一种存储器容量确定方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种存储器容量确定方法、装置、设备及存储介质，包括：将第一目标数据存储至目标存储器的预设位置；确定偏移增量，并将与所述预设位置之间的距离为所述偏移增量处的位置确定为偏移位置；获取所述偏移位置处的第二目标数据，并判断所述第一目标数据与所述第二目标数据是否一致，如果是，则将所述偏移增量确定为所述目标存储器的容量。可见，本申请通过向预设位置写数据并从偏移位置读数据，在判定读写数据一致的情况下，将预设位置和偏移位置之间的位置差确定为存储器的容量，避免通过硬件码、RDID或REMS等静态侦测存储器容量产生偏差，能够快速、准确侦测出存储器的存储容量。容量。容量。

【技术实现步骤摘要】
一种存储器容量确定方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及数据存储
，特别涉及一种存储器容量确定方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现有SRAM或DRAM存储器，一般用硬件码(hardware code)记录该存储器的容量。对于如SPI或NOR Flash的快闪存储器，一般用RDID或REMS计算存储器的ID，并在固件(firmware)中建立对应的表格(图1、图2所示)。然后，通过该存储器的ID得到Flash容量。具体的，先通过RDID或REMS得到ID，此处ID是制造者或装置的ID。然后用内建的表检查该ID，判断该ID是否符合。若该ID符合，则回报容量，认定成功，并结束。否则判断有无下一个ID，若有下一个ID则循环检查ID，如果无则认定失败，并结束。上述做法虽能侦测存储器的容量，然而由于表格数据可能存在滞后等偏差，不能保证侦测结果的准确性及动态性。
[0003]因此，如何快速、准确确定出存储器的存储容量是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器容量确定方法，其特征在于，包括：将第一目标数据存储至目标存储器的预设位置；确定偏移增量，并将与所述预设位置之间的距离为所述偏移增量处的位置确定为偏移位置；获取所述偏移位置处的第二目标数据，并判断所述第一目标数据与所述第二目标数据是否一致，如果是，则将所述偏移增量确定为所述目标存储器的容量。2.根据权利要求1所述的存储器容量确定方法，其特征在于，所述判断所述第一目标数据与所述第二目标数据是否一致之后，还包括：如果所述第一目标数据与所述第二目标数据不一致，则将与所述偏移位置之间的距离为所述偏移增量处的位置确定为新的偏移位置；获取新的偏移位置处的第三目标数据，并判断所述第三目标数据与所述第一目标数据是否一致，如果是，则将所述预设位置与新的偏移位置之间的偏移增量确定为所述目标存储器的容量。3.根据权利要求1所述的存储器容量确定方法，其特征在于，所述判断所述第一目标数据与所述第二目标数据是否一致之后，还包括：如果所述第一目标数据与所述第二目标数据不一致，则确定出新的偏移增量，并将与所述预设位置之间的距离为新的偏移增量处的位置确定为新的偏移位置；获取新的偏移位置处的第四目标数据，并判断所述第四目标数据与所述第一目标数据是否一致，如果是，则将新的偏移增量确定为所述目标存储器的容量。4.根据权利要求1所述的存储器容量确定方法，其特征在于，还包括：将与所述目标存储器具有连接关系的处理器总线最低位址的位置确定为所述预设位置，以将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：山东岱微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：