本发明专利技术公开了一种电源管理芯片电控性能检测装置，包括底座，底座内设置有用于收集芯片的收纳机构，底座上侧设置有检测箱，检测箱内设置有用于检测芯片电控性能的检测机构；本发明专利技术通过转动的皮带带动芯片由上至下运动，当芯片向下运动至引脚与供电触点以及三个导电块接触时，则芯片引脚向导电块输出电压，使得主动触点与从动触点抵接，若芯片正常工作，引脚使得三个主动触点均与从动触点抵接，则第一电磁铁才会得电，以此使得右侧的收纳腔向左运动至芯片腔下侧，从而收集正常工作的芯片，若芯片无法正常工作，则反之，使得左侧的收纳腔收集无法正常工作的芯片，从而实现了芯片大批量快速检测，极大的提高了芯片检测效率。极大的提高了芯片检测效率。极大的提高了芯片检测效率。
【技术实现步骤摘要】
一种电源管理芯片电控性能检测装置
[0001]本专利技术涉及电源管理芯片检测设备相关
，具体为一种电源管理芯片电控性能检测装置。
技术介绍
[0002]电源管理芯片，是在电子设备系统中担负起对电能的变换、分配、检测及其他电能管理的职责的芯片。
[0003]电源管理芯片的电控性能关系到电源输电是否正常，影响电子设备系统运行是否安全，目前的电源管理芯片检测主要依靠人工利用万能表进行，通过检测芯片各个引脚之间的电压值以及其电变量来判定芯片是否能正常工作，以此判断芯片的电控性能，而这种检测方法效率低，而且对检测人员的专业知识需要较高的要求，从而不适用于大批量检测。
技术实现思路
[0004]鉴于以上内容，有必要提供一种电源管理芯片电控性能检测装置。
[0005]本专利技术提供的一种电源管理芯片电控性能检测装置，包括底座，所述底座内设置有用于收集芯片的收纳机构，所述底座上侧设置有检测箱，所述检测箱内设置有用于检测芯片电控性能的检测机构；所述收纳机构包括设置于所述底座内的滑板，所述滑板上端面固定有两个左右对称的收纳盒，所述滑板左侧设置有第一电磁铁，所述第一电磁铁与所述滑板之间固定有第一弹簧；所述检测机构包括三个检测座，所述检测箱内设有开口向右的检测座腔，三个所述检测座均与所述检测座腔滑动配合，三个所述检测座内均设置有导电块，三个所述导电块右侧均设置有第二电磁铁，三个所述第二电磁铁右侧均设置有主动触点，三个所述主动触点右侧均设置有从动触点，三个所述从动触点内均螺纹配合有丝杆。
[0006]一实施例中，所述底座内设有开口向上的滑板腔，所述滑板与所述滑板腔之间形成一对滑动副，二个所述收纳盒内均设有开口向上的收纳腔，所述第一电磁铁固定于所述滑板腔左端壁内，左侧的所述收纳腔用于收集无法正常工作的芯片，右侧的所述收纳腔用于收集正常工作的芯片。
[0007]一实施例中，三个所述检测座内均设有开口向左的导电块腔，三个所述导电块腔右侧均设置有触点腔，三个所述导电块分别与对应侧的所述导电块腔滑动配合，三个所述导电块右端面分别与对应侧的所述导电块腔底壁之间固定有第二弹簧，通过所述第二弹簧的弹力，以及所述导电块左端面的部分斜面，使得芯片引脚能够轻松的与所述导电块抵接。
[0008]一实施例中，三个所述第二电磁铁分别固定于对应侧的所述触点腔左端面上，三个所述主动触点、三个所述从动触点均分别与对应侧的所述触点腔滑动配合，三个所述第二电磁铁分别与对应侧的所述主动触点之间固定有第三弹簧，三个所述主动触点内均设有左右贯通的丝杆通腔，三个所述丝杆左侧部分均向左延伸贯穿对应侧的所述丝杆通腔，右
侧部分向右延伸至对应侧的所述检测座外，三个所述丝杆右侧末端均固定有调节盘，通过所述调节盘的转动，从而实现调整所述从动触点与所述主动触点之间的间距，以此调节所述主动触点与所述从动触点抵接时所述第二电磁铁所需的得电量。
[0009]一实施例中，所述检测箱内设有上下贯通的芯片腔，所述芯片腔右侧连通设有两个前后对称的引脚腔，二个所述引脚腔均上下贯通所述检测座，前侧的所述引脚腔右端与所述检测座腔连通设置，三个所述导电块位于前侧的所述引脚腔内，后侧的所述引脚腔右端壁上固定有供电触点，所述供电触点用于给芯片电源引脚供电。
[0010]一实施例中，所述芯片腔左侧连通设有皮带腔，所述皮带腔后端壁内转动配合有三个上下等距分布的带轮轴，三个所述带轮轴前侧部分均向前延伸贯穿所述皮带腔至所述皮带腔前端壁内，三个所述带轮轴上均固定有位于所述皮带腔内的带轮，三个所述带轮之间动力配合有皮带，所述皮带腔后侧设有与所述检测箱固设的电机，所述电机位于上侧的所述带轮后侧，上侧的所述带轮轴后端与所述电机动力连接，通过所述电机能够带动所述皮带转动，利用所述皮带与芯片之间的摩擦力带动芯片由上至下运动。
[0011]一实施例中，所述检测箱外周上固定有支撑板，所述支撑板与所述底座之间固定有四个矩形分布的支撑杆，三个所述调节盘右端面上刻有数值，三个所述检测座右端面上刻有位于所述调节盘外侧的指针，所述调节盘右端面上的数值代表对应引脚的输出电压。
[0012]一实施例中，所述检测座腔前侧设有限位块腔，所述内滑动配合有限位块，所述限位块后端面与所述限位块腔底壁之间固定有限位弹簧，所述限位块前端面固定有向前延伸至所述检测箱外的限位杆，所述限位杆与所述检测箱之间滑动配合。
