电路板的测量治具制造技术

本申请公开了一种电路板的测量治具。其中电路板包括多个子板，相邻两个子板之间具有板间间隙，子板沿相邻两个子板的排列方向上具有板宽；电路板的测量治具包括依次间隔设置的第一凸部、第二凸部以及第三凸部，第一凸部和相邻的第二凸部之间的第一间隙小于板间间隙，第二凸部和相邻的第三凸部之间的第二间隙不小于板宽。通过上述方式，本申请能够有效地提高电路板尺寸检验效率。电路板尺寸检验效率。电路板尺寸检验效率。

【技术实现步骤摘要】
电路板的测量治具


[0001]本申请涉及测量治具
，特别是涉及一种电路板的测量治具。

技术介绍

[0002]传统的用于检验电路板板宽是否合格的方法是通过三次元测量获得电路板各个测点的坐标位置，进而获得电路板的板宽，进而判断电路板板宽是否合格，该检验方法测量速度慢，操作繁琐，效率低下，不适合大规模生产检验。

技术实现思路

[0003]本申请旨在提供一种电路板的测量治具，以解决现有技术中电路板尺寸检验效率低的缺陷。
[0004]为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种电路板的测量治具，电路板包括多个子板，相邻两个子板之间具有板间间隙，子板沿相邻两个子板的排列方向上具有板宽；测量治具包括依次间隔设置的第一凸部、第二凸部以及第三凸部，第一凸部和相邻的第二凸部之间的第一间隙小于板间间隙，第二凸部和相邻的第三凸部之间的第二间隙不小于板宽。
[0005]与现有技术相比，本申请的有益效果是：电路板的测量治具的第二凸部与第三凸部之间的第二间隙可以用于容纳板宽尺寸合格的一个电路板子板，第一凸部和第二凸部之间的第一间隙小于电路板相邻两个子板之间的板间间隙，进而另一第二凸部与另一第三凸部之间的第二间隙可以用于容纳板宽尺寸合格的另一个子板，因此，依次间隔设置有多个第一凸部、多个第二凸部以及多个第三凸部的电路板的测量治具可以对电路板的多个子板进行同时测量，进而筛除其中存在有子板尺寸不合格的电路板，降低操作难度，降低购买及维护成本，提高检验效率。
附图说明
[0006]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0007]图1是本申请实施例中一电路板的测量治具的俯视图；
[0008]图2是本申请实施例中一电路板的俯视图；
[0009]图3是本申请实施例中另一电路板的测量治具的俯视图；
[0010]图4是本申请实施例中另一电路板的俯视图；
[0011]图5是本申请实施例中另一电路板的测量治具的俯视图；
[0012]图6是本申请实施例中另一电路板的俯视图；
[0013]图7是本申请实施例中一电路板的测量治具的仰视图；
[0014]图8是本申请实施例中一电路板的测量治具的侧视图；
[0015]图9是本申请实施例中另一电路板的测量治具的侧视图；
[0016]图10是本申请实施例中一定位件的结构图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0018]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0019]关于本申请的电路板的测量治具10的描述请参照下述本申请电路板的测量治具10实施例的示例性描述。
[0020]请一并参阅图1和图2，图1是本申请实施例中一电路板的测量治具的俯视图，图2是本申请实施例中一电路板的俯视图。在本申请实施例中，电路板20可以包括有多个子板200，相邻两个子板200之间存在有板间间隙c，子板200沿所述相邻两个子板200的方向上具有板宽d；电路板的测量治具10可以包括依次间隔设置的第一凸部1201、第二凸部1202以及第三凸部1203，第一凸部1201与第二凸部1202之间的第一间隙a小于板间间隙c，第二凸部1202与第三凸部1203之间的第二间隙b不小于板宽d，其中，第一凸部1201设有多个，第二凸部1202设有多个，第三凸部1203设有多个。