一种自动测试方法、装置、系统及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种自动测试方法、装置、系统及电子设备，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测Memory卡上的DDR5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器；方法包括：控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的所述PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡；控制所述信号发生器对所述目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值；根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作。所述示波器进行截屏保存操作。所述示波器进行截屏保存操作。

【技术实现步骤摘要】
一种自动测试方法、装置、系统及电子设备


[0001]本专利技术涉及自动化测试
，具体涉及一种自动测试方法、装置、系统及电子设备。

技术介绍

[0002]随着互联网产业的不断发展，服务器的需求越来越大。其中，直流电源供电电压的稳定性对服务器的性能有着重要的影响。现有技术中采用DDR5测试技术实现对Memory卡供电稳定性的衡量，但在现有使用DDR5测试技术对Memory卡供电稳定性的测试过程中，需要通过精密数位电表手动量取Memory卡最差电压PIN脚的电压，然后通过信号发生器对最差电压PIN脚进行手动扫频，获取最差频率点和占空比，最后配置示波器进行手动截图并保存测试结果，整个测试过程耗时长、效率低。

技术实现思路

[0003]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有采用DDR5测试技术对Memory卡供电稳定性的测试方式耗时长、效率低的缺陷，从而提供一种自动测试方法、装置、系统及电子设备。
[0004]根据第一方面，本专利技术实施例公开了一种自动测试方法，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测Memory卡上的DDR5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述DDR5连接器、所述控制器连接；所述方法包括：控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的所述PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡；控制所述信号发生器对所述目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值；根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作。
[0005]可选地，所述控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置之前，所述方法还包括：获取测试报告并读取所述测试报告的初始化数据。
[0006]可选地，所述控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的所述PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡，包括：记录获取到的所有PIN脚电压值；获取所述最差电压值对应的PIN脚信息；将所述最差电压值以及其对应的PIN脚信息填写至所述测试报告的指定位置。
[0007]可选地，还包括：控制所述示波器的ch1与最差电压值对应的PIN脚相连接；控制所述电子负载仪拉载恒定电流值，获取所述示波器上量测的Ripple值并将所述Ripple值填写至报告的指定位置。
[0008]可选地，所述控制所述信号发生器对所述目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值，包括：按照预设占空
比区间和预设频率区间，控制所述信号发生器按照预设扫频间隔进行扫频操作并控制所述示波器记录扫频操作过程中的电压值；生成扫频操作测试报告。
[0009]可选地，所述根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作，包括：读取所述扫频操作测试报告；对所述扫频操作测试报告中的电压值进行排序操作，得到所述最差电压值对应的频率值和占空比；控制所述示波器读取所述扫频操作测试报告中的电压值，并在波形累积得到预设次数后控制所述示波器响应截屏保存操作；将所述示波器读取的电压值填写至报告的指定位置。
[0010]根据第二方面，本专利技术实施例还公开了一种自动测试装置，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测Memory卡上的DDR5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述DDR5连接器、所述控制器连接；所述装置包括：第一控制模块，用于控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；第二控制模块，用于控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的所述PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡；第三控制模块，用于控制所述信号发生器对所述目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值；第四控制模块，用于根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作。
[0011]根据第三方面，本专利技术实施例还公开了自动测试系统，包括：DDR5连接器，用于安装在待测Memory卡上；控制器，与所述DDR5连接器连接；信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述DDR5连接器、所述控制器连接；所述控制器用于执行如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的自动测试方法的步骤。
[0012]根据第四方面，本专利技术实施例还公开了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的自动测试方法的步骤。
[0013]根据第五方面，本专利技术实施方式还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的自动测试方法的步骤。
[0014]本专利技术技术方案，具有如下优点：
[0015]本专利技术提供的自动测试方法/装置，应用于自动测试系统的控制器，控制器与安装在待测Memory卡上的DDR5连接器相连，自动测试系统设置的信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与DDR5连接器、控制器连接，控制器控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置，控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡，控制信号发生器对目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值，根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作；相比于现有技术中通过手动方式进行Memory卡的供电稳定性的测试，本专利技术提供的测试方式通过控制器连接各测试组件并控制相应的测
试组件完成对待测Memory卡的测试，实现了对Memory卡的自动测试，节省了测试时间、提高了测试效率。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动测试方法，其特征在于，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测Memory卡上的DDR5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述DDR5连接器、所述控制器连接；所述方法包括：控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的所述PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡；控制所述信号发生器对所述目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值；根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置之前，所述方法还包括：获取测试报告并读取所述测试报告的初始化数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制精密数位电表通过DDR5连接器获取每侧多张待测Memory卡的PIN脚电压值，根据获取到的所述PIN脚电压值确定最差电压值对应的目标待测Memory卡，包括：记录获取到的所有PIN脚电压值；获取所述最差电压值对应的PIN脚信息；将所述最差电压值以及其对应的PIN脚信息填写至所述测试报告的指定位置。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：控制所述示波器的ch1与最差电压值对应的PIN脚相连接；控制所述电子负载仪拉载恒定电流值，获取所述示波器上量测的Ripple值并将所述Ripple值填写至报告的指定位置。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述信号发生器对所述目标待测Memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值，包括：按照预设占空比区间和预设频率区间，控制所述信号发生器按照预设扫频间隔进行扫频操作并控制所述示波器记录扫频操作过程中的电压值；生成扫频操作测试报告。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄绪杰，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：