[0013]本专利技术的有益效果是：本专利技术通过芯片型号调整三个检测座的位置，使得导电块的位置分别对应于芯片具有输出电压的引脚位置，而供电触点的位置与芯片电源引脚的位置相对应，再转动调节盘，使得检测座右端面上的指针直线对应引脚的输出电压值，通过限位块固定三个检测座的位置，利用转动的皮带带动芯片由上至下运动，当芯片向下运动至引脚与供电触点以及三个导电块接触时，则芯片引脚向导电块输出电压，使得第二电磁铁得电，进而使得主动触点与从动触点抵接，若芯片正常工作，引脚使得三个主动触点均与从动触点抵接，则第一电磁铁才会得电，以此使得右侧的收纳腔向左运动至芯片腔下侧，从而收集正常工作的芯片，若芯片无法正常工作，则三个主动触点中至少有一个无法与从动触点抵接，则第一电磁铁无法得点，使得左侧的收纳腔依旧位于芯片腔下侧，以此收集无法正常工作的芯片，从而实现了芯片大批量快速检测，极大的提高了芯片检测效率。
附图说明
[0014]图1是本专利技术的外观示意图；图2是本专利技术的一种电源管理芯片电控性能检测装置整体结构示意图；图3是本专利技术图2中A
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A的示意图；图4是本专利技术图2中B
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B的示意图；图5是本专利技术图2中检测座的局部放大示意图；图6是本专利技术图5中调节盘的左视示意图。
[0015]图中：10、底座；11、支撑杆；12、检测箱；13、支撑板；14、带轮轴；15、皮带；16、带轮；17、皮
带腔；18、芯片腔；19、引脚腔；20、检测座腔；21、检测座；22、滑板腔；23、滑板；24、收纳腔；25、收纳盒；26、第一弹簧；27、第一电磁铁；28、电机；29、供电触点；30、限位块；31、限位块腔；32、限位弹簧；33、限位杆；34、导电块；35、导电块腔；36、第二弹簧；37、第二电磁铁；38、主动触点；39、触点腔；40、调节盘；41、丝杆；42、丝杆通腔；43、第三弹簧；44、从动触点。
具体实施方式
[0016]为了使本专利技术的目的及优点更加清楚明白，以下结合实施例对本专利技术进行具体说明，应当理解为以下文字仅仅用以描述本专利技术的一种或几种具体的实施方式，并不对本专利技术具体请求的保护范围进行严格限定，如在本文中所使用，术语上下和左右不限于其严格的几何定义，而是包括对于机加工或人类误差合理和不一致性的容限，下面详尽说明该一种电源管理芯片电控性能检测装置的具体特征：参照图1
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图6，根据本专利技术的实施例的一种电源管理芯片电控性能检测装置，包括底座10，所述底座10内设置有用于收集芯片的收纳机构，所述底座10上侧设置有检测箱12，所述检测箱12内设置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电源管理芯片电控性能检测装置，包括底座（10），其特征在于：所述底座（10）内设置有用于收集芯片的收纳机构，所述底座（10）上侧设置有检测箱（12），所述检测箱（12）内设置有用于检测芯片电控性能的检测机构；所述收纳机构包括设置于所述底座（10）内的滑板（23），所述滑板（23）上端面固定有两个左右对称的收纳盒（25），所述滑板（23）左侧设置有第一电磁铁（27），所述第一电磁铁（27）与所述滑板（23）之间固定有第一弹簧（26）；所述检测机构包括三个检测座（21），所述检测箱（12）内设有开口向右的检测座腔（20），三个所述检测座（21）均与所述检测座腔（20）滑动配合，三个所述检测座（21）内均设置有导电块（34），三个所述导电块（34）右侧均设置有第二电磁铁（37），三个所述第二电磁铁（37）右侧均设置有主动触点（38），三个所述主动触点（38）右侧均设置有从动触点（44），三个所述从动触点（44）内均螺纹配合有丝杆（41）。2.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片电控性能检测装置，其特征在于：所述底座（10）内设有开口向上的滑板腔（22），所述滑板（23）与所述滑板腔（22）之间形成一对滑动副，二个所述收纳盒（25）内均设有开口向上的收纳腔（24），所述第一电磁铁（27）固定于所述滑板腔（22）左端壁内。3.根据权利要求2所述的一种电源管理芯片电控性能检测装置，其特征在于：三个所述检测座（21）内均设有开口向左的导电块腔（35），三个所述导电块腔（35）右侧均设置有触点腔（39），三个所述导电块（34）分别与对应侧的所述导电块腔（35）滑动配合，三个所述导电块（34）右端面分别与对应侧的所述导电块腔（35）底壁之间固定有第二弹簧（36）。4.根据权利要求3所述的一种电源管理芯片电控性能检测装置，其特征在于：三个所述第二电磁铁（37）分别固定于对应侧的所述触点腔（39）左端面上，三个所述主动触点（38）、三个所述从动触点（44）均分别与对应侧的所述触点腔（39）滑动配合，三个所述第二电磁铁（37）分别与对应侧的所述主动触点（38）之间固定有第三弹簧（43），三个所述主动触点（38）内均设有左右贯通的丝杆通腔...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐春梅，
申请(专利权)人：南通格普微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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