一种NAND闪存可靠性等级检测装置制造方法及图纸

技术编号:33095433 阅读:28 留言:0更新日期:2022-04-16 23:27
本实用新型专利技术公开了一种NAND闪存可靠性等级检测装置,包括设备主体,所述设备主体的上端对称安装有两个连接结构,两个所述连接结构上均转动安装有一个防护挡板,所述设备主体的上端安装有安装结构,所述安装结构上安装有一个固定结构,所述固定结构包含基板、固定卡板以及推动弹簧,所述固定卡板有两个且对称安装在基板的内端,所述推动弹簧有两个且对称安装在基板的外端。本实用新型专利技术所述的一种NAND闪存可靠性等级检测装置,属于检测装置领域,通过设置防护挡板,可以对检测插槽进行保护,从而降低该装置在不使用时灰尘和杂物落入到检测插槽内的几率,进而降低灰尘和杂物对NAND闪存检测的影响。检测的影响。检测的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种NAND闪存可靠性等级检测装置


[0001]本技术涉及检测装置领域,特别涉及一种NAND闪存可靠性等级检测装置。

技术介绍

[0002]NAND闪存是一种比硬盘驱动器更好的存储设备,在不超过4GB的低容量应用中表现得尤为明显。随着人们持续追求功耗更低、重量更轻和性能更佳的产品,NAND被证明极具吸引力。NAND闪存是一种非易失性存储技术,即断电后仍能保存数据。它的发展目标就是降低每比特存储成本、提高存储容量。闪存结合了EPROM的高密度和EEPROM结构的变通性的优点。
[0003]现有的NAND闪存在生产完毕之后常需要对其进行可靠性等级检测,现有的NAND闪存可靠性等级检测装置因为没有相应的防护结构,从而使得其检测插槽容易落入灰尘或者杂物,进而会对检测插槽进行堵塞,最终会影响到NAND闪存的正常检测。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种NAND闪存可靠性等级检测装置,可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术采取的技术方案为:
[0006]一种NAND闪存可靠本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种NAND闪存可靠性等级检测装置,包括设备主体(1),其特征在于:所述设备主体(1)的上端对称安装有两个连接结构(2),两个所述连接结构(2)上均转动安装有一个防护挡板(3),所述设备主体(1)的上端安装有安装结构(4),所述安装结构(4)上安装有一个固定结构(5),所述固定结构(5)包含基板(16)、固定卡板(17)以及推动弹簧(18),所述固定卡板(17)有两个且对称安装在基板(16)的内端,所述推动弹簧(18)有两个且对称安装在基板(16)的外端。2.根据权利要求1所述的一种NAND闪存可靠性等级检测装置,其特征在于:所述设备主体(1)上设置有操控屏(6),所述设备主体(1)上设置有检测插槽(7)。3.根据权利要求2所述的一种NAND闪存可靠性等级检测装置,其特征在于:所述连接结构(2)包含连接块(8)以及固定轴(9),所述固定轴(9)有两个且对称安装在连接块(8)上,所述连接块(8)通过黏胶固定安装在设备主体(1)的上端,两个所述连接结构(2)对称安装在检测插槽(7)的左右两侧。4.根据权利要求3所述的一种NAND闪存可靠性等级检测装置,其特征在于:所述防护挡板(3)的内端设置有防护海绵(10...

【专利技术属性】
技术研发人员:高影刘晓志庞海清
申请(专利权)人:深圳市泉彗达科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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