【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法及相关设备
[0001]本申请属于计算机
,具体涉及一种芯片测试方法、芯片测试装置、计算机可读介质以及电子设备。
技术介绍
[0002]芯片测试是芯片生产制造流程中的重要步骤,传统的芯片测试方法一般会按照固定的测试流程和相同的测试标准对所有芯片进行质量测试。这种完全统一的测试方法忽视了芯片的工艺尺寸、性能、用途等方面存在的差异性,因此会存在一些不相关的或者冗余的测试项目,导致测试成本高、测试效率低、测试准确性差等问题。
技术实现思路
[0003]本申请的目的在于提供一种芯片测试方法、芯片测试装置、计算机可读介质以及电子设备,至少在一定程度上克服相关技术中存在的测试成本高、测试效率低、测试准确性差等技术问题。
[0004]本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然,或部分地通过本申请的实践而习得。
[0005]根据本申请实施例的一个方面,提供一种芯片测试方法,包括:获取用于对芯片进行质量预测的预测模型;根据采集到的测试数据样本以及所述预测模型对当前测试流程进行流程修改, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法,其特征在于,包括:获取用于对芯片进行质量预测的预测模型;根据采集到的测试数据样本以及所述预测模型对当前测试流程进行流程修改,以生成针对待测芯片的适应性测试流程;根据所述适应性测试流程对所述待测芯片进行质量测试,以得到所述待测芯片的质量测试结果;根据所述待测芯片的质量测试结果更新所述测试数据样本,并根据所述待测芯片的质量测试结果更新所述预测模型。2.根据权利要求1所述的芯片测试方法,其特征在于,所述预测模型为长短期记忆网络模型,所述测试数据样本包括实时数据样本、近期数据样本和历史数据样本,所述实时数据样本包括待测芯片的芯片参数,所述近期数据样本包括测试时间与所述待测芯片邻近的已测芯片的芯片参数和测试结果,所述历史数据样本包括测试时间间隔与所述待测芯片超过时间间隔阈值的已测芯片的芯片参数和测试结果。3.根据权利要求1所述的芯片测试方法,其特征在于,根据采集到的测试数据样本以及所述预测模型对当前测试流程进行流程修改,包括:将采集到的测试数据样本输入所述预测模型,以通过所述预测模型对待测芯片进行质量预测,得到所述待测芯片的质量预测结果;根据所述测试数据样本和所述质量预测结果对当前测试流程进行流程修改。4.根据权利要求3所述的芯片测试方法,其特征在于,根据所述测试数据样本和所述质量预测结果对当前测试流程进行流程修改,包括:根据所述测试数据样本和所述质量预测结果修改当前测试流程中的测试阈值范围,所述测试阈值范围包括用于评价芯片测试质量的测试上限值和测试下限值。5.根据权利要求4所述的芯片测试方法,其特征在于,根据所述测试数据样本和所述质量预测结果修改当前测试流程中的测试阈值范围,包括:根据所述测试数据样本和所述质量预测结果确定测试参数平均值;获取预设的标准偏差,所述标准偏差用于表示测试参数偏离所述测试参数平均值的最大程度;修改当前测试流程中的测试阈值范围,以使位于所述测试阈值范围内的测试结果满足所述标准偏差。6.根据权利要求5所述的芯片测试方法,其特征在于,修改当前测试流程中的测试阈值范围,包括:获取预设的最小偏差,所述最小偏差用于表示所述测试阈值范围中的测试上限值和测试下限值之间的最小差值;根据所述测试参数平均值和所述标准偏差确定待定阈值范围;若所述待定阈值范围中的测试上限值和测试下限值之间的差值大于或等于所述最小差值,则根据所述待定阈值范围修改当前测试流程中的测试阈值范围;若所述待定阈值范围中的测试上限值和测试下限值之间的差值小于所述最小差值,则根据所述测试参数平均值和所述最小差值修改当前测试流程中的测试阈值范围。7.根据权利要求3所述的芯片测试方法,其特征在于,根据所述测试数据样本和所述质
量预测结果对当前测试流程进行流程修改,包...
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