【技术实现步骤摘要】
本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种dram的故障检测方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
1、为了测试内存的稳定性，优化内存的参数。内存颗粒虽然在出厂时已经经过检测，但是出厂检测只能测试单颗内存颗粒的品质，当内存颗粒组合成内存条时，天然的会在中央的颗粒和最边缘的颗粒之间形成信号的latency(因为信号线长短不一)，所以有必要再进行测试以确认稳定性和优化参数。在intel架构的计算机系统中，目前内存地址映射方法大都是用反复锤击(rowhammer)然后交叉对比的方式推测出来的，内存测试过程复杂却耗费时间较长。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了dram的故障检测方法、dram的故障检测装置、存储介质及电子设备，可以解决现有技术中处理器在故障检测步骤步骤和耗费时间长的问题。所述技术方案如下：
2、第一方面，本申请实施例提供了一种dram的故障检测方法，所述方法包括：
3、在pei阶段中，根据mrc代码获取dram的地址译码映射信息，以及将所述地址译码映射信息传
【技术保护点】
1.一种DRAM的故障检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述DRAM进行故障检测，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述加载内存测试代码包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述目标数据为全1数据或全0数据。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述内存地址的位宽为32位或64位。
8.一种DRAM...
【技术特征摘要】
1.一种dram的故障检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述dram进行故障检测，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述加载内存测试代码包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述目标数据为全1...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖洪钦，高影，虞青松，
申请(专利权)人：深圳市泉彗达科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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