具有继电器系统的功能测试设备以及使用其的测试方法技术方案

本公开提供一种电子元件的功能测试设备以及该电子元件的测试方法。该功能测试设备具有一第一电源供应器、一第二电源供应器以及一继电器系统。该第一电源供应器经配置以产生一第一供应电压。该第二电源供应器经配置以产生一第二供应电压，该第二供应电压不同于该第一供应电压。该继电器系统经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件，其中该第一供应电压施加到该电子元件一第一持续时间，以及该第二供应电压施加到该电子元件一第二持续时间，该第二持续时间小于该第一持续时间。一持续时间。一持续时间。

【技术实现步骤摘要】
具有继电器系统的功能测试设备以及使用其的测试方法


[0001]本公开主张2020年9月28日申请的美国正式申请案第17/035,028号的优先权及益处，该美国正式申请案的内容以全文引用的方式并入本文中。
[0002]本公开涉及一种功能测试设备以及使用该功能测试设备测试一电子元件的方法。特别是，本公开提供关于一种具有一继电器系统的功能测试设备以及使用该功能测试设备的一测试方法。

技术介绍

[0003]在日常生活中，电子元件已变得极为普遍。除了在家中的个人电脑之外，许多人还携带不止一种用于各种不同的目的的生产力工具。大部分的个人生产力电子元件包括一些形式的非易失性存储器(non
‑
volatile memory)。手机是利用非易失性存储器在电源关闭时存储和保留使用者编程(user
‑
programmed)的电话号码和架构。
[0004]当非易失性存储器变得更大、更密集以及更复杂时，测试器必须能够处理增加的尺寸以及复杂度，而不会显著地增加其测试所花费的时间。许多存储器测试器是连续运转，而且测试时间是被视为在完成品的成本中的一主要因素。当存储器技术进化与改善时，测试器必须能够轻易地适应对装置所做的更改。测试非易失性存储器的特有的另一个问题，是对一存储器的各单元胞重复写入，其是会降低元件的整体寿命效能。非易失性存储器制造商通过在各存储器元件中构建许多特定测试模式，以应对许多测试问题。存储器的购买者并不会去使用这些测试模式，但制造商可以使用这些测试模式，以在尽可能短的时间内尽可能有效地测试存储器的全部或重要部分。一些非易失性存储器也能够在测试工艺期间被修复。因此，测试器应该能够确定：修复的需要、修复的位置以及所需修复的类型；此外，测试器必须能够进行适当的维修。如此的一修复工艺需要一测试器，其是能够检测和绝缘存储器的特定不合格部分。为了充分利用特殊的多个测试模式以及多个修复功能的优点，测试器是能够依据来自装置的一预期响应，以执行支持有条件分支的一测试程序是有益的。
[0005]上文的“现有技术”说明仅是提供
技术介绍
，并未承认上文的“现有技术”说明公开了本公开的标的，不构成本公开的现有技术，且上文的“现有技术”的任何说明均不应作为本公开的任一部分。

