【技术实现步骤摘要】
一种半导体刮擦探针结构
[0001]本技术为半导体辅助设备领域,具体涉及一种半导体刮擦探针结构。
技术介绍
[0002]测试芯片需要进行模拟终端用户程序的测试,在测试时,需要将测试芯片方式在测试装置内,测试装置多为使用装置本体和设置在装置本体内的弹簧探针进行,但是现有的弹簧探针由于弹簧使用寿命较短,因此获得一种克服上述缺陷的半导体刮擦探针结构十分重要。
技术实现思路
[0003]为解决上述至少一种技术问题,本技术提供一种半导体刮擦探针结构,包括测试底座,所述测试底座上设有弹性体,所述弹性体上开设有穿孔,所述穿孔上插有探针,所述探针的两端分别位于穿孔两侧,且探针的两端分别向探针两侧弯斜。其中弹性体可为橡胶材质。
[0004]探针包括探针本体、一体成型在探针本体两端的第一端和第二端,所述第一端向探针本体的第一侧弯折,所述第二端向探针本体的另一侧弯曲。第一端形成半导体刮擦测试位。
[0005]穿孔为直孔或斜孔。测试座底部连接有PCB测试板。
[0006]第一端和第二端的端部为弧形,防止擦伤被测试元件。
[0007]与现有技术相比,本技术的优点在于:本技术结构简单,在投入使用的时候,将被测试元件放入测试底座,此时探针的第一端由于受到向下的力,使得弹性体发生形变,使得探针旋转,此时被测试元件的电流从探针的第一端流向第二端至PCB测试板上,完成测试,本技术的探针使用弹性体来完成伸缩,能够增加本技术的使用寿命。
附图说明
[0008]图1为本技术截面示意图;
[0 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体刮擦探针结构,其特征在于:包括测试底座(1),所述测试底座(1)上设有弹性体(2),所述弹性体(2)上开设有穿孔(3),所述穿孔(3)上插有探针(4),所述探针(4)的两端分别位于穿孔(3)两侧,且探针(4)的两端分别向探针(4)两侧弯斜;所述探针(4)包括探针本体、一体成型在探针本体两端的第一端(5)和第二端(6),所述第一端(5)向探针本体的第一侧弯折,所述第二端(6)向探针本体的另...
【专利技术属性】
技术研发人员:吉小飞,
申请(专利权)人:苏州迪克微电子有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。