晶元检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种晶元检测设备，包括机架、控制器、滑架、检测载台、压合板以及检测装置；检测装置包括横向滑座、竖向滑座、第一相机、第二相机、第四驱动机构和第五驱动机构，第一相机和第二相机均设置于竖向滑座上，第四驱动机构设置于机架上并带动横向滑座横向来回活动，第五驱动机构设置于横向滑座上并带动竖向滑座竖向来回活动；通过利用第三驱动机构带动压合板活动以及第二驱动机构带动检测载台活动，使得压合板将晶体载板固定在检测载台上并点亮晶元；再通过设置有检测装置检测晶元的点亮状态，并给出NG结果和位置，使得本设备能对封装完成的晶元进行检查，可在NG晶元的返修时给出准确位置信息，降低产品的不良率，同时提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
晶元检测设备


[0001]本技术涉及检测设备领域技术，尤其是指一种晶元检测设备。

技术介绍

[0002]近几年，LED (发光二极管)产品照明得到快速的发展。LED与传统光源相比具有寿命长、体积小、节能、高效、响应速度快、抗震无污染等优点，被认为是可以进入普通照明领域的“绿色照明光源”。
[0003]随着LED产品高光效化、功率化、高可靠性和低成本的不断发展,对封装的要求也越来越高，现有的晶元完成封装后，由于封装工艺不良可能会对晶元造成损害进而导致晶元不能被点亮，由于不具备对封装完成的晶元是否完全被点亮进行检查的功能，并且不能满足对NG晶元返修给出准确位置信息，产品不良率高不能被解决，导致生产效率低；因此，有必要寻求一种方案解决上述问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种晶元检测设备，其能有效解决现有的晶元完成封装后设备不能对NG晶元返修给出准确位置信息导致生产效率低的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采用如下之技术方案：
[0006]一种晶元检测设备，包括机架、控制器、滑架、检测载台、压合板以及检测装置；该控制器设置于机架上；该滑架可纵向来回活动地设置于机架上，滑架由第一驱动机构带动而纵向来回活动，第一驱动机构连接控制器；该检测载台可竖向来回活动地设置于滑架上，检测载台由第二驱动机构带动而竖向来回活动，第二驱动机构设置于滑架上并连接控制器；该压合板可横向来回活动地设置于滑架上并位于检测载台的上方，压合板由第三驱动机构带动而横向来回活动，第三驱动机构设置于滑架上并连接控制器；该检测装置设置于机架上并位于压合板的上方，检测装置包括有横向滑座、竖向滑座、第一相机、第二相机、第四驱动机构和第五驱动机构，该横向滑座可横向来回活动地设置于机架上，该竖向滑座可竖向来回活动地设置于横向滑座上，该第一相机和第二相机均设置于竖向滑座上并连接控制器，该第四驱动机构设置于机架上并带动横向滑座横向来回活动，第四驱动机构连接控制器，该第五驱动机构设置于横向滑座上并带动竖向滑座竖向来回活动，第五驱动机构连接控制器。
[0007]作为一种优选方案，所述机架包括有工作台和设置于工作台上的龙门架，该滑架和第一驱动机构均设置于工作台上，该检测装置设置于龙门架上。
[0008]作为一种优选方案，所述工作台上设置有两纵向滑轨，该滑架安装在两纵向滑轨上沿纵向滑轨来回活动。
[0009]作为一种优选方案，所述第一驱动机构为直线马达运动模组。
[0010]作为一种优选方案，所述第二驱动机构为电机驱动机构。
[0011]作为一种优选方案，所述滑架的顶部两侧均设置有两横向滑轨，该压合板安装在两横向滑轨上沿横向滑轨来回活动。
[0012]作为一种优选方案，所述第三驱动机构为气缸，其位于横向滑轨的侧旁。
[0013]作为一种优选方案，所述第四驱动机构为伺服电机丝杠驱动机构。
[0014]作为一种优选方案，所述第五驱动机构为电机驱动机构。
[0015]作为一种优选方案，所述第一相机为MARK点检测相机，第二相机为晶元检测相机。
[0016]本技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知：
[0017]通过利用第三驱动机构带动压合板活动以及第二驱动机构带动检测载台活动，使得压合板将晶体载板固定在检测载台上并点亮晶元；再通过设置有检测装置检测晶元的点亮状态，并给出NG结果和位置，使得本设备能对封装完成的晶元进行检查，可在NG晶元的返修时给出准确位置信息，降低产品的不良率，同时提高生产效率。
[0018]为更清楚地阐述本技术的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本技术进行详细说明。