具体地，第二凸部1202与第三凸部1203之间的第二间隙b用于容纳子板200；第一凸部1201与第二凸部1202之间的第一间隙a、第一凸部1201的宽度以及第二凸部1202的宽度三者之和等于或小于板间间隙c，进而使与所述子板200相邻的另一子板200对应的第二凸部1202和第三凸部1203形成用于容纳所述另一子板200的第二间隙b。需要说明的是，本申请实施例中的电路板的测量治具10的多个凸部120形成的第一凸部1201、第二凸部1202以及第三凸部1203之间的位置关系是相对于所测量的子板200而存在的，一个设置于电路板的测量治具10的凸部120并不能理解为是固定的第一凸部1201、第二凸部1202或第三凸部1203，当相对测量的子板200不同时，凸部120之间的位置关系也会随之发生改变，例如，一个凸部120可以作为一个子板200的第一凸部1201，同时，也作为与所述子板200相邻的另一子板200的第三凸部1203，也即是说，凸部120前的“第一”、“第二”或“第三”的术语，并不意味着该凸部120存在相应的结构改变，也不意味着对凸部120进行其他限定，而仅仅是为了表示多个凸部120之间存在的与多个子板200之间的板间间隙c的对应位置关系，以及多个凸部120与多个子板200的板宽d的对应位置关系。如此，在电路板20的每个子板200的尺寸都合格的情况下，电路板20可以整体装配到电路板的测量治具10上；在电路板20包括有一个或多个尺寸不合格的子板200的情况下，电路板20无法整体装配到电路板的测量治具10上，其中，子板200尺寸不合格的原因可以是子板200的实际板宽大于预设板宽。综上所述，本申请通过设有多个与电路板20配合的凸部120，实现对电路板20的多个子板200同时进行测量，可以显著地提高检验效率。
[0021]需要说明的是，本申请实施例并不限于上述实施例所实施的范围，例如，在图1及图2所示的实施例中，电路板20的子板200全部沿同一方向依次间隔设置，电路板的测量治具10的多个第一凸部1201、多个第二凸部1202以及多个第三凸部1203全部沿同一方向依次间隔设置，而在本申请其他实施例中，电路板20上的多个子板200可以沿多个方向依次间隔设置，电路板的测量治具10可以配合所述电路板20沿所述多个方向依次间隔设置多个第一凸部1201、多个第二凸部1202以及多个第三凸部1203，以实现对电路板20的多个子板200同时进行测量。也即是说，本申请对电路板20上设置的子板200的位置形状、及尺寸并不限定于图2所示实施例的实施内容，同样对电路板的测量治具10上设置的多个第一凸部1201、多个第二凸部1202以及多个第三凸部1203的位置、形状及尺寸并不限定于图1所示实施例的实施内容，只要满足电路板的测量治具10可以配合电路板20同时测量多个子板200的尺寸的效果即本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板的测量治具，所述电路板包括多个子板，相邻两个所述子板之间具有板间间隙，所述子板沿所述相邻两个所述子板的排列方向上具有板宽；其特征在于，所述测量治具包括：依次间隔设置的第一凸部、第二凸部以及第三凸部；所述第一凸部和所述第二凸部之间的第一间隙小于所述板间间隙，所述第二凸部和所述第三凸部之间的第二间隙不小于所述板宽。2.根据权利要求1所述的电路板的测量治具，其特征在于，所述测量治具包括多个凸部组，所述凸部组包括沿同一方向依次排列的第一凸部、第二凸部以及第三凸部。3.根据权利要求1所述的电路板的测量治具，其特征在于，所述测量治具包括第一凸部组和第二凸部组；所述第一凸部组包括沿第一方向依次排列的第一凸部、第二凸部以及第三凸部，所述第二凸部组包括沿第二方向依次排列的第一凸部、第二凸部以及第三凸部。4.根据权利要求1所述的电路板的测量治具，其特征在于，所述测量治具包括测量平台，所述测量平台上设有测量槽，所述测量槽的底壁上依次间隔设置所述第一凸部、所述第二凸部以及所述第三凸部。5.根据权利要求4所述的电路板的测量治具，其特征在于，所述测量平台包括相对设置的第一表面和第二表面，所述测量槽形成于所述第一表面；所...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙书勇，徐兵，刘晶晶，
申请(专利权)人：上海展华电子南通有限公司，
类型：新型
国别省市：