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本实用新型公开了一种NAND闪存可靠性等级检测装置，包括设备主体，所述设备主体的上端对称安装有两个连接结构，两个所述连接结构上均转动安装有一个防护挡板，所述设备主体的上端安装有安装结构，所述安装结构上安装有一个固定结构，所述固定结构包含基板...
该专利属于深圳市泉彗达科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市泉彗达科技有限公司授权不得商用。

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