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具有双排引脚的集成电路高效测试结构制造技术
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文档序号:33748241
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本实用新型公开了具有双排引脚的集成电路高效测试结构,包括两个对称设置的导向支撑机构,两个所述导向支撑机构顶端的两侧均共同滑动设置有测试机构,所述导向支撑机构包括支撑板,所述支撑板一侧的顶端居中开设有导向滑槽,所述测试机构包括托板以及两个固定...
该专利属于浙江恒拓电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江恒拓电子科技有限公司授权不得商用。
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