一种便于更换针头的ICT测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种便于更换针头的ICT测试探针，涉及测试探针技术领域，包括：主体；限位套筒，位于主体的一侧；对接机构，设置在限位套筒的一侧，且与主体、限位套筒相互套接，用于对主体、限位套筒进行便捷连接；调节机构，设置在限位套筒远离主体的一端，且贯穿限位套筒至对接机构的内部。本实用新型专利技术通过设置对接机构，此机构可实现对针头的便捷更换，通过将主体贯穿对接转筒至连接滑筒的一侧外壁，并通过限位单板限位滑动，同时将密封圈套接在针身的一侧外壁，并将对接转筒与针身相互套接，同时使得对接转筒与密封圈套接，然后固定套筒通过螺纹槽与对接转筒旋转套接，从而实现对针头的便捷更换，并通过密封圈避免对接转筒的脱落。并通过密封圈避免对接转筒的脱落。并通过密封圈避免对接转筒的脱落。

【技术实现步骤摘要】
一种便于更换针头的ICT测试探针


[0001]本技术涉及测试探针
，具体是一种便于更换针头的ICT测试探针。

技术介绍

[0002]精密测试探针是精密电测试过程中必不可少的部件，在电子电路研发和生产的过程中，经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析，这个时候就需要使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的ICT或者测试系统进行整合分析，测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。
[0003]现有部分测试探针在使用时通过弹簧对针头进行缓冲，有效达到降低针头磨损程度的效果，但长时间使用后，由于测试探针针身过细导致无法对针头进行便捷更换，并且由于针头的缓冲距离是固定，导致无法按使用需求的不同对缓冲距离进行调节使用。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种便于更换针头的ICT测试探针，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种便于更换针头的ICT测试探针，包括：
[0007]主体；
[0008]限位套筒，位于主体的一侧；
[0009]对接机构，设置在限位套筒的一侧，且与主体、限位套筒相互套接，用于对主体、限位套筒进行便捷连接；
[0010]调节机构，设置在限位套筒远离主体的一端，且贯穿限位套筒至对接机构的内部，用于对主体的缓冲移动间距进行调节限位。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述对接机构包括缓冲弹簧、固定套筒、对接转筒、连接滑筒、针身、密封圈以及限位单板，所述针身位于限位套筒的一侧，且贯穿至限位套筒的内部，所述固定套筒位于限位套筒的一侧，且与针身固定套接，所述密封圈位于固定套筒远离限位套筒的一侧，且与针身相互套接，所述对接转筒位于限位套筒的一侧，且贯穿至固定套筒的内部，并与针身、密封圈相互套接，所述连接滑筒固定在对接转筒远离限位套筒的一侧，且与主体相互套接，所述限位单板固定在主体的一端，且位于连接滑筒的内部，所述缓冲弹簧位于限位单板远离主体的一侧，且位于针身的内部。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述调节机构包括调节滑槽、限位滑杆、移动转板、伸缩推杆以及按压推板，所述按压推板位于缓冲弹簧远离限位单板的一侧，且与针身相互套接，所述伸缩推杆固定在按压推板远离缓冲弹簧的一侧，且贯穿至针身的一侧，所述移动转板固定在伸缩推杆远离按压推板的一端，且与限位套筒相互套接，所述调节滑槽设置在限位套筒远离主体的一侧外壁，所述限位滑杆固定在移动转板的一端，且与调节滑槽相互套接。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述连接滑筒与限位单板、主体相接位置处设置有与其外壁相互匹配的限位插槽，所述针身与密封圈相接位置处设置有与其外壁相互匹配的连接套槽。
[0014]作为本技术再进一步的方案：所述针身与对接转筒相接位置处设置有与其外壁相互匹配的限位滑槽，所述固定套筒与对接转筒相接位置处设置有与其外壁相互匹配的螺纹槽。
[0015]作为本技术再进一步的方案：所述针身与伸缩推杆、按压推板相接位置处设置有与其外壁相互匹配的限位压槽，所述限位套筒与针身相接位置处设置有与其外壁相互匹配的固定插槽。
[0016]作为本技术再进一步的方案：所述限位套筒与移动转板相接位置处设置有与其外壁相互匹配的滑动套槽，所述限位滑杆的外壁与调节滑槽的内壁相互匹配。
[0017]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0018]1、通过设置对接机构，此机构可实现对针头的便捷更换，通过将主体贯穿对接转筒至连接滑筒的一侧外壁，并通过限位单板限位滑动，同时将密封圈套接在针身的一侧外壁，并将对接转筒与针身相互套接，同时使得对接转筒与密封圈套接，然后固定套筒通过螺纹槽与对接转筒旋转套接，从而实现对针头的便捷更换，并通过密封圈避免对接转筒的脱落；
