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本发明提供了一种数据采集集成电路测试方法、系统、电子设备及存储介质，所述方法包括通过数据采集端口采集待测试集成电路的故障测试信号；将获取的故障测试信号采用多通道滤波器组自带分析法提取故障特征值；将故障特征值与预制故障词典中的预设值进行比对，...
该专利属于共青科技职业学院所有，仅供学习研究参考，未经过共青科技职业学院授权不得商用。

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