本发明专利技术公开了一种存储芯片自动化测试系统及分选装置,包含芯片测试装置，用于测试存储芯片；动作机构，用于执行存储芯片自动化测试过程中的动作指令；工控模块，连接所述的芯片测试装置与所述的动作机构，用于控制所述芯片测试装置对存储芯片开展测试活动，以及控制所述的动作机构执行动作指令；智能控制端，连接所述工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令，本发明专利技术不但可以实现对存储芯片的全自动化测试还可以实现对存储芯片测试结果的自动化分选,而且本发明专利技术中的上料、测试、分选、下料，每个环节都是自动化操作，所以本发明专利技术不但大大提高了存储芯片的测试效率而且还大大节约了人工成本。率而且还大大节约了人工成本。率而且还大大节约了人工成本。
【技术实现步骤摘要】
一种存储芯片自动化测试系统及分选装置
[0001]本专利技术涉及一种存储芯片自动化测试
，特别是涉及一种存储芯片自动化测试系统及分选装置。
技术介绍
[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。所以存储芯片在出厂前要经过严格的检测。
[0003]现有技术中多采用人工的操作方式对存储芯片进行测试，比如人工把存储芯片装载入特定的夹具内，人工再把装好存储芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由人工手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低，而投入的人工成本巨大。鉴于此，如何开发一种性价比高的自动化的存储芯片测试系统，以低成本的自动测试替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。
技术实现思路
[0004]针对以上现有技术的不足，本专利技术公开了两种技术方案，第一种技术方案为一种存储芯片自动化测试系统，本技术方案中的动作机构与芯片测试装置在工控模块的控制下可响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试;本专利技术的第二种技术方案是基于第一种技术方案的一种分选装置,本技术方案包含多个分选仓,不同的分选仓用于置放不同测试结果的存储芯片,本专利技术从上料、测试、分选到下料整过程都是系统自动化操作，大大节约了人工成本以及提高了测试效率。
[0005]本专利技术的第一种技术方案具体如下：一种存储芯片自动化测试系统,包含用于置放并固定存储芯片以及对存储芯片进行测试的芯片测试装置、用于执行存储芯片自动化测试的动作指令的动作机构、用于连接并控制所述的芯片测试装置对存储芯片开展测试活动以及控制所述的动作机构执行动作指令的工控模块、与用于连接并给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令从而实现存储芯片的自动化测试活动的智能控制端。
[0006]进一步地,所述的芯片测试装置包含用于测试存储芯片的测试板以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信。
[0007]所述的存储芯片测试台包含第一气缸，所述的第一气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载存储芯片，以及压紧装载后的存储芯片。
[0008]所述的芯片测试装置的数量至少为1个。
[0009]进一步地,所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片。
[0010]所述的存储芯片测试台包含第一气缸，所述的第一气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载存储芯片，以及压紧所述测试位上装载的存储芯片。
[0011]进一步地, 本技术方案中的动作机构包含第一自动上下料机构与第一抓取机构，所述的第一自动上下料机构用于自动搬运料盘至目标位置，所述的料盘用于置放存储芯片；所述的第一抓取机构用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置。
[0012]本技术方案中，所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控模块。
[0013]进一步地,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的料盘。
[0014]