本实用新型专利技术提供一种芯片测试装置，包括工作台、测试盒、探针阵列、顶板、顶升控制机构、移动控制机构和容纳槽，测试盒和探针阵列分别设置在工作台上，且探针阵列与测试盒电连接，顶板在Z轴方向上位于探针阵列的下方，顶升控制机构可控制顶板在Z轴方向上移动，移动控制机构可控制顶板在Y轴方向上移动，容纳槽设置在顶板上，且容纳槽内填充有酒精。本实用新型专利技术芯片测试装置能够自动化对探针阵列进行清洁和降温，从而提高测试工作效率，且自动化程度高，能够有效降低人工的工作强度。能够有效降低人工的工作强度。能够有效降低人工的工作强度。
【技术实现步骤摘要】
芯片测试装置
[0001]本技术涉及芯片性能测试
，尤其是涉及一种芯片测试装置。
技术介绍
[0002]随着科学技术的进步，在芯片的性能方面，相关行业提出了很高的要求，很大程度上促进了芯片的发展，而芯片的可靠性在实际应用过程中具有至关重要的作用，芯片的可靠性往往被用来评估产品能否在规定条件下和规定时间内完成特定的功能。
[0003]芯片的可靠性测试主要是通过探针对芯片施加电流，探针通过控制系统与显示屏电性相连，显示屏上显示相关检测数据，以完成对芯片的性能测试。随着探针的持续长时间工作，探针的温度会持续上升，探针的电阻随温度的升高而升高，从而造成芯片性能测试的结果不准确，且高温探针在进行芯片测试时容易造成短路，导致芯片被烧坏。然而，现有对探针进行降温的方式是控制探针停止测试工作一段时间，使得停止工作的探针在室温下慢慢降温，导致探针的工作效率低下。另外，由于探针外露设置，在测试工作前或者工作一段时间后需要对探针进行清洁以确保测试结果的准确性，但是现有清洁方式是通过人工手动完成，增强了人工的工作强度，降低了工作效率。
技术实现思路
[0004]本技术的主要目的是提供一种能够降低人工工作强度、提高工作效率且测试精确度高的芯片测试装置。
[0005]为了实现上述技术的主要目的，本技术提供一种芯片测试装置，包括工作台、测试盒、探针阵列、顶板、顶升控制机构、移动控制机构和容纳槽，测试盒和探针阵列分别设置在工作台上，且探针阵列与测试盒电连接，顶板在Z轴方向上位于探针阵列的下方，顶升控制机构可控制顶板在Z轴方向上移动，移动控制机构可控制顶板在Y轴方向上移动，容纳槽设置在顶板上，且容纳槽内填充有酒精。
[0006]由以上方案可见，将待测试电路板放置在顶板上，移动控制机构控制顶升控制机构和顶板带动待测试电路板在Y轴方向上移动至探针阵列的正下方，随后顶升控制机构控制顶板带动待测试电路板在Z轴方向上向上移动，使得探针阵列与电路板上的芯片施加电流，从而对芯片进行性能测试，相关检测数据通过测试盒显示。当需要对探针阵列进行清洁以及降温时，移动控制机构控制顶升控制机构和顶板带动容纳槽在Y轴方向上移动至探针阵列的正下方，接着顶升控制机构控制顶板带动容纳槽在Z轴方向上向上移动，使得探针阵列插入容纳槽内，从而探针阵列浸泡在容纳槽内的酒精中，容纳槽内的酒精对探针阵列进行消毒灭菌清洁，并对探针阵列进行物理降温，从而确保探针阵列的测试准确性，进而提高测试精确度。本技术芯片测试装置能够自动化对探针阵列进行清洁和降温，从而提高测试工作效率，且自动化程度高，能够有效降低人工的工作强度。
[0007]进一步的方案是，芯片测试装置还包括海绵，海绵放置在容纳槽内。
[0008]进一步的方案是，芯片测试装置还包括喷嘴，喷嘴的进液端与酒精存储腔相连通，
喷嘴的出液端在Z轴方向上位于容纳槽的上方。
[0009]进一步的方案是，顶升控制机构为顶升气缸，顶升气缸的活塞杆在Z轴方向上延伸并与顶板连接。
[0010]进一步的方案是，顶板设置有在Z轴方向上延伸的滑轨，工作台上设置有滑块，滑轨可在Z轴方向上移动地与滑块配合。
[0011]进一步的方案是，探针阵列通过平板安装在工作台上，平板上设置有止动螺栓，止动螺栓在Z轴方向上位于顶板的上方，且顶板可抵压在止动螺栓的聚氨酯端。
[0012]更进一步的方案是，移动控制机构包括移动板、移动电机、移动丝杆和移动螺母，移动丝杆在Y轴方向上延伸，移动电机安装在工作台上并控制移动丝杆绕Y轴旋转，移动螺母可在Y轴方向上移动地套设在移动丝杆上，移动板安装在移动螺母上，顶升控制机构和顶板设置在移动板上。
[0013]更进一步的方案是，工作台上设置有第一光电感应器，第一光电感应器位于移动丝杆在Y轴方向上的第一端，且第一光电感应器开设有第一过槽，移动板上设置有第一分割片，第一分割片在Y轴方向上可移动地插入第一过槽内；和/或，工作台上设置有第二光电感应器，第二光电感应器位于移动丝杆在Y轴方向上的第二端，且第二光电感应器开设有第二过槽，移动板上设置有第二分割片，第二分割片在Y轴方向上可移动地插入第二过槽内。
[0014]更进一步的方案是，芯片测试装置还包括治具板和调节机构，治具板设置在顶板上，调节机构可调节治具板在X轴方向上的位置，治具板凸出设置有两个定位销，两个定位销关于治具板的中心线对角设置。
