无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法技术

本发明专利技术涉及一种无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，用于测试设备和测试操作的校准，测试设备具有干扰发送天线、监视天线和位置天线，该方法包括信号发生器的校准；射频部件增益误差校准；位置天线校正，并在使用时，将所述信号发生器运行参数与所述运行增益校正数据文件装入测试设备，用于测试时调用。由于设备批量制造时存在个体差异性，然而，通过本发明专利技术的校准方法形成的校准数据或文件，能确保信号源在测试设备中的一致性，有效地消除器件本身误差带来的影响，提高测试结果准确性，提高测试过程和结果一致性，提高测试结果可靠度，适宜当前譬如蓝牙耳机抗干扰测试设备中的快速批量化测试且一致性的要求。快速批量化测试且一致性的要求。快速批量化测试且一致性的要求。

【技术实现步骤摘要】
无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法


[0001]本专利技术涉及无线信号测试
，具体涉及一种无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法。

技术介绍

[0002]在量产无线传输抗干扰设备，例如，批量生产出本申请人提交名称为“无线传输信号抗干扰测试设备及方法”的专利技术专利申请以及名称为“无线传输信号抗干扰测试设备”的技术专利申请涉及的测试设备时，因各个零部件都存在各种误差，包括诸如信号发生器，衰减器，放大器，滤波器，天线，以及屏蔽箱等，不同批次量产的器件存在或多或少的误差。所以要针对测试设备以上各零部件的实测值，针对性的消除各个零部件的误差，从而保证每套设备测试结果一致。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，提供一种无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，其能有效减小测试设备本身的误差影响，有效消除器件误差对信号源的影响，以及提高测试结果准确性，提高测试过程和结果一致性，提高测试结果可靠度。
[0004]一种无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，用于测试设备本机校准，测试设备包含干扰发送天线、监视天线和位置天线，该方法包括以下步骤：S10，信号发生器的校准：确定好干扰频谱密度，控制电平使信号发生器产生定点输出频点信号，同步监测频谱信号调整微调控制电平，使频谱信号移动至预定频点上，记录对应各个频点的电平数据，形成信号发生器运行参数，预定频点包括最大频点值和最小频点值；S20，射频部件增益误差校准，包括以下分步骤：S21，将信号发生器按照实测组装连接好，根据步骤S10获得的信号发生器运行参数控制电平，从衰减值0DB起始，控制波形频率在预定范围内按最小间隔频点连续运行，同步接收频谱仪数据生成对应衰减的干扰强度曲线，然后将衰减量按照预定DB差值，重复以上步骤生成连续完整衰减图数据；S22，生成标准干扰强度运行斜线；S23，将标准干扰强度运行斜线与实测衰减数据进行计算，得到运行增益校正数据文件，增益校正完成；S24，测试设备按运行增益校正数据文件运行，通过监视天线监视到第一干扰强度曲线最大程度接近标准干扰强度运行斜线，以满足不同设备的测量精度一致性要求；S30，位置天线校正：将位置天线替换掉监测天线130连接至频谱仪，控制校正设备按所述运行增益校正数据文件参数运行，得到与位置天线对应的第二干扰强度曲线，使第二干扰强度曲线最大程度接近标准干扰强度运行斜线，调整位置天线的位置使得位置天线测量到的第二干扰强度曲线与监视天线测量到的第一干扰强度曲线重合，确定位置天线的
位置，位置天线校正完成。
[0005]在上述三步骤校正完成后，进一步将所述信号发生器运行参数与所述运行增益校正数据文件装入被校正的无线传输信号抗干扰测试设备，用于测试时调用。
[0006]其中，步骤S10具体包括如下步骤：S11，确定干扰频谱密度最小值到最大值，通过调整计算机控制电平，使信号发生器产生定点输出频点信号；S12，同步监测频谱信号，微调控制电平，使频谱信号移动至2.4G 频点上，记录电平数据此为起点值电平，重复以上步骤，使频谱信号移动在 2.5G 频点上，记录此时电平数据为终点值电平，存储形成所述信号发生器运行参数；S13，控制信号发生器在2.4G
‑
2.5G内产生三角波或梯形波，发出干扰频谱信号，使波形起点电平和终点电平分别设为所述起点值电平和终点值电平。
[0007]优选地，在步骤S20中的衰减量按
‑
0.25 DB 间隔，重复以上所述步骤S21，连续运行直至衰减量到
‑
32DB，得到连续完整衰减图数据。
[0008]优选地，在步骤S20中的波形频率从0到5000按最小间隔频点连续运行，同步接收频谱仪数据，从而生成各衰减值对应的所述干扰强度曲线。
[0009]步骤S22中的标准干扰强度运行斜线是干扰强度随控制波形频率变化的频谱密度/幅度变化的线性斜线，优选为0到最大值0.4之间的变化斜线。
[0010]在步骤S23中，将标准干扰强度运行斜线与实测衰减数据进行计算具体操作如下：将标准干扰强度运行斜线与不同衰减值下的实测数据曲线的衰减图进行比较，计算标准干扰强度运行斜线上每点相对于各实测干扰强度曲线的衰减量，形成运行增益校正数据文件，测试时调用。
[0011]在步骤S30中，所述位置天线与被测试产品位置一致并同步运动，通过移动调整所述位置天线的位置和/或角度，使得位置天线测量到的第二干扰强度曲线与监视天线测量到的第一干扰强度曲线重合，确定位置天线的位置。
