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本发明公开了一种自动测试方法、装置、系统及电子设备，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测Memory卡上的DDR5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器；方法包括：控制电子负载仪响应拉载...
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