[0015]更进一步的方案是，调节机构包括第一固定板、第二固定板、锁紧板、锁紧螺栓和微调千分杆，第一固定板安装在顶板上，治具板安装在第二固定板上，第一固定板在Z轴方向上远离顶板的端面凸出设置有凸台，凸台在X轴方向上延伸，第二固定板可在X轴方向上移动地设置在第一固定板上，第二固定板在Z轴方向上靠近第一固定板的端面开设有凹槽，凸台位于凹槽内，锁紧板设置在第一固定板的第一侧面，锁紧板开设有腰型槽，腰型槽在X轴方向上延伸，第二固定板的第一侧面开设有螺纹孔，锁紧螺栓可穿过腰型槽与螺纹孔连接，第一固定板在Y轴方向上与第一固定板第一侧面相对设置的第二侧面设置有微调千分杆，第二固定板在Y轴方向上与第二固定板第一侧面相对设置的第二侧面设置有挡块，微调千分杆可迫使挡块在X轴方向上移动。
附图说明
[0016]图1是本技术芯片测试设备实施例的第一视角结构图。
[0017]图2是本技术芯片测试设备实施例的第二视角结构图。
[0018]图3是本技术芯片测试设备实施例的局部结构图。
[0019]图4是本技术芯片测试设备实施例中移栽机构的结构图。
[0020]图5是本技术芯片测试设备实施例中移栽机构的第一视角局部结构图。
[0021]图6是本技术芯片测试设备实施例中移栽机构的第二视角局部结构图。
[0022]图7是本技术芯片测试设备实施例中勾板机构、输送装置和推板机构配合的结构图。
[0023]图8是本技术芯片测试设备实施例中勾板机构的结构图。
[0024]图9是本技术芯片测试设备实施例中勾板机构的局部结构分解图。
[0025]图10是本技术芯片测试设备实施例中输送装置的结构图。
[0026]图11是本技术芯片测试设备实施例中输送装置的剖视图。
[0027]图12是本技术芯片测试设备实施例中翻转机构的结构图。
[0028]图13是本技术芯片测试设备实施例中芯片测试装置的第一视角结构图。
[0029]图14是本技术芯片测试设备实施例中芯片测试装置的第二视角结构图。
[0030]图15是本技术芯片测试设备实施例中调节机构的结构图。
[0031]图16是本技术芯片测试设备实施例中调节机构的分解图。
[0032]图17是本技术芯片测试设备实施例中搬运打标装置的结构图。
[0033]图18是本技术芯片测试设备实施例中真空吸嘴、第一悬杆和第二悬杆配合的结构图。
[0034本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.芯片测试装置，包括工作台、测试盒和探针阵列，所述测试盒和所述探针阵列分别设置在所述工作台上，且所述探针阵列与所述测试盒电连接，其特征在于：所述芯片测试装置还包括顶板、顶升控制机构、移动控制机构和容纳槽，所述顶板在Z轴方向上位于所述探针阵列的下方；所述顶升控制机构可控制所述顶板在Z轴方向上移动，所述移动控制机构可控制所述顶板在Y轴方向上移动；所述容纳槽设置在所述顶板上，且所述容纳槽内填充有酒精。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述芯片测试装置还包括海绵，所述海绵放置在所述容纳槽内。3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述芯片测试装置还包括喷嘴，所述喷嘴的进液端与酒精存储腔相连通，所述喷嘴的出液端在Z轴方向上位于所述容纳槽的上方。4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述顶升控制机构为顶升气缸，所述顶升气缸的活塞杆在Z轴方向上延伸并与所述顶板连接。5.根据权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于：所述顶板设置有在Z轴方向上延伸的滑轨，所述工作台上设置有滑块，所述滑轨可在Z轴方向上移动地与所述滑块配合。6.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述探针阵列通过平板安装在所述工作台上，所述平板上设置有止动螺栓，所述止动螺栓在Z轴方向上位于所述顶板的上方，且所述顶板可抵压在所述止动螺栓的聚氨酯端。7.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述移动控制机构包括移动板、移动电机、移动丝杆和移动螺母，所述移动丝杆在Y轴方向上延伸，所述移动电机安装在所述工作台上并控制所述移动丝杆绕Y轴旋转，所述移动螺母可在Y轴方向上移动地套设在所述移动丝杆上；所述移动板安装在所述移动螺母上，所述顶升控制机构和所述顶板设置在所述移动板上。8.根据权利要求7所述的芯片测试装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：李卫彤，陈荣，张欢欢，朱小龙，
申请(专利权)人：和氏工业技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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