电流表测试装置及测试方法制造方法及图纸

本申请公开了一种电流表测试装置及测试方法，属于测试技术领域。该方法包括获取采样电阻两端的端电压和采样电阻的电流值，并计算得到采样电阻的电阻值；将采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；当总次数到达预设的次数阈值时，将电流表的不通过次数与总次数相除，获得电流表的不合格率；若电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定电流表不合格。也就是说，本申请基于多组采样电阻的端电压和电流值，确定多组测试中采样电阻合格的组次的占比，即可对电流表是否合格进行判断，降低了电流表的筛选难度，提高了电流表的筛选效率。流表的筛选效率。流表的筛选效率。

【技术实现步骤摘要】
电流表测试装置及测试方法


[0001]本申请涉及测试
，尤其涉及一种电流表测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]现有的电流表中的采样电阻一般采用焊接工艺安装在电流表中。在电流表的批量生产过程中，基于焊接工艺所带来的加工误差，使得生产得到的电流表的采样电阻的电阻值与设计的标准电阻值相比，存在偏差，当偏差过大时，会导致电流表的测量误差变大，进而导致更大的电能计量误差。因此，在电流表投入到实际应用前会对其进行校正，剔除校正后测量误差仍大于允许误差范围的电流表。通过根据校正后的电流表的测量误差来剔除不合格的电流表的过程过于复杂，导致不合格电流表的筛选效率低下。

技术实现思路

[0003]本申请的主要目的在于提供一种电流表测试装置及测试方法，旨在解决现有的不合格电流表的筛选效率低下的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本申请提供一种电流表测试方法，包括以下步骤：
[0005]获取采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值；
[0006]根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；
[0007]将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；
[0008]当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率；
[0009]若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。
[0010]可选地，所述电流表测试方法还包括以下步骤：
[0011]获取所述采样电阻的温度值；
[0012]基于所述采样电阻的温度值，对所述采样电阻的电流值进行修正，得到所述采样电阻的修正电流值；
[0013]所述根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值的步骤，包括：
[0014]根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值。
[0015]可选地，所述获取所述采样电阻的温度值的步骤，包括：
[0016]获取所述采样电阻通电状态下的热成像图；
[0017]对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值；
[0018]根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数；
[0019]基于所述温度修正系数对所述采样电阻的计算温度值进行修正，得到所述采样电阻的温度值。
[0020]可选地，所述对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值的步骤，包括：
[0021]将所述采样电阻通电状态下的热成像图分成若干子图；
[0022]对所述子图中的每一像素点进行色值提取处理，得到所述每一像素点的RGB色值；
[0023]对所述每一像素点的RGB色值进行均值聚类，得到R色值、G色值和B色值各自对应的若干个聚类中心；
[0024]根据R色值、G色值和B色值各自对应的若干个聚类中心，计算得到R色值、G色值和B色值各自对应的均值，作为所述子图的RGB色值；
[0025]根据预设的RGB色值与温度值的映射关系，确定所述子图的温度值；
[0026]计算若干所述子图的温度值的平均值，作为所述采样电阻的计算温度值。
[0027]可选地，所述对所述每一像素点的RGB色值进行均值聚类，得到R色值、G色值和B色值各自对应的若干个聚类中心的步骤，包括：
[0028]初始化K个聚类中心；
[0029]将所述每一像素点的R色值或G色值或B色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算；
[0030]将每个聚类集合中所有的R色值或G色值或B色值的均值作为新的聚类中心；
[0031]重复将所述每一像素点的R色值或G色值或B色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算的步骤，以及将每个聚类集合中所有的R色值或G色值或B色值的均值作为新的聚类中心的步骤，直至聚类中心不再发生变化，得到R色值或G色值或B色值对应的若干个聚类中心。
[0032]可选地，所述根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数的步骤，包括：
[0033]计算所述采样电阻通电状态下的图像的面积值，以及所述采样电阻未通电状态下的图像面积值；
[0034]求取所述采样电阻通电状态下的图像的面积值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值的差值，并将所述差值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
[0035]可选地，所述采样电阻上设有若干个特征点，所述根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数的步骤，包括：
[0036]以所述采样电阻通电状态下的图像的中心点和所述采样电阻未通电状态下的图像为原点，构建二维坐标系；
[0037]计算所述采样电阻通电状态下的图像中的特征点与所述采样电阻未通电状态下的图像中相对应的特征点之间的距离，得到若干个所述特征点对应的距离值；
[0038]求取若干个所述特征点对应的距离值的总和值，并将所述总和值与所述采样电阻
未通电状态下的图像的轮廓周长值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
[0039]此外，为实现上述目的，本申请还提供一种电流表测试装置，适用于上述任意一项所述的方法，所述电流表测试装置包括：
[0040]电源接入接口，用于接入工作电源以给采样电阻提供电能；
[0041]电压检测模块，用于检测所述采样电阻两端的端电压；
[0042]电流检测模块，用于检测所述采样电阻的电流值；
[0043]微控制模块，所述微控制模块与所述电压检测模块和所述电流检测模块连接，所述微控制模块用于根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；还用于将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；还用于当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率，若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。
[0044]可选地，所述电流表测试装置还包括：
[0045]温度检测模块，所述温度检测模块与所述微控制模块连接，用于获取所述采样电阻的温度值；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流表测试方法，其特征在于，所述电流表测试方法包括以下步骤：获取采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值；根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率；若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。2.如权利要求1所述的电流表测试方法，其特征在于，所述电流表测试方法还包括以下步骤：获取所述采样电阻的温度值；基于所述采样电阻的温度值，对所述采样电阻的电流值进行修正，得到所述采样电阻的修正电流值；所述根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值的步骤，包括：根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值。3.如权利要求2所述的电流表测试方法，其特征在于，所述获取所述采样电阻的温度值的步骤，包括：获取所述采样电阻通电状态下的热成像图；对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值；根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数；基于所述温度修正系数对所述采样电阻的计算温度值进行修正，得到所述采样电阻的温度值。4.如权利要求3所述的电流表测试方法，其特征在于，所述对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值的步骤，包括：将所述采样电阻通电状态下的热成像图分成若干子图；对所述子图中的每一像素点进行色值提取处理，得到所述每一像素点的RGB色值；对所述每一像素点的RGB色值进行均值聚类，得到R色值、G色值和B色值各自对应的若干个聚类中心；根据R色值、G色值和B色值各自对应的若干个聚类中心，计算得到R色值、G色值和B色值各自对应的均值，作为所述子图的RGB色值；根据预设的RGB色值与温度值的映射关系，确定所述子图的温度值；计算若干所述子图的温度值的平均值，作为所述采样电阻的计算温度值。5.如权利要求4所述的电流表测试方法，其特征在于，所述对所述每一像素点的RGB色值进行均值聚类，得到R色值、G色值和B色值各自对应的若干个聚类中心的步骤，包括：初始化K个聚类中心；
将所述每一像素点的R色值或G色值或B色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算；将每个聚类集合中所有的R色值或G色值或B色值的均值作为新的聚类中心；重复将所述每一像素点的R色值或G色值或B色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算的步骤，以及将每个聚类集合中所有的R色值或G色值或B色值的均值作为新的聚类中心的步骤，直至聚类中心不再发生变化，得到R色值或G色值或B色值对应的若干个聚类中心。6.如权利要求3所述的电流表测试方法，其特征在于，所述根据所述采样电阻通电...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄想念，奚月娇，余超，
申请(专利权)人：深圳市研测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：