一种测试运算放大器失调电压类别的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例公开了一种测试运算放大器失调电压类别的装置，包括：失调电压获取单元，其输入端具有与所述被测运放芯片接口相匹配的通用接口，其输出端与所述失调电压比较单元电连接；失调电压比较单元，设有与所述失调电压相比较的基准电压，其另一端作为比较结果的输出端与类别判断单元电连接；类别判断单元，存有与比较结果相应的类别信息，其另一端作为类别结果的输出端与类别结果输出单元电连接；类别结果输出单元，与所述类别判断单元电连接，以呈现所述类别结果。本实用新型专利技术实施例能够降低大量的人力成本，从而提高了运放芯片失调电压类别分类的效率及精确度。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术电子
，尤其涉及一种用于测试运算放大器失调电压 类别的装置。
技术介绍
运算放大器(简称"运放")的作用是调节和放大模拟信号。理论上，如果运放两个输入端上的电压均为ov,则输出端电压也应该等于ov。但事实上由于制造工艺问题，两个输入通路不可能完全匹配，即当输入电压Vi为零时， 输出电压v。并不为零。这相当于在两输入通路完全匹配运放的输入端串有一电 压源Ui。运放，因此运放输出端总有一些电压，通常将该电压称为失调电压Vio。 所述失调电压Vio过大会^f吏积分器直流开环，或者会影响电路的运算精度。特 别是在放大、积分电路中，微小的失调电压也会引起整个电路的数据不稳定、 和/或信号精度严重偏移等问题。因此生产或使用运放芯片的工厂往往需要对 运放进行失调分类，即通过计算运放芯片的失调电压，对所述失调电压进行 不同等级的分类，以便在不同的电路中使用不同等级的运放，进而保证设计 电路或设计产品的精度。目前，对运放芯片的失调分类主要通过人工的方式来进行。其方法通常 为在被测运放输入的正、负端之间串联一颗固定电阻Rl，然后在输入端正 极和GND之间、输入端负极和输出端之间各串联一颗等阻值的固定电阻R2、 R3(其中R2 = R3 = Rf)。通过高精度的万用表读取所述运放输出端的电压值 V。，该值即为经过放大一定倍数后的运放失调电压值，所述倍数为2*Rf/Rl。 然后根据VQ=( 2*Rf/Rl) *Vio计算出该运放的失调电压Vio。请参阅图1，其为运放芯片分类筛选的功能原理图。下面以四路运放芯片 TL064的一路放大通路为例举例说明运放芯片分类筛选的工作原理。(l)计算所述运放的失调电压Vio:首先在确保已经为运放芯片正确供电的情况下，在运放输入的正、负端之间串联一颗固定电阻100欧姆，然后在输入端正极和GND之间、输入端负极和输出端之间各串联一颗15k欧姆的电 阻，通过(2+Rf/Rl)的计算，图1所示的该适放的一路失调电压被放大了 300 倍。通过高精度的万用表准确测量到运放输出端的电压值V(l，然后再根据 V0=( 2*Rf/Rl) *Vio计算出该运放的失调电压Vio。(2 )根据所述运放的失调电压Vio的值来查找运放分类表，即可确定所 述运放芯片这一路所属的类别。通路的失调电压，并根据运放分类表分别查找到所述三路运放对应的类别。最后再通过判断所述运放芯片的四路失调类别是否属于同一类别来确定所述运放芯片是否合格。可见，上述对运放器件的失调电压的分类需要人工通过大量的电子器件、 以及如万用表等测量仪器才能进行运放的分类操作，不仅接线繁瑣而且需要 占用大量的仪器设备，同时还要进行失调电压的计算等工作，由此导致运放 分类操作的速率慢且成本高，并且采用人为方式进行筛选，容易出现如读取 万用表电压值时引起的读数误差、接线时出现错误等情况，从而造成分类操 作的精度差、效率低的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种能够取代人工的用于测试运 算放大器失调电压类别的装置，以解决上述人工分类运放芯片造成的速度慢、 效率低且精度差的技术问题。为解决上述问题，本技术提供了一种测试运算放大器失调电压类别 的装置，包括失调电压获取单元，其输入端具有与所述被测运放芯片接口相匹配的通 用接口，其输出端与所述失调电压比较单元电连接；失调电压比较单元，设有与所述失调电压相比较的基准电压，其另一端 作为比较结果的输出端与类别判断单元电连接；类别判断单元，存有与比较结果相应的类别信息，其另一端作为类别结 果的输出端与类别结果输出单元电连接；类别结果输出单元，与所述类别判断单元电连接，以呈现所述类别结果。