探针、探针组件和测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种探针、探针组件和测量设备，探针包括外导体、内导体和安装件，内导体间隔设于外导体内，且具有检测部，检测部伸出外导体以用于接触待检测件，安装件设于外导体，且与外导体电连接，安装件上形成有容纳孔，容纳孔用于通过短路连接件与另一个探针的外导体电连接。根据本实用新型专利技术的探针，可以保证测试准确。测试准确。测试准确。

【技术实现步骤摘要】
探针、探针组件和测量设备


[0001]本技术涉及测试
，尤其是涉及一种用于探针、探针组件和测量设备。

技术介绍

[0002]阻抗测试探针是以射频同轴电缆为原型而设计的。相关技术中，在测量差分阻抗时，需要采用两个阻抗测试探针，将该两个阻抗测试探针的外导体搭接在一起、内导体接触待测阻抗线，阻抗测试探针通过射频电缆连接到阻抗测量设备。
[0003]然而，由于两个阻抗测试探针的外导体接触不可靠，易出现松动，导致阻抗测试结果不准确。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种探针，所述探针可以保证测试准确。
[0005]本技术还提出一种具有上述探针的探针组件。
[0006]本技术还提出一种具有上述探针组件的测量设备。
[0007]根据本技术第一方面实施例的探针，包括：外导体；内导体，所述内导体间隔设于所述外导体内，且具有检测部，所述检测部伸出所述外导体以用于接触待检测件；安装件，所述安装件设于所述外导体，且与所述外导体电连接，所述安装件上形成有容纳孔，所述容纳孔用于通过短路连接件与另一个探针的外导体电连接。
[0008]根据本技术实施例的探针，通过设置安装件设于外导体，且安装件形成有容纳孔，使得容纳孔用于通过短路连接件与另一个探针的外导体电连接，避免短路连接件易与安装件脱离，保证两个探针的外导体短路连接可靠，从而调整探针测试准确。
[0009]在一些实施例中，所述容纳孔为通孔。
[0010]在一些实施例中，所述安装件与所述外导体为一体成型件。
[0011]根据本技术第二方面实施例的探针组件，所述探针组件用于阻抗测试，且包括：第一探针和第二探针，所述第一探针和所述第二探针均为根据本技术上述第一方面实施例的探针；短路连接件，所述短路连接件包括主体部，所述主体部包括第一连接部和第二连接部，所述第一连接部设于所述第一探针的容纳孔，所述第二连接部设于所述第二探针的容纳孔，以使所述第一探针的外导体和所述第二探针的外导体电连接。
[0012]根据本技术实施例的探针组件，通过采用上述的探针，便于保证第一探针的外导体和第二探针的外导体连接可靠，提升了探针组件的测量准确性。
[0013]在一些实施例中，所述第一探针的所述容纳孔和所述第二探针的所述容纳孔均为通孔，所述第一连接部滑移配合于所述第一探针的所述容纳孔，所述第二连接部滑移配合于所述第二探针的所述容纳孔。
[0014]在一些实施例中，所述短路连接件还包括限位部，所述限位部为两个且沿所述主体部的长度方向间隔设置，以限制所述主体部脱离所述容纳孔。
[0015]在一些实施例中，至少一个所述限位部与所述主体部可拆卸相连。
[0016]在一些实施例中，两个所述限位部中的其中一个与所述主体部可拆卸相连，另一个与所述主体部为一体成型件。
[0017]在一些实施例中，所述第一连接部固设于所述第一探针的所述容纳孔处，所述第二连接部固设于所述第二探针的所述容纳孔处，所述短路连接件具有可收缩的螺旋部以使所述短路连接件的长度可调节；或者，所述第一连接部与所述第二连接部滑动配合以使所述短路连接件的长度可调节。
[0018]根据本技术第三方面实施例的测量设备，包括根据本技术上述第二方面实施例的探针组件。
[0019]根据本技术实施例的测量设备，通过采用上述的探针组件使得探针间的外导体始终能够保持很好的导电性，保证了测试值的稳定性，提升了测量准确性。
[0020]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0021]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0022]图1是根据本技术一个实施例的探针的示意图；
[0023]图2是图1中所示的探针的剖视图；
[0024]图3是图1中所示的探针的另一个示意图；
[0025]图4是图1中所示的探针的再一个示意图；
[0026]图5是根据本技术一个实施例的探针组件的示意图；
[0027]图6是根据本技术一个实施例的测量设备的局部示意图；
[0028]图7是图6中圈示的A部的放大图；
[0029]图8是图6中所示的短路连接件的示意图；
[0030]图9是图6中所示的测量设备的另一个示意图。
[0031]附图标记：
[0032]探针1、
[0033]外导体11、安装空间110、
[0034]内导体12、检测部120、
[0035]安装件13、容纳孔130、
[0036]支撑件14、安装法兰15、安装孔150、连接器16、
[0037]探针组件100、
[0038]第一探针2、第二探针3、
[0039]短路连接件4、
[0040]主体部41、插配孔410、第一连接部411、第二连接部412、
[0041]限位部42、第一限位部421、第二限位部422、
[0042]阻抗测试头模块200、
[0043]第一驱动机构101、安装座103、安装板104、连接件105。
具体实施方式
[0044]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0045]下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本技术。此外，本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本技术提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。
[0046]下面，参考附图，描述根据本技术实施例的探针1。
[0047]如图1和图2所示，探针1包括外导体11和内导体12，内导体12间隔设于外导体11内，且内导体12具有检测部120，检测部120伸出外导体11以用于接触待检测件，例如检测部120用于接触被测阻抗线。
[0048]例如，在图2的示例中，外导体11内限定出安装空间110，安装空间110的至少轴向一端敞开设置，内导体12穿设于安装空间110，且内导体12的外周壁与安装空间110的壁面间隔开设置，以实现内导体12和外导体11之间的电绝缘，内导体12的检测部120通过安装空间110的敞开侧伸出安装空间110外。
[0049]如图1和图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针，其特征在于，包括：外导体；内导体，所述内导体间隔设于所述外导体内，且具有检测部，所述检测部伸出所述外导体以用于接触待检测件；安装件，所述安装件设于所述外导体，且与所述外导体电连接，所述安装件上形成有容纳孔，所述容纳孔用于通过短路连接件与另一个探针的外导体电连接。2.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述容纳孔为通孔。3.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述安装件与所述外导体为一体成型件。4.一种探针组件，其特征在于，所述探针组件用于阻抗测试，且包括：第一探针和第二探针，所述第一探针和所述第二探针均为根据权利要求1
‑
3中任一项所述的探针；短路连接件，所述短路连接件包括主体部，所述主体部包括第一连接部和第二连接部，所述第一连接部配合于所述第一探针的容纳孔，所述第二连接部配合于所述第二探针的容纳孔，以使所述第一探针的外导体和所述第二探针的外导体电连接。5.根据权利要求4所述的探针组件，其特征在于，所述第一探针的所述容纳孔和所述第二探针的...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁绩，常远，
申请(专利权)人：苏州维嘉科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：