数据采集集成电路测试方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术提供了一种数据采集集成电路测试方法、系统、电子设备及存储介质，所述方法包括通过数据采集端口采集待测试集成电路的故障测试信号；将获取的故障测试信号采用多通道滤波器组自带分析法提取故障特征值；将故障特征值与预制故障词典中的预设值进行比对，以使从预设值中查找出与故障特征值相关联的目标预设值；将目标预设值所映射的故障类型调出，并作为故障测试数据的故障类型输出。本申请通过单一测试节点提取故障测试信号，利用多通道滤波器组进行分解提取故障特征值，将其基于与预制故障词典中的预设值进行比对，以获取故障测试信号的故障类型，从而完成待测试集成电路故障诊断工作的自动测试。障诊断工作的自动测试。障诊断工作的自动测试。

【技术实现步骤摘要】
数据采集集成电路测试方法、系统、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术属于集成电路测试的
，具体地涉及一种数据采集集成电路测试方法、系统、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]集成电路测试技术发展水平的高低直接关系到集成电路的各种性能指标，也代表着集成电路产业的发展水平。测试诊断过程是集成电路测试中的一个最为突出的特点。在完成第一个芯片原型，如果芯片的性能指标没能达到预期效果，那么就必须设置一个特别复杂的测试诊断过程来对电路设计或参数的不足进行修改和完善，或者是直接改进产品工艺来达到生产要求。在生产活动前期，仍然要完成大量的工作为了提高芯片的合格率，诸如测试的诊断，参数的修改等工作，直到所设计的芯片的稳定性达到生产要求才能进行量产。
[0003]集成电路的发展速度突飞猛进，各种新型集成电路相继问世，随之而来的问题是如何有效的测试这些集成电路的有效性，比如产品研发阶段，需要对这些集成电路做大量测试工作以检测其是否满足设计要求；其次在投入使用以后，一旦产生故障，还必须有相应的一套检测设备能够诊断集成电路的故障问题。但是，鉴于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据采集集成电路测试方法，其特征在于，包括：通过数据采集端口采集待测试集成电路的故障测试信号；将获取的所述故障测试信号采用多通道滤波器组自带分析法提取故障特征值；将所述故障特征值与预制故障词典中的预设值进行比对，以使从所述预设值中查找出与所述故障特征值相关联的目标预设值；将所述目标预设值所映射的故障类型调出，并作为所述故障测试数据的故障类型输出。2.根据权利要求1所述的数据采集集成电路测试，其特征在于，所述数据采集端口采用单一测试节点方式采集信号。3.根据权利要求1所述的数据采集集成电路测试，其特征在于，所述将获取的所述故障测试信号采用多通道滤波器组自带分析法提取故障特征值的步骤具体包括：将获取的所述故障测试信号通过模数转换器转换成数字信号；将所述数字信号通过频带滤波器分解成不同频率下的各子带信号；将所述各子带信号在Matlab程序下进行运算获取故障特征值；其中，所述故障特征值包括子带相关系数及相干函数的自相关序列定积分。4.根据权利要求3所述的数据采集集成电路测试，其特征在于，所述频带滤波器具体为余弦调制滤波器，其通过将一个基带原型滤波器进行频谱搬移获得。5.根据权利要求4所述的数据采集集成电路测试，其特征在于，所述子带相关系数通过将测试响应经余弦调制滤波器得到不同频域下的信号，再对该信号进行运算而获取。6.根据权利要求1所述的数据采集集成电路测试，其特征在于，所述预制故障词...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐赟，方安安，
申请(专利权)人：共青科技职业学院，
类型：发明
国别省市：