一种大电流三针测试探针用卡簧机制造技术

技术编号:34264534 阅读:22 留言:0更新日期:2022-07-24 14:36
本发明专利技术公开了一种大电流三针测试探针用卡簧机,包括支撑台,所述支撑台的下侧设置有定位机构和三个卡簧铆压机构,三个所述卡簧铆压机构位于定位机构的外侧,所述定位机构内设置有三个装卡簧机构,所述支撑台的上侧设置有压紧机构。该大电流三针测试探针用卡簧机,解决了现有三个半导体测试探针难以同时进行弹簧安装的问题。簧安装的问题。簧安装的问题。

A circlip machine for high current three pin test probe

【技术实现步骤摘要】
一种大电流三针测试探针用卡簧机


[0001]本专利技术属于半导体加工设备
,具体涉及一种大电流三针测试探针用卡簧机。

技术介绍

[0002]半导体测试探针是一种应用非常广泛的微型链接器,广泛应用于医疗、微电子、光电类等领域。
[0003]现有半导体测试探针可以单独使用,也可以将多个组装在一起使用,例如常用的就有将三个半导体测试探针装配在一起使用。将三个半导体测试探针组装在一起使用的时候,需要安装三个弹簧,若一个一个安装将大大降低生产效率,同时也会对安装好的其他探针上的弹簧造成影响,因此设计一款可同时完成三个探针的弹簧安装将变得十分需要。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种大电流三针测试探针用卡簧机,解决现有三个半导体测试探针难以同时进行弹簧安装的问题。
[0005]为了达到上述目的,本专利技术所采用的第一种技术方案是:一种大电流三针测试探针用卡簧机,包括支撑台,所述支撑台的下侧设置有定位机构和三个卡簧铆压机构,三个所述卡簧铆压机构位于定位机构的外侧,所述定位机构内设置有三个装卡簧机构,所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大电流三针测试探针用卡簧机,其特征在于,包括支撑台(1),所述支撑台(1)的下侧设置有定位机构和三个卡簧铆压机构,三个所述卡簧铆压机构位于定位机构的外侧,所述定位机构内设置有三个装卡簧机构,所述支撑台(1)的上侧设置有压紧机构。2.根据权利要求1所述的大电流三针测试探针用卡簧机,其特征在于,所述定位机构包含定位板(12),所述定位板(12)的下侧设置有连接板(11),所述连接板(11)上设置有上卡盘(10),所述上卡盘(10)的下侧设置有连接轴(19),所述连接轴(19)的下端设置有下卡盘(8),所述上卡盘(10)和下卡盘(8)上均设置有三个卡槽,下卡盘(8)的三个卡槽中均设置有卡条(7),三个卡条(7)的下端设置有底盘(6);所述定位板(12)内设置有装夹孔,连接板(11)的外沿设置有三个通孔。3.根据权利要求2所述的大电流三针测试探针用卡簧机,其特征在于,所述装卡簧机构包含卡簧限位板(9),所述卡簧限位板(9)内设置有竖向...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁崇亮张飞龙付盼红
申请(专利权)人:渭南木王智能科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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