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DRAM的故障检测方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸
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文档序号:43568455
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本申请实施例公开了一种DRAM的故障检测方法、DRAM的故障检测装置、存储介质及电子设备,涉及计算机领域。本方案通过通过在PEI阶段获取DRAM的地址译码映射信息,并在DXE阶段利用这些信息进行故障检测,本技术方案能够精确地定位DRAM中出...
该专利属于深圳市泉彗达科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市泉彗达科技有限公司授权不得商用。
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