻璃光窗包围一容纳腔，容纳腔容纳裸芯片，裸芯片，设置于容纳腔内，以及玻璃光窗，贴设于陶瓷管壳的一侧，用于供光信号穿过以便到达裸芯片的光敏区域。
[0012]在一些实施例中，陶瓷管壳包括：多个通孔，多个通孔均贯穿陶瓷管壳，用于容纳多个散热装置，以及多个散热装置，多个散热装置分别填充多个通孔并延伸至容纳腔内与裸芯片接触，以便将裸芯片的热量传递至陶瓷管壳的外部。
[0013]在一些实施例中，多个通孔呈矩阵式排布。
[0014]在一些实施例中，玻璃光窗经由点胶工艺贴设于陶瓷管壳的一侧以便在玻璃光窗与陶瓷管壳之间形成气道；或者玻璃光窗贴设于陶瓷管壳的一侧以便与陶瓷管壳包围一密封容纳腔，光学传感器芯片设置于密封容纳腔内。
[0015]在一些实施例中，光源控制器还用于从上位机获取控制指令，以便生成关于曝光时长、光照亮度中的至少一项的光源控制信号；数据采集装置用于将来自基板的电信号处理为遥感影像像元亮度值，并传输至上位机，以便上位机根据遥感影像像元亮度值生成测试结果。
[0016]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0017]结合附图并参考以下详细说明，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。在附图中，相同或相似的附图标注表示相同或相似的元素。
[0018]图1示出了本公开的实施例的测试系统的结构示意图。
[0019]图2示出了本公开的实施例的测试治具的立体结构示意图。
[0020]图3示出了本公开的实施例的测试系统的局部结构示意图。
[0021]图4示出了本公开的实施例的测试系统的局部剖面结构示意图。
[0022]图5示出了本公开的实施例的测试治具的沿Y轴方向的局部结构的剖面示意图。
[0023]图6示出了本公开的实施例的测试治具的沿Y轴方向的局部结构的剖面示意图。
[0024]图7示出了本公开的实施例的锁止机构的局部结构的立体示意图。
[0025]图8示出了本公开的实施例的测试治具的沿Y轴方向的局部结构的剖面示意图。
[0026]图9示出了本公开的实施例的光学传感器芯片的局部结构的立体示意图。
[0027]图10示出了本公开的实施例的光学传感器芯片的局部结构的顶面的结构示意图。
[0028]图11示出了本公开的实施例的光学传感器芯片的局部结构示意图。
[0029]图12示出了本公开的实施例的光学传感器芯片的底面的结构示意图。
[0030]图13示出了本公开的实施例的控制指令的协议格式的示意图。
具体实施方式
[0031]以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。
[0032]在本文中使用的术语“包括”及其变形表示开放性包括，即“包括但不限于”。除非特别申明，术语“或”表示“和/或”。术语“基于”表示“至少部分地基于”。术语“一个示例实施例”和“一个实施例”表示“至少一个示例实施例”。术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”。术语“第一”、“第二”等等可以指代不同的或相同的对象。下文还可能包括其他明确的和隐含的定义。
[0033]如前文所描述，传统的用于图像传感器芯片的测试系统存在测试准确度较低等不足。
[0034]为了至少部分地解决上述问题以及其他潜在问题中的一个或者多个，本公开的示例实施例提出了一种测试系统方案。在本公开方案中，光源根据光源控制器生成的光源控制信号向光学传感器芯片发射对应的测试光信号；光学传感器芯片固定于测试板的测试治具上，测试治具接收光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学传感器芯片的测试系统，其特征在于，包括：光源控制器，用于生成光源控制信号；光源，对准设置于测试板上的光学传感器芯片，用于根据光源控制信号向光学传感器芯片发射对应的测试光信号；测试板，包括：测试治具，用于固定光学传感器芯片，以及接收光学传感器芯片响应于测试光信号所输出的电信号，测试治具包括：基座，基座上设置有用于安装光学传感器芯片的安装槽；限位装置，限位装置设置有按压部，用于施加压力以便将光学传感器芯片限位于安装槽内，按压部遮挡光学传感器芯片的非光敏区域。2. 根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，测试治具还包括：上盖，设置于限位装置的上方，上盖上设置有窗口，用于供光源发射的测试光信号穿过以便到达光学传感器芯片，以及锁止机构，用于根据上盖的驱动锁止或者解锁限位装置；以及测试板还包括：基板，用于支撑测试治具，并分别与测试治具以及数据采集装置电连接，以便将来自测试治具的电信号传输至数据采集装置以用于确定测试结果。3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，限位装置上设置有滑槽；锁止机构包括：顶杆，顶杆的一端与上盖连接以便被上盖驱动，顶杆的另一端与杠杆的一端枢接以便驱动杠杆；杠杆，杠杆的另一端与滑杆枢接以便驱动滑杆沿着滑槽限定的轨迹滑动；以及滑杆，穿设于滑槽内，用于在滑动至滑槽内的第一位置时锁止限位装置，以及在滑动至滑槽内的第二位置时解锁限位装置。4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，锁止机构还包括：弹簧，弹簧的一端抵靠上盖，弹簧的另一端抵靠基座；拉钩，固定于上盖的下方，用于被按压式自锁卡扣锁止或者解锁，以便在被锁止时压缩弹簧以将上盖限制于靠近基座的第三位置，以及在被解锁时使得弹簧伸展，以便伸展的弹簧驱动上盖移动至远离基座的...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛峰博，庄百万，楼天恒，牟林，
申请(专利权)人：大连优迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：