优选的，所述失调电压获取单元具有至少两个测试通路；所述装置还包括并串转换单元，具有至少两个输入端，并分别与所述失调电压获取单元 的不同输出端电连接；还具有一个输出端与所述失调电压比较单元电连接， 以将所有失调电压串行输出；微处理器CPU,与所述并串转换单元电连接，以控制所述并串转换单元 的输出时间。优选的，所述失调电压比较单元进一步包括用于提高失调电压带负载 能力的电压跟随电路、电压比较电路；其中，所述电压跟随电路与所述失调电压获取单元电连接；所述电压比较电路 电连接在所述电压跟随电路与所述类别判断单元之间。其中，所述电压比较电路进一步包括比较器，其同相输入端连接所述电压跟随电路的输出端，负相输入端连 接本路基准电压，其输出端与所述电平转换单元电连接。优选的，所述装置还包括间，将来自于所述失调电压比较单元的比较结果的高电平转换成所述类别判 断单元接收的电平。优选的，所述类别结果输出单元包括显示单元，为共阳级8段数码管，根据类别结果显示所述被测运放芯片 所属的类别信息；和/或声音输出单元，存有不同类别对应的提示声音，根据类别结果发出相应 的提示声音。优选的，所述装置的失调电压获取单元还包括拨码开关、跳线，与所述被测运放芯片的输出端电连接，将所述运放芯片的其他运放通路切换至所 述失调电压获取单元的输入端。优选的，所述装置还包括用于提供电源的电源单元，与所述装置的所 有单元电连接。芯片的标准锁紧端口。优选的，所述微处理器CPU为AT89系列单片机。 与现有技术相比，本技术具有以下优点首先，本技术实施例可通过失调电压比较单元、类别判断单元自动 测出被测运放芯片所述的类别，并将所述类别通过类别结果输出单元呈现出 来，从而避免了人工进行运放芯片的测试、计算、分类等繁瑣工作，降低了 大量人力成本，同时提高了运放芯片失调电压类别分类的效率及精确度。路，能够一次对至少两个运放芯片进行分类，大大提高了工作效率。再次，本技术实施例可通过拨码开关、或跳线快速切换至各种无内 部调零端子的运放芯片的不同测试通路上，即插即测，方便快捷。同时，本技术实施例提供的失调电压获取单元的输入端可具有不同 的运放接入接口板，能够适用于目前市场上常用的不同封装方式的运放芯片 的接入。附图说明图1为现有技术运放芯片失调电压分类筛选的电路原理图； 图2为本技术测试装置的优选实施例一的结构示意图； 图3为本技术测试装置的优选实施例二的结构示意图； 图4A为本技术测试装置的失调电压获取单元的电路图图4B为本技术测试装置的所述并串转换单元的电路图； 图4C为本技术测试装置的失调电压比较单元的电路图； 图4 D为本技术测试装置的电平转换单元的电路图。具体实施方式以下结合附图对本技术的实施方式做进一步的详细阐述。本技术提供的一种测试运算放大器失调电压类别的装置，包括失调电压获取单元，其输入端具有与所述被测运放芯片接口相匹配的通 用接口，其输出端与所述失调电压比较单元电连接；失调电压比较单元，设有与所述失调电压相比较的基准电压，其另一端 作为比较结果的输出端与类别判断单元电连接；类别判断单元，存有与比较结果相应的类别信息，其另一端作为类别结 果的输出端与类别结果输出单元电连接；类别结果输出单元，与所述类别判断单元电连接，以呈现所述类别结果。其中，所述失调电压获取单元还具有至少两个测试通路，用于同时对多 个运放芯片的测试；此时，所述装置还包括并串转换单元，具有至少两个输入端，并分别与所述失调电压获取单本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试运算放大器失调电压类别的装置，其特征在于，包括：　　　　失调电压获取单元，其输入端具有与所述被测运放芯片接口相匹配的通用接口，其输出端与所述失调电压比较单元电连接；　　　　失调电压比较单元，设有与所述失调电压相比较的基准电压，其另一端作为比较结果的输出端与类别判断单元电连接；　　　　类别判断单元，存有与比较结果相应的类别信息，其另一端作为类别结果的输出端与类别结果输出单元电连接；　　　　类别结果输出单元，与所述类别判断单元电连接，以呈现所述类别结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孔亮，郑伟建，谢昊，项益峰，
申请(专利权)人：中控科技集团有限公司，浙江大学，
类型：实用新型
国别省市：86[]