[0019]2、通过设置调节机构，此机构可实现调节针头的缓冲间距，通过拉动限位滑杆在调节滑槽的内部进行滑动，同时移动转板在限位滑杆的带动下进行旋转，然后在限位滑杆的带动下移动转板推动伸缩推杆使得按压推板在针身的内部进行滑动，并使得按压推板对缓冲弹簧进行挤压，从而实现减小主体的缓冲间距，避免使用不便的现象。
附图说明
[0020]图1为一种便于更换针头的ICT测试探针的结构示意图；
[0021]图2为一种便于更换针头的ICT测试探针的对接机构和调节机构剖面示意图；
[0022]图3为一种便于更换针头的ICT测试探针的A处局部放大示意。
[0023]图中：1、主体；2、对接机构；201、缓冲弹簧；202、固定套筒；203、对接转筒；204、连接滑筒；205、针身；206、密封圈；207、限位单板；3、调节机构；301、调节滑槽；302、限位滑杆；303、移动转板；304、伸缩推杆；305、按压推板；4、限位套筒。
具体实施方式
[0024]请参阅图1～3，本技术实施例中，一种便于更换针头的ICT测试探针，包括：
[0025]主体1；
[0026]限位套筒4，位于主体1的一侧；
[0027]对接机构2，设置在限位套筒4的一侧，且与主体1、限位套筒4相互套接，用于对主体1、限位套筒4进行便捷连接；
[0028]调节机构3，设置在限位套筒4远离主体1的一端，且贯穿限位套筒4至对接机构2的内部，用于对主体1的缓冲移动间距进行调节限位。
[0029]该种便于更换针头的ICT测试探针，通过对接机构2使得限位套筒4对主体1进行便
捷连接，且对主体1进行便捷更换使用，然后通过调节机构3对主体1的缓冲间距按照使用需求的不同进行调节。
[0030]在图1～3中：对接机构2包括缓冲弹簧201、固定套筒202、对接转筒203、连接滑筒204、针身205、密封圈206以及限位单板207，针身205位于限位套筒4的一侧，且贯穿至限位套筒4的内部，固定套筒202位于限位套筒4的一侧，且与针身205固定套接，密封圈206位于固定套筒202远离限位套筒4的一侧，且与针身205相互套接，对接转筒203位于限位套筒4的一侧，且贯穿至固定套筒202的内部，并与针身205、密封圈206相互套接，连接滑筒204固定在对接转筒203远离限位套筒4的一侧，且与主体1相互套接，限位单板207固定在主体1的一端，且位于连接滑筒204的内部，缓冲弹簧201位于限位单板207远离主体1的一侧，且位于针身205的内部。
[0031]该种便于更换针头的ICT测试探针，通过将主体1贯穿对接转筒203至连接滑筒204的一侧外壁，并通过限位单板207限位滑动，同时将密封圈206套接在针身205的一侧外壁，并将对接转筒203与针身205相互套接，同时使得对接转筒203与密封圈206套接，然后固定套筒202通过螺纹槽与对接转筒203旋转套接，从而实现对针头的便捷更换，并通过密封圈206与对接转筒203内壁之间的摩擦力避免对接转筒2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于更换针头的ICT测试探针，其特征在于，包括：主体(1)；限位套筒(4)，位于主体(1)的一侧；对接机构(2)，设置在限位套筒(4)的一侧，且与主体(1)、限位套筒(4)相互套接，用于对主体(1)、限位套筒(4)进行便捷连接；调节机构(3)，设置在限位套筒(4)远离主体(1)的一端，且贯穿限位套筒(4)至对接机构(2)的内部，用于对主体(1)的缓冲移动间距进行调节限位。2.根据权利要求1所述的一种便于更换针头的ICT测试探针，其特征在于，所述对接机构(2)包括缓冲弹簧(201)、固定套筒(202)、对接转筒(203)、连接滑筒(204)、针身(205)、密封圈(206)以及限位单板(207)，所述针身(205)位于限位套筒(4)的一侧，且贯穿至限位套筒(4)的内部，所述固定套筒(202)位于限位套筒(4)的一侧，且与针身(205)固定套接，所述密封圈(206)位于固定套筒(202)远离限位套筒(4)的一侧，且与针身(205)相互套接，所述对接转筒(203)位于限位套筒(4)的一侧，且贯穿至固定套筒(202)的内部，并与针身(205)、密封圈(206)相互套接，所述连接滑筒(204)固定在对接转筒(203)远离限位套筒(4)的一侧，且与主体(1)相互套接，所述限位单板(207)固定在主体(1)的一端，且位于连接滑筒(204)的内部，所述缓冲弹簧(201)位于限位单板(207)远离主体(1)的一侧，且位于针身(205)的内部。3.根据权利要求2所述的一种便于更换针头的ICT测试探针，其特征在于，所述调节机构(3)包括调节滑槽(301)、限位滑杆(302)、移动转板(303)、伸缩推杆(304)以及按压推板(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄利红，
申请(专利权)人：深圳市欧瑞特实业有限公司，
类型：新型
国别省市：