附图说明
[0019]图1是本技术之较佳实施例的组装立体示意图；
[0020]图2是本技术之较佳实施例之机架的局部组装图；
[0021]图3是本技术之较佳实施例之检测装置的组装立体图；
[0022]图4是本技术之较佳实施例之检测装置的组装俯视图；
[0023]图5是本技术之较佳实施例的局部组装立体图；
[0024]图6是本技术之较佳实施例的局部组装正视图。
[0025]附图标识说明：
[0026]10、机架
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11、工作台
[0027]12、龙门架
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13、纵向滑轨
[0028]20、控制器
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30、滑架
[0029]31、第一驱动机构
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32、横向滑轨
[0030]40、检测载台
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41、第二驱动机构
[0031]50、压合板
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51、第三驱动机构
[0032]60、检测装置
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61、横向滑座
[0033]62、竖向滑座
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63、第一相机
[0034]64、第二相机
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65、第四驱动机构
[0035]66、第五驱动机构。
具体实施方式
[0036]请参照图1至图6所示，其显示出了本技术之较佳实施例的具体结构，包括有机架10、控制器20、滑架30、检测载台40、压合板50以及检测装置60。
[0037]该控制器20设置于机架10上；该滑架30可纵向来回活动地设置于机架10上，滑架30由第一驱动机构31带动而纵向来回活动，第一驱动机构31连接控制器20；在本实施例中，
该机架10包括有工作台11和设置于工作台11上的龙门架12，该滑架30和第一驱动机构31均设置于工作台11上；该工作台11上设置有两纵向滑轨13，该滑架30安装在两纵向滑轨13上沿纵向滑轨13来回活动；该第一驱动机构31为直线马达运动模组，该滑架30的顶部两侧均设置有两横向滑轨32。
[0038]该检测载台40可竖向来回活动地设置于滑架30上，检测载台40由第二驱动机构41带动而竖向来回活动，该第二驱动机构41设置于滑架30上并连接控制器20；在本实施例中，该第二驱动机构41为电机驱动机构。
[0039]该压合板50可横向来回活动地设置于滑架30上并位于检测载台40的上方，压合板50由第三驱动机构51带动而横向来回活动，第三驱动机构51设置于滑架30上并连接控制器20；在本实施例中，该压合板50安装在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶元检测设备，其特征在于：包括机架、控制器、滑架、检测载台、压合板以及检测装置；该控制器设置于机架上；该滑架可纵向来回活动地设置于机架上，滑架由第一驱动机构带动而纵向来回活动，第一驱动机构连接控制器；该检测载台可竖向来回活动地设置于滑架上，检测载台由第二驱动机构带动而竖向来回活动，第二驱动机构设置于滑架上并连接控制器；该压合板可横向来回活动地设置于滑架上并位于检测载台的上方，压合板由第三驱动机构带动而横向来回活动，第三驱动机构设置于滑架上并连接控制器；该检测装置设置于机架上并位于压合板的上方，检测装置包括有横向滑座、竖向滑座、第一相机、第二相机、第四驱动机构和第五驱动机构，该横向滑座可横向来回活动地设置于机架上，该竖向滑座可竖向来回活动地设置于横向滑座上，该第一相机和第二相机均设置于竖向滑座上并连接控制器，该第四驱动机构设置于机架上并带动横向滑座横向来回活动，第四驱动机构连接控制器，该第五驱动机构设置于横向滑座上并带动竖向滑座竖向来回活动，第五驱动机构连接控制器。2.根据权利要求1所述的晶元检测设备，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱国诚，周峻民，李浩然，曾光富，
申请(专利权)人：东莞市德镌精密设备有限公司，
类型：新型
国别省市：