DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备制造方法及图纸

本申请提供了一种DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备，该方法包括：获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de

【技术实现步骤摘要】
DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备


[0001]本申请涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种DDR信号质量的测试方法、测试装置、计算机可读存储介质与测试设备。

技术介绍

[0002]随着SOC越来越复杂，高速缓存DDR的应用也越来越广泛，DDR信号质量是SOC系统稳定性的重要保证，而DDR高速信号质量的重要表征就是眼图的质量，一方面芯片DDR PHY集成的DDR training eye的结果往往只能部分反映系统轻载下DDR信号眼图质量，系统实际工作的眼图结果跟轻载下的结果存在较大的偏差；另一方面即使在系统重载下进行眼图的测量，眼图测量本身也有各方面的问题，比如不同芯片、PCB板(印制电路板，Printed Circuit Board，简称PCB)、DDR颗粒、不同应用场景眼图质量都是有差别的，眼图的测量点对眼图的测量结果的影响很大，眼图需要耗费很多的时间和精力去做测量和结果分析，眼图测量的时候，DDR繁多的信号线需要一根一根去测量定位，需要对PCB进行刮线、焊接等操作，这些操作或多或少都会对PCB板造成不良影响。

技术实现思路

[0003]本申请的主要目的在于提供一种DDR信号质量的测试方法、测试装置、计算机可读存储介质与测试设备，以解决现有技术中DDR信号质量测试方法过于复杂的问题。
[0004]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种DDR信号质量的测试方法，包括：获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值；控制所述de
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skew值以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值；根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。
[0005]可选地，所述控制所述初始中心值变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值，包括：控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述初始中心值递增，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最大值；控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述初始中心值递减，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最小值。
[0006]可选地，控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述初始中心值递增，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最大值，包括：控制所述DDR待测信号的de
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skew值从初始中心值开始递增，得到测试中间值；确定在第一预定时间内，所述芯片在所述de
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skew值为所述测试中间值的情况下是否正常工作；在所述芯片正常工作的情况下，控制所述DDR待测信号的de
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skew值从测试中间值值继续递增，直至所述芯片无法正常工作，确定当前的所述测试中间值为窗口最大值。
[0007]可选地，在所述芯片无法正常工作时，所述方法还包括：控制所述芯片重启。
[0008]可选地，在获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值之前，所述方法还包括：控制所述芯片
进入轻载工作模式，所述轻载工作模式为所述芯片的负载率小于第一预定值的工作模式。
[0009]可选地，在获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值之后，控制所述de
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skew值，以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值之前，所述方法还包括：控制所述芯片进入重载工作模式，所述重载工作模式为所述芯片的负载率大于第二预定值的工作模式，所述第二预定值大于或者等于所述第一预定值。
[0010]可选地，所述芯片无法正常工作为目标串口在第二预定时间内无响应和/或所述芯片出现系统错误，所述目标串口为接收所述de
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skew值的所述芯片的串口。
[0011]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种DDR信号质量的测试装置，包括：获取单元，用于获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值；控制单元，用于控制所述de
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skew值以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值；确定单元，用于根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。
[0012]根据本专利技术实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的方法。
[0013]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种测试设备，所述测试设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述处理器用于运行所述程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的方法。
[0014]在本专利技术实施例中，上述DDR信号质量的测试方法中，首先，获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值；然后控制所述de
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skew值，以初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值；最后，根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。DDR待测信号的窗口越大，表示DDR信号的信号质量越好，相比于现有技术通过示波器与信号线连接进行眼图测量，本申请的测试方法无需对PCB板进行信号线刮线、焊接等操作，避免芯片的PCB板测试过程中被刮线、焊接操作损害，避免焊接点不同对测试结果的影响，简化了测试过程，提高了测试准确度。
附图说明
[0015]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0016]图1示出了根据本申请的一种实施例的DDR信号质量的测试方法的示意图；
[0017]图2示出了根据本申请的一种实施例的DDR信号质量的测试装置的示意图；
[0018]图3示出了根据本申请的一种实施例的自动扫描DDR窗口的流程图。
具体实施方式
[0019]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0020]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是
本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DDR信号质量的测试方法，其特征在于，包括：获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值；控制所述de
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skew值以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值；根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述初始中心值变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值，包括：控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述初始中心值递增，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最大值；控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述初始中心值递减，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最小值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述初始中心值递增，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最大值，包括：控制所述DDR待测信号的de
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skew值从初始中心值开始递增，得到测试中间值；确定在第一预定时间内，所述芯片在所述de
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skew值为所述测试中间值的情况下是否正常工作；在所述芯片正常工作的情况下，控制所述DDR待测信号的de
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skew值从所述测试中间值继续递增，直至所述芯片无法正常工作，确定当前的所述测试中间值为窗口最大值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述芯片无法正常工作时，所述方法还包括：控制所述芯片重启。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de
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skew值，将所述de
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skew值...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓冏，蒋增城，
申请(专利权)人：山东岱微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：