一种半导体特性测试探针台线路整理机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体特性测试探针台线路整理机构，具体涉及半导体特性测试探针台技术领域，包括底板，所述底板的两端均连接有两个固定板，四个所述固定板的顶端均开有上下贯通的固定孔，所述底板的顶端两侧均连接有升降装置，两个所述升降装置的顶端共同连接有调节支撑装置，所述调节支撑装置的顶端一侧连接有限位板，所述限位板的顶端开有多个弧形限位槽，所述调节支撑装置的顶端另一侧连接有整理装置。本实用新型专利技术能够对探针台的多个线路进行稳定的限位和整理，使得整个机构的实用性更高，并且该机构也便于对多个线路的不同位置处进行整理和限位，而在升降装置的作用下，可使整个机构便于进行高度位置的调整。使整个机构便于进行高度位置的调整。使整个机构便于进行高度位置的调整。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体特性测试探针台线路整理机构


[0001]本技术涉及半导体特性测试探针台
，具体为一种半导体特性测试探针台线路整理机构。

技术介绍

[0002]半导体特性测试探针台是一种用于物理、化学领域的分析仪器，它能够测定分子的导电性能，对化合物的I
‑
V进行测定，而半导体特性测试探针台在使用时常需要使用一种线路整理机构来对其线路进行梳理，目前所使用的这些机构结构过于简单，这些机构在对多个线路进行整理和限位时不够稳定，降低了整个机构的实用性，并且这些机构不便于对多个线路的不同位置处进行限位和整理，降低了整个机构的适应性，这些机构在使用时也不便于进行高度位置的调整，使得整个机构的灵活性较低，为此我们提出一种半导体特性测试探针台线路整理机构用于解决上述问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种半导体特性测试探针台线路整理机构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种半导体特性测试探针台线路整理机构，包括底板，所述底板的两端均连接有两个固定板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体特性测试探针台线路整理机构，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的两端均连接有两个固定板(5)，四个所述固定板(5)的顶端均开有上下贯通的固定孔(6)，所述底板(1)的顶端两侧均连接有升降装置(4)，两个所述升降装置(4)的顶端共同连接有调节支撑装置(3)，所述调节支撑装置(3)的顶端一侧连接有限位板(7)，所述限位板(7)的顶端开有多个弧形限位槽(8)，所述调节支撑装置(3)的顶端另一侧连接有整理装置(2)；所述整理装置(2)包括整理板(21)，所述整理板(21)的朝向限位板(7)的一端开有多个贯通式的穿孔(22)，所述整理板(21)的顶端连接有多个分别配合多个穿孔(22)使用的稳固盒(25)，所述稳固盒(25)的两侧内壁上均开有滑槽(252)，两个所述滑槽(252)内均滑动连接有滑块(251)，所述稳固盒(25)的上下内壁之间连接有两个立杆(253)，两个所述立杆(253)的外表面均套接有伸缩弹簧(256)，两个所述立杆(253)的外表面共同套接有活动板(257)，且活动板(257)的下端与两个伸缩弹簧(256)固定连接，所述活动板(257)的两端分别与两个滑块(251)固定连接，所述稳固盒(25)的顶端穿插设有推杆(24)，且推杆(24)的下端延伸至稳固盒(25)内并与活动板(257)固定连接，所述活动板(257)的下端连接有连接杆(255)，所述连接杆(255)的下端连接有圆形稳固板(254)，所述稳固盒(25)朝向限位板(7)的一端开有三个定位孔(23)，且三个定位孔(23)均与其中一个滑槽(252)相连通，其中一个所述滑块(251)的一端开有配合定位孔(23)使用的稳定孔，且稳固盒(25)朝向限位板(7)的一端插设有配合定位孔(23)和稳定孔使用的第一定位销。2.如权利要求1所述的一种半导体特性测试探针台线路整理机构，其特征在于，所述稳固盒(25)的下端开有配合圆形稳固板(254)使用的第一通孔，且整理板(21)的顶端开有多个配合第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：金玄，
申请(专利权)人：苏州金凤明电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：