技术实现思路

[0006]本公开的一实施例提供一种电子元件的功能测试设备。该功能测试设备包括一第一电源供应器、一第二电源供应器以及一继电器系统。该第一电源供应器经配置以产生一第一供应电压。该第二电源供应器经配置以产生一第二供应电压，该第二供应电压不同于该第一供应电压。该继电器系统经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件，其中该第一供应电压施加到该电子元件在一第一持续时间(duration)，该第二供应电压施加到该电子元件在一第二持续时间，而该第二持续时间小于该第一持续时
间。
[0007]在一些实施例中，该功能测试设备提供有多个数据线、多个位址线以及多个控制线，而该多个数据线、该多个位址线以及该多个控制线是电性耦接到该电子元件。
[0008]在一些实施例中，该继电器系统包括一继电器以及一微控制器，该继电器是由一继电器开关以及一磁化线圈所组成，该磁化线圈是磁性耦接到该继电器开关，该微控制器经配置以控制该继电器开关的多个操作。
[0009]在一些实施例中，该继电器系统还包括一电源以及一控制开关，该控制开关插置在该电源与该磁化线圈之间，其中该微控制器经配置以关闭或开启该控制开关，以控制该继电器开关的操作。
[0010]在一些实施例中，该微控制器经配置以控制该控制开关的一截止状态(off state)的一第一时间区间(interval)以及该控制开关的一导通状态(on state)的一第二时间区间。
[0011]在一些实施例中，该功能测试设备还包括一电源管理电容器，其中该电源管理电容器的一端子电性耦接到该继电器开关与该电子元件，以及该电源管理电容器的另一端子为接地，其中当该继电器系统耦接该第一电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器通过该第一供应电压进行充电；当该继电器系统耦接该第二电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器通过该第二供应电压进行充电；以及当该继电器系统并未耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器是放电以便为该电子元件供电。
[0012]在一些实施例中，该继电器开关包括一共用接触点、一常闭接触点、一常开接触点以及一开关臂，该共用接触点电性耦接到该电子元件，该常闭接触点电性耦接到该第一电源供应器，该常开接触点电性耦接到该第二电源供应器，其中该开关臂通过该共用接触点弹簧加压，并连接该共用接触点到该常闭接触点。
[0013]在一些实施例中，当该开关臂连接该共用接触点到该常闭接触点时，该第一供应电压施加到该电子元件。
[0014]在一些实施例中，当该开关臂连接该共用接触点到该常开接触点时，该第二供应电压施加到该电子元件。
[0015]在一些实施例中，当该开关臂连接该共用接触电到该常闭接触点时，该电源管理电容器通过该第一电源供应器进行充电；以及当该开关臂连接该共用接触点到该常开接触点时，该电源管理电容器通过该第二电源供应器进行充电。
[0016]在一些实施例中，当该开关臂并未连接该共用接触点到该常闭接触点与该常开接触点其中任何一个时，该电源管理电容器放电以为该电子元件供电。
[0017]在一些实施例中，该电源管理电容器具有一电容值，是介于20微法拉(microfarads)到220微法拉之间。
[0018]本公开的另一实施例提供一种电子元件的测试方法。该方法包括耦接该电子元件到一功能测试设备，该功能测试设备包括一第一电源供应器、一第二电源供应器、一电源管理电容器以及一继电器开关，该继电器开关系耦接到该电子元件，其中该第一电源供应器用于提供一第一供应电压，以及该第二电源供应器用于提供一第二供应电压，而该第二供应电压不同于该第一供应电压；操作该继电器开关在一第一关闭状态，以施加该第一供应
电压到该电子元件；以及操作该继电器开关在一第二关闭状态，以施加该第二供应电压到该电子元件；其中该第一供应电压施加到该电子元件在一第一持续时间，以及该第二供应电压施加到该电子元件在一第二持续时间，而该第二持续时间小于该第一持续时间。
[0019]在一些实施例中，该方法还包括：当该继电器开关操作在该第一关闭状态时，以该第一供应电压对该电源管理电容器进行充电；当该继电器开关操作在该第二关闭状态时，以该第二供应电压对该电源管理电容器进行充电；以及当该继电器开关操作在一开启状态时，该电源管理电容器是放电以便为该电子元件供电。
[0020]在一些实施例中，该继电器开关操作在该开启状态的一第三持续时间，小于该第一持续时间。
[0021]在一些实施例中，该第三持续时间小于该第二持续时间。
[0022]在一些实施例中，当该继电器开关操作在该开启状态时，该电子元件并未通过该第一供应电压或该第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件的功能测试设备，包括：一第一电源供应器，经配置以产生一第一供应电压；一第二电源供应器，经配置以产生一第二供应电压，该第二供应电压不同于该第一供应电压；以及一继电器系统，经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件，其中该第一供应电压施加到该电子元件在一第一持续时间，该第二供应电压施加到该电子元件在一第二持续时间，而该第二持续时间小于该第一持续时间。2.如权利要求1所述的功能测试设备，其中该功能测试设备提供有多个数据线、多个位址线以及多个控制线，而所述多个数据线、所述多个位址线以及所述多个控制线电性耦接到该电子元件。3.如权利要求1所述的功能测试设备，其中该继电器系统包括一继电器以及一微控制器，该继电器是由一继电器开关以及一磁化线圈所组成，该磁化线圈磁性耦接到该继电器开关，该微控制器经配置以控制该继电器开关的多个操作。4.如权利要求3所述的功能测试设备，其中该继电器系统还包括一电源以及一控制开关，该控制开关插置在该电源与该磁化线圈之间，其中该微控制器经配置以关闭或开启该控制开关，以控制该继电器开关的操作。5.如权利要求4所述的功能测试设备，其中该微控制器经配置以控制该控制开关的一截止状态的一第一时间区间以及该控制开关的一导通状态的一第二时间区间。6.如权利要求4所述的功能测试设备，还包括一电源管理电容器，其中该电源管理电容器的一端子电性耦接到该继电器开关与该电子元件，以及该电源管理电容器的另一端子为接地，其中当该继电器系统耦接该第一电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器通过该第一供应电压进行充电；当该继电器系统耦接该第二电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器通过该第二供应电压进行充电；以及当该继电器系统并未耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器放电以便为该电子元件供电。7.如权利要求6所述的功能测试设备，其中该继电器开关包括一共用接触点、一常闭接触点、一常开接触点以及一开关臂，该共用接触点电性耦接到该电子元件，该常闭接触点电性耦接到该第一电源供应器，该常开接触点电性耦接到该第二电源供应器，其中该开关臂通过该共用接触点弹簧加压，并连接该共用接触点到该常闭接触点。8.如权利要求7所述的功能测试设备，其中当该开关臂连接该共用接触点到该常闭接触点时，该第一供应电压施加到该电子元件。9.如权利要求7所述的功能测试设备，其中当该开关臂连接该共用接触点到该常开接触点时，该第二供应电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨吴德，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：