【技术实现步骤摘要】
一种闪存测试板及测试装置
[0001]本申请涉及闪存测试
，具体涉及一种闪存测试板及测试装置。
技术介绍
[0002]闪存的开发过程中，需要对闪存进行电流电压测试、老化测试、通断电测试等，以验证闪存的耐用性以及存储数据的持久性等。
[0003]相关技术中，对闪存的测试中，外部主机是通过一个接口与测试板进行连接，通过该接口，外部主机与测试板进行通信，以及数据的双向传输，对闪存进行数据的写入和读取的存储性能测试，外部主机根据写入和读取的数据判断闪存存储性能的好坏。整个测试过程，连接外部主机的接口需要进行通信指令和数据的双向传输，由于接口带宽的限制，导致能够同时测试的闪存数量较少，测试效率不高。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种闪存测试板及测试装置，可以提高闪存测试的效率。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种闪存测试板，包括：
[0006]测试板本体；
[0007]第一接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接外部主机，以使所述外部主机向...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种闪存测试板，其特征在于，包括：测试板本体；第一接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接外部主机，以使所述外部主机向所述测试板本体发送数据；第二接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接所述外部主机，以使所述外部主机与所述测试板本体之间进行通信指令传输；多个测试接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于与多个待测试闪存一一对应连接，以使所述测试板本体将接收的数据写入所述多个待测试闪存，并进行读取，以及所述测试板本体根据写入的数据和读取的数据向所述外部主机发送测试结果。2.根据权利要求1所述的闪存测试板，其特征在于，所述测试板本体包括：Hub芯片，与所述第一接口连接，用于接收所述外部主机发送的第一数据；多个控制芯片，与所述Hub芯片连接以及分别与所述多个测试接口一一对应连接，用于接收所述Hub芯片发送的所述第一数据，并将所述第一数据一一写入所述多个待测试闪存。3.根据权利要求2所述的闪存测试板，其特征在于，所述第一接口还用于所述外部主机向所述Hub芯片供电，以及用于所述外部主机通过所述Hub芯片向所述多个控制芯片供电。4.根据权利要求2所述的闪存测试板，其特征在于，所述测试板本体还包括：存储模块，用于存储所述第一数据；处理芯片，分别与所述存储模块、所述第二接口以及与所述多个控制芯片连接，用于从所述存储模块获取所述第一数据...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖振楠，王青秀，陈灶斌，
申请(专利权)人：深圳宏芯宇电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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