一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板、转接头、控制板及上位机；待测DDR2存储器安装在老炼板上，转接头的一端与老炼板连接；转接头的另一端与控制板连接；控制板还与上位机连接；安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区；上位机，用于对控制板的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示；本实用新型专利技术通过转接头将老炼板与控制板相接，实现对老炼板与控制板的分区设置，避免了控制器陪练，突破了试验温度的限制；待测器件更换时，对老炼板与控制板进行成套更换，实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求，确保了实验温度的达标，保证了测试结果的准确性。保证了测试结果的准确性。保证了测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统


[0001]本技术属于电子元器件可靠性筛选
，特别涉及一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统。

技术介绍

[0002]根据GJB548B《微电子器件试验方法和程序》第1015.1节中老炼试验规定，老炼试验用于剔除有隐患的器件或剔除那些有制造缺隐的器件，所述器件的失效与时间和应力有关，未经老炼试验的器件在正常使用条件下会早期失效；老炼试验能够使半导体器件在规定的条件下工作，以揭示随时间和应力变化的电气失效模式的等效筛选条件。
[0003]DDR2存储器等高端复杂存储器自身具有低电压电源、差分信号输入及高主频等特性，长期以来由于受制于现有老炼平台的技术状态，无法满足各项老炼筛选要求；目前，现有的老炼试验设备多采用静态老炼或个别单元读写验证老炼方式，且处于试用阶段。
[0004]现有的试验方案，由于控制器陪练问题，导致试验温度很难突破85℃大关；故急需开发一种可靠性高、成本低的高温动态老炼方案。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的技术问题，本技术提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，以解决现有的老炼试验设备，无法满足对DDR2存储器进行动态老炼试验，试验温度较低，可靠性较差的技术问题。
[0006]为达到上述目的，本技术采用的技术方案为：
[0007]本技术提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板、转接头、控制板及上位机；
[0008]待测DDR2存储器安装在老炼板上，转接头的一端与老炼板连接；转接头的另一端与控制板连接；控制板还与上位机连接；
[0009]安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区；
[0010]上位机，用于对控制板的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示。
[0011]进一步的，老炼板上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上。
[0012]进一步的，老炼板上还设置有第一金手指接口，所述第一金手指接口，用于与转接头2相连。
[0013]进一步的，转接头采用PCB板。
[0014]进一步的，控制板上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头相连。
[0015]进一步的，老炼板设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25
‑
150℃。
[0016]进一步的，控制板设置在烘箱的常温区。
[0017]进一步的，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示。
[0018]本技术还提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括若干试验子系统及上位机；
[0019]每个试验子系统包括老炼板、转接头及控制板，待测DDR2存储器安装在老炼板上；转接头的一端与老炼板连接，转接头的另一端与控制板连接；
[0020]若干试验子系统中的控制板之间采用级联后与上位机相连；
[0021]其中，每个试验子系统中的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区。
[0022]与现有技术相比，本技术的有益效果为：
[0023]本技术提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，通过转接头将老炼板与控制板相接，将安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，将控制板设置在常温区，实现对老炼板与控制板的分区设置，避免了控制器陪练，突破了试验温度的限制；待测器件更换时，对老炼板与控制板进行成套更换，解决了现有设备资源不足的问题，实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求，确保了实验温度的达标，保证了测试结果的准确性；本技术结构简单，成本低，可靠性强。
[0024]进一步的，通过设置带有触摸屏的上位机，实现对控制板的有效控制、回检信号显示。
[0025]本技术所述的用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，实现对DDR2存储器的全新、可靠的老炼技术方式，适用于规模较小的检测站及生产厂家，满足对所述待测器件的筛选需求。
附图说明
[0026]图1为实施例1所述的老炼试验系统中老炼板与控制板的连接顶视图；
[0027]图2为实施例1所述的老炼试验系统中老炼板与控制板的连接侧视图；
[0028]图3为实施例2所述的老炼试验系统结构框图。
[0029]其中，1老炼板，2转接头，3控制板，4上位机。
具体实施方式
[0030]为了使本技术所解决的技术问题，技术方案及有益效果更加清楚明白，以下具体实施例，对本技术进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0031]实施例1
[0032]如附图1、2所示，本实施例1提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板1、转接头2、控制板3及上位机；待测DDR2存储器安装在老炼板1上，转接头2的一端与老炼板1连接，转接头2的另一端与控制板3连接；控制板3还与上位机连接。
[0033]本实施例1中，安装有待测DDR2存储器的老炼板1设置在高温试验区，控制板3设置在常温区；老炼板1上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上；老炼板1上还设置有第一金手指接口；所述第一金手指接口，用于与转接头2相连；本实施例1中，通过在老炼板1上设置第一金手指接口，实现将老炼板1与转接头2的匹配连接，完成与后置
控制板3的电源及信号输入、输出传递。
[0034]本实施例1中，老炼板1设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25
‑
150℃；转接头2采用PCB板；控制板3上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头2相连；控制板3设置在烘箱的常温区；通过在控制板3上设置第二金手指接口，实现将控制板3与转接头2的匹配连接，完成对相应通道的电源控制、对应器件老炼激励控制、数据判断回传及工位状态回检等功能。
[0035]上位机，用于对控制板3的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示；优选的，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示，实现可视化操作。
[0036]工作原理及使用方法：
[0037]利用本实施例1所述的用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，对待测DDR2存储器进行老炼试验时，具体过程如下：
[0038]将待测DDR2存储器安装在老炼板1上，并将老炼板1置于高温试验区环境中；将控制板3置于常温区；
[0039]利用转接头2将老炼板1与控制板3连接，并将控制板3与上位机相连；
[0040]利用上位机向控制板发布上电命令；控制板3按照预设固定程序设置进行初始化等一系列工作；待测DDR2存储器被控制板3激励正常读、写工作，控制板将写入数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，包括老炼板(1)、转接头(2)、控制板(3)及上位机；待测DDR2存储器安装在老炼板(1)上，转接头(2)的一端与老炼板(1)连接；转接头(2)的另一端与控制板(3)连接；控制板(3)还与上位机连接；安装有待测DDR2存储器的老炼板(1)设置在高温试验区，控制板(3)设置在常温区；上位机，用于对控制板(3)的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示。2.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上。3.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)上还设置有第一金手指接口；所述第一金手指接口，用于与转接头(2)相连。4.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，转接头(2)采用PCB板。5.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，控制板(3)上设置有第二金手指接口；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐亚涛，赵文虎，赵五喜，
申请(专利权)人：西安太乙电子有限公司，
类型：新型
国别省市：