[0012]在优选的实施方案中，干扰发送天线和位置天线相对角度为85
‑
95度，所述干扰发送天线为竖直状并位于测试设备的宽度中心位置，与位置天线距离 110
‑
130cm，所述位置天线高度为50
‑
70cm。
[0013]本专利技术提供的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法至少具有以下优点：1、由于测试设备在量产时，各个零部件都存在各种误差，这种误差对信号有较大影响，直接影响测试设备的测试效果，通过本专利技术的校准方法，能够有效地消除测试设备中零部件自身误差对干扰信号产生的影响；2、本校准方法能有效减小测试设备本机的误差影响，有效消除器件误差对信号源的影响，从而提高测试结果准确性，提高测试过程和结果一致性，提高测试结果可靠度，最终保证每套测试设备测试结果一致性。
[0014]3、测试设备经过校准后使用，提高批量化测试结果可靠度，实现批量化测试，为批量生产的被测试产品如耳机进行准确评估，提供了便利和有效的保障。
附图说明
[0015]图1是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法流程示意图。
[0016]图2是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法应用的测试设备结构示意图。
[0017]图3是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法中信号发生器产生的三角波及发出的干扰频谱示意图。
[0018]图4是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法应用的测试设备电气连接结构示意图。
[0019]图5是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法在校准时的设备结构示意图。
[0020]图6是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法中在扫频频率940HZ 下间隔衰减下的各级干扰频谱曲线示意图。
[0021]图7是本专利技术实施例的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法中采用的标准干扰强度运行斜线示意图。
具体实施方式
[0022]以下将结合具体实施例和附图对本专利技术进行详细说明。
[0023]请结合图2参阅图1，示出本专利技术的实施例提供的一种无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，用于测试设备本机校准，测试设备100具有干扰发送天线130、监视天线120和位置天线140，该方法包括以下步骤：S10，信号发生器的校准；S20，射频部件增益误差校准；S30，位置天线校正。
[0024]本专利技术实施例还包括步骤S40，即，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，用于测试设备和测试操作的校准，所述测试设备具有干扰发送天线、监视天线和位置天线，其包括以下步骤：S10，信号发生器的校准：确定好干扰频谱密度，控制电平使信号发生器产生定点输出频点信号，同步监测频谱信号调整微调控制电平，使频谱信号移动至预定频点上，记录对应各个频点的电平数据，形成信号发生器运行参数，预定频点包括最大频点值和最小频点值；S20，射频部件增益误差校准，包括以下分步骤：S21，将信号发生器按照实测组装连接好，根据步骤S10获得的信号发生器运行参数控制电平，从衰减值0DB起始，控制波形频率在预定范围内按最小间隔频点连续运行，同步接收频谱仪数据生成对应衰减的干扰强度曲线，然后将衰减量按照预定DB差值，重复以上步骤生成连续完整衰减图数据；S22，生成标准干扰强度运行斜线；S23，将标准干扰强度运行斜线与实测衰减数据进行计算，得到运行增益校正数据文件，增益校正完成；S24，测试设备按运行增益校正数据文件运行，通过监视天线监视到第一干扰强度曲线最大程度接近标准干扰强度运行斜线，以满足不同设备的测量精度一致性要求；S30，位置天线校正：将位置天线替换掉监测天线130连接至频谱仪，控制校正设备按所述运行增益校正数据文件参数运行，得到与位置天线对应的第二干扰强度曲线，使第二干扰强度曲线最大程度接近标准干扰强度运行斜线，调整位置天线的位置使得位置天线测量到的第二干扰强度曲线与监视天线测量到的第一干扰强度曲线重合，确定位置天线的位置，位置天线校正完成。2.如权利要求1所述的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，其特征在于，在上述三步骤校正完成后，进一步将所述信号发生器运行参数与所述运行增益校正数据文件装入被校正的无线传输信号抗干扰测试设备，用于测试时调用。3.如权利要求1所述的无线传输信号抗干扰测试设备的校准方法，其特征在于，其中，步骤S10具体包括如下步骤：S11，确定干扰频谱密度最小值到最大值，通过调整计算机控制电平，使信号发生器产生定点输出频点信号；S12，同步监测频谱信号，微调控制电平，使频谱信号移动至2.4G 频点上，记录电平数据此为起点值电平，重复以上步骤，使频谱信号移动在 2.5G 频点上，记录此时电平数据为终点值...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫祁，
申请(专利权)人：深圳百讴声学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：