一种双头测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种双头测试探针，具体涉及测试技术领域，包括杆筒，所述杆筒的外侧壁固定连接有滑条，所述杆筒的两端分别设置有第一保护壳和第二保护壳，所述杆筒的两端可拆卸设置有连接套，所述连接套的内侧壁设置有内螺纹，所述杆筒朝向连接套的一面固定连接有凸台，所述凸台的侧壁设置有外螺纹，所述内螺纹与外螺纹相配合，所述凸台的内部设置有连接杆，所述连接杆远离凸台的一端固定连接有第一针头。本实用新型专利技术中，使用方便，在测试结束后，可以避免第一针头以及第二针头在闲置时因碰撞而损坏，且当针头发生损坏后，能便于对针头进行更换。进行更换。进行更换。

【技术实现步骤摘要】
一种双头测试探针


[0001]本技术涉及测试
，具体为一种双头测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针，是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件，随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段。目前，现有的测试探在长期的使用过程中不便进行更换，若出现损坏会导致整个探针被弃用，且在探针在闲置时，没有对探针进行保护，探针容易因碰撞而损坏，为此我们提出一种双头测试探针用于解决上述问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种双头测试探针，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种双头测试探针，包括杆筒，所述杆筒的外侧壁固定连接有滑条，所述杆筒的两端分别设置有第一保护壳和第二保护壳；
[0005]所述杆筒的两端可拆卸设置有连接套，所述连接套的内侧壁设置有内螺纹，所述杆筒朝向连接套的一面固定连接有凸台，所述凸台的侧壁设置有外螺纹，所述内螺纹与外螺纹相配合，所述凸台的内部设置有连接杆，所述连接杆远离凸台的一端固定连接有第一针头。
[0006]优选地，所述滑条的数量有两根且分别对称位于杆筒的两侧。
[0007]优选地，所述第一保护壳与第二保护壳相同，所述第一保护壳的内侧壁设置有滑槽，所述滑槽的数量有两个，所述滑槽与滑条相互对应，所述滑槽与滑条相配合。
[0008]优选地，所述第二保护壳朝向第一保护壳的一面固定连接有磁条，所述第一保护壳朝向第二保护壳的一面固定连接有铁片，所述第一保护壳通过磁条以及铁片与第二保护壳相连接。
[0009]优选地，所述第一保护壳的内侧壁且在靠近第二保护壳的一端固定连接有第一卡环，所述杆筒靠近连接套的一端固定连接有第二卡环和第三卡环，所述第二卡环与第三卡环之间留有间隙，所述第一卡环与第二卡环、第三卡环之间的间隙相配合。
[0010]优选地，所述第二保护壳的内部设置有第二针头。
[0011]优选地，所述第一针头靠近连接杆的一端可拆卸设置有第一卡套和第二卡套，所述第一卡套和第二卡套的侧壁贯穿设置有螺纹孔，所述螺纹孔的内部配合设置有紧固螺钉，所述第一卡套和第二卡套通过紧固螺钉相固定。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0013]1、本技术，在进行测试时，向上滑动第一保护壳以及第二保护壳可以将第一
针头和第二针头露出，以便进行测试，在进行测试结束后，可以将第一保护壳以及第二保护壳下滑并固定，从而避免第一针头以及第二针头在搁置时因碰撞而损坏；
[0014]2、本技术，便于对针头进行更换，拧动连接套，通过内螺纹与外螺纹的配合，可以将连接套从杆筒上取下，接着，拧动紧固螺钉，可以使得第一卡套与第二卡套相分开，进而可以对第一针头或第二针头进行更换。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本技术整体结构示意图。
[0017]图2为本技术整体另一结构示意图。
[0018]图3为本技术第一保护壳内部结构示意图。
[0019]图4为本技术连接套内部结构示意图。
[0020]图5为本技术连接套结构示意图。
[0021]图6为本技术A处放大图。
[0022]图中：1、杆筒；2、滑条；3、第一保护壳；4、第二保护壳；5、磁条；6、滑槽；7、第一卡环；8、第二卡环；9、第三卡环；10、连接套；11、内螺纹；12、第一针头；13、第二针头；14、凸台；15、外螺纹；16、连接杆；17、第一卡套；18、第二卡套；19、螺纹孔；20、紧固螺钉。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0025]实施例：如图1
‑
6所示，本技术提供了一种双头测试探针，包括杆筒1，杆筒1的外侧壁固定连接有滑条2，滑条2的数量有两根且分别对称位于杆筒1的两侧，滑条2与滑槽6相配合，杆筒1的两端分别设置有第一保护壳3和第二保护壳4，第一保护壳3与第二保护壳4相同，第二保护壳4的内部设置有第二针头13，第一保护壳3的内侧壁设置有滑槽6，滑槽6的
数量有两个，滑槽6与滑条2相互对应，滑槽6与滑条2相配合，第二保护壳4朝向第一保护壳3的一面固定连接有磁条5，第一保护壳3朝向第二保护壳4的一面固定连接有铁片，第一保护壳3通过磁条5以及铁片与第二保护壳4相连接，第一保护壳3的内侧壁且在靠近第二保护壳4的一端固定连接有第一卡环7，杆筒1靠近连接套10的一端固定连接有第二卡环8和第三卡环9，第二卡环8与第三卡环9之间留有间隙，第一卡环7与第二卡环8、第三卡环9之间的间隙相配合，从而来对第一保护壳3进行固定，避免第一针头12在搁置时因碰撞而损坏；
[0026]杆筒1的两端可拆卸设置有连接套10，连接套10的内侧壁设置有内螺纹11，杆筒1朝向连接套10的一面固定连接有凸台14，凸台14的侧壁设置有外螺纹15，内螺纹11与外螺纹15相配合，拧动连接套10，通过内螺纹11与外螺纹15的配合，可以将连接套10从杆筒1上取下，凸台14的内部设置有连接杆16，连接杆16远离凸台14的一端固定连接有第一针头12，第一针头12靠近连接杆16的一端可拆卸设置有第一卡套17和第二卡套18，第一卡套17和第二卡套18的侧壁贯穿设置有螺纹孔19，螺纹孔19的内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双头测试探针，包括杆筒(1)，其特征在于：所述杆筒(1)的外侧壁固定连接有滑条(2)，所述杆筒(1)的两端分别设置有第一保护壳(3)和第二保护壳(4)；所述杆筒(1)的两端可拆卸设置有连接套(10)，所述连接套(10)的内侧壁设置有内螺纹(11)，所述杆筒(1)朝向连接套(10)的一面固定连接有凸台(14)，所述凸台(14)的侧壁设置有外螺纹(15)，所述内螺纹(11)与外螺纹(15)相配合，所述凸台(14)的内部设置有连接杆(16)，所述连接杆(16)远离凸台(14)的一端固定连接有第一针头(12)。2.如权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于，所述滑条(2)的数量有两根且分别对称位于杆筒(1)的两侧。3.如权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于，所述第一保护壳(3)与第二保护壳(4)相同，所述第一保护壳(3)的内侧壁设置有滑槽(6)，所述滑槽(6)的数量有两个，所述滑槽(6)与滑条(2)相互对应，所述滑槽(6)与滑条(2)相配合。4.如权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于，所述第二保护壳(4)朝向第一保...

【专利技术属性】
技术研发人员：金玄，
申请(专利权)人：苏州金凤明电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：