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本申请属于计算机技术领域，具体涉及一种芯片测试方法、芯片测试装置、计算机可读介质以及电子设备。该芯片测试方法包括：获取用于对芯片进行质量预测的预测模型；根据采集到的测试数据样本以及所述预测模型对当前测试流程进行流程修改，以生成针对待测芯片的...
该专利属于安徽工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过安徽工程大学授权不得商用。

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