具有双排引脚的集成电路高效测试结构制造技术

本实用新型专利技术公开了具有双排引脚的集成电路高效测试结构，包括两个对称设置的导向支撑机构，两个所述导向支撑机构顶端的两侧均共同滑动设置有测试机构，所述导向支撑机构包括支撑板，所述支撑板一侧的顶端居中开设有导向滑槽，所述测试机构包括托板以及两个固定设置于托板底端两侧的滑块，所述滑块滑动设置于导向滑槽内，且托板的一侧居中构造有锁紧机构，所述托板的顶端居中设置有测试载板，所述托板的两端均构造有卡扣。该具有双排引脚的集成电路高效测试结构，具备位置调整功能，可适用于不同大小的集成电路，适用范围较大，降低了测试成本，省时省力，且拆卸于安装较为方便，便于工作人员操作，实用性较强。实用性较强。实用性较强。

【技术实现步骤摘要】
具有双排引脚的集成电路高效测试结构


[0001]本技术属于集成电路测试
，具体涉及具有双排引脚的集成电路高效测试结构。

技术介绍

[0002]集成电路是电路小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]随着科学技术的发展，集成电路已经广泛应用于各种电子产品中，行。在完成集成电路的大批量生产后，需要对集成电路的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的集成电路,而保留合格的集成电路。
[0004]可目前的在集成电路测试领域,用于测试集成电路的测试载板，其用于承装引脚的插座的位置无法进行调整，导致其无法高效的完成对具有双排引脚的集成电路的测试，使得具有双排引脚的集成电路在进行测试时常常需要专用的测试载板，提高了测试成本，费时费力，实用性较低。
技术内容
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.具有双排引脚的集成电路高效测试结构，包括两个对称设置的导向支撑机构(1)；其特征在于：两个所述导向支撑机构(1)顶端的两侧均共同滑动设置有测试机构(2)，所述导向支撑机构(1)包括支撑板(101)，所述支撑板(101)一侧的顶端居中开设有导向滑槽(102)；所述测试机构(2)包括托板(201)以及两个固定设置于托板(201)底端两侧的滑块(202)，所述滑块(202)滑动设置于导向滑槽(102)内，且托板(201)的一侧居中构造有锁紧机构，所述托板(201)的顶端居中设置有用于供单排引脚插入的测试载板(203)。2.根据权利要求1所述的具有双排引脚的集成电路高效测试结构，其特征在于：所述托板(201)的两端均构造有卡扣(208)，且测试载板(203...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗立权，李刚，孙科，
申请(专利权)人：浙江恒拓电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：