本发明专利技术公开了一种熔断器功能检测装置及检测方法，集老炼和负载熔断为一体的功能检测试验装置，既能进行加电老炼，又能进行负载熔断试验，并能够对不同封装类型的熔断器进行老炼和负载熔断检测。通过设置电流产生结构拓宽了电流选择范围；设置熔断器测试结构，在进行老炼试验时，能够在熔断器故障时点亮发光单元，来判断熔断器不合格，闭合短路拨断开关，对此工位进行短路剔除；发光单元未被点亮，熔断器合格；在进行负载熔断实验时，设定电流产生结构的电流，闭合短路拨断开关，在一定时间内所有熔断器全部熔端，则熔断器合格，所有熔断器未全部熔端，则熔断器不合格，该检测装置提高了熔断器的可靠性，在电子元件可靠性筛选领域具有应用前景。域具有应用前景。域具有应用前景。
【技术实现步骤摘要】
一种熔断器功能检测装置及检测方法
[0001]本专利技术属于电子元件可靠性筛选领域，涉及一种熔断器功能检测装置及检测方法。
技术介绍
[0002]熔断器又称保险丝，是故意串联安装在电路中，保证电路安全运行的电路保护器件。当电路发生故障或异常，电流异常升高到一定程度并维持一定时间的时候，熔断器就会自身熔断而切断电流，起到保护电路安全运行的作用。该类产品广泛应用于精密仪器、航空航天整机设备、电台以及其他军民的高级整机仪器、设备中，为了保证装备的可靠性，该产品须通过苛刻的质量检验项目，才能够保证其可靠使用。
[0003]其中，功能检测是考核熔断器元件可靠性的重要质量检验项目，功能检测主要是检测熔断器的过载分断能力和剔除早期缺陷产品，不同类型的熔断器过载时间是不同的，从毫秒级、秒级甚至到分钟级，即通过对不同类型的熔断器施加几倍于额定电路的过载电流，检测其熔断时间是否在要求范围之内，未在规定时间内熔断的器件将被判定为不合格批而禁止使用。除此之外且很多装备型号在对熔断器进行负载熔断试验前时还附加要求进行长时间老炼，以剔除早期缺陷器件。但是现有技术在进行测试的时候不能将集老炼试验和负载熔断试验集成为一体，而且不具有计时功能。因此为了保证熔断器的可靠性，对熔断器进行功能检测是十分必要的。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于解决现有技术中在对进行熔断器性能测试的时候不能同时满足老炼试验和负载熔断试验，导致熔断器可靠性低的问题，提供一种熔断器功能检测装置及检测方法。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案予以实现：
[0006]本专利技术提出的一种熔断器功能检测装置，包括电流产生结构和若干个熔断器测试结构；
[0007]每个熔断器测试结构均与所述电流产生结构相连，且每个熔断器测试结构并联设置；所述熔断器测试结构包括阻流电阻、短路拨断开关和熔断器，所述阻流电阻、所述短路拨断开关和所述熔断器并联设置，在每个所述阻流电阻的支路上均连接有发光单元。
[0008]优选地，所述电流产生结构包括电流表、输入电压、线路总开关和若干个功率电阻；每个功率电阻并联设置；
[0009]所述输入电压与线路总开关相连，所述线路总开关与所述功率电阻相连，所述功率电阻的另一端与所述电流表相连，所述电流表的另一端与熔断器测试结构相连，且在每个功率电阻的支路上串联有并联拨断开关。
[0010]优选地，还包括控制器，所述控制器的第一端口连接有计时器。
[0011]优选地，所述控制器的第二端口连接有蜂鸣器。
[0012]优选地，采用供电电源为所述控制器供电。
[0013]优选地，所述电流产生结构产生的电流是所述熔断器测试结构的2倍。
[0014]优选地，所述电流产生结构的和所述熔断器测试结构均集成在电路板上。
[0015]优选地，所述熔断器采用夹具与导线连接。
[0016]优选地，所述发光单元为发光管。
[0017]本专利技术提出的一种熔断器功能检测方法，包括如下步骤：
[0018]在进行老炼试验时，关闭短路拨断开关，设定熔断器测试结构的总电流，使电流产生结构匹配相应的电流，在设定时间内熔断器故障则点亮发光单元，熔断器不合格，若发光单元未被点亮，熔断器合格；
[0019]在进行负载熔断实验时，设定电流产生结构的电流，闭合短路拨断开关，在设定时间内所有熔断器全部熔端，则熔断器合格，所有熔断器未全部熔端，则熔断器不合格。
[0020]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
[0021]本专利技术提出的一种熔断器功能检测装置，集老炼和负载熔断为一体的功能检测装置，既能进行长时间加电老炼，又能进行负载熔断试验，并能够对不同封装类型的熔断器进行老炼和负载熔断检测。通过设置电流产生结构拓宽了电流选择范围；设置熔断器测试结构，在进行老炼试验时，能够在熔断器故障时点亮发光单元，来判断熔断器不合格，闭合短路拨断开关，对此工位进行短路剔除；发光单元未被点亮，熔断器合格；在进行负载熔断实验时，设定电流产生结构的电流，闭合短路拨断开关，在一定时间内所有熔断器全部熔端，则熔断器合格，所有熔断器未全部熔端，则熔断器不合格，因此本专利技术提出的检测装置能够实现老炼试验和负载熔断试验，从多个方面对熔断器的性能进行测试，提高了熔断器的可靠性，在电子元件可靠性筛选领域具有较好的应用前景。
[0022]进一步地，采用并联拨断开关任意并联合适的功率电阻能够获得相应的试验电流。
附图说明
[0023]为了更清楚的说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0024]图1为本专利技术的熔断器功能检测装置结构图。
[0025]图2为本专利技术的熔断器功能检测方法流程图。
[0026]图3为本专利技术的试验计时报警流程图。
具体实施方式
[0027]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0028]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护
的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0030]在本专利技术实施例的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“水平”、“内”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0031]此外，若出现术语“水平”，并不表示要求部件绝对水平，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
[0032]在本专利技术实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种熔断器功能检测装置，其特征在于，包括电流产生结构和若干个熔断器测试结构；每个熔断器测试结构均与所述电流产生结构相连，且每个熔断器测试结构并联设置；所述熔断器测试结构包括阻流电阻、短路拨断开关和熔断器，所述阻流电阻、所述短路拨断开关和所述熔断器并联设置，在每个所述阻流电阻的支路上均连接有发光单元。2.根据权利要求1所述的熔断器功能检测装置，其特征在于，所述电流产生结构包括电流表、输入电压、线路总开关和若干个功率电阻；每个功率电阻并联设置；所述输入电压与线路总开关相连，所述线路总开关与所述功率电阻相连，所述功率电阻的另一端与所述电流表相连，所述电流表的另一端与熔断器测试结构相连，且在每个功率电阻的支路上串联有并联拨断开关。3.根据权利要求1所述的熔断器功能检测装置，其特征在于，还包括控制器，所述控制器的第一端口连接有计时器。4.根据权利要求3所述的熔断器功能检测装置，其特征在于，所述控制器的第二端口连接有蜂鸣器。5.根据权利要求3所述的熔断器功能检测装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘刚奇，孙鹏，张富民，王耀武，
申请(专利权)人：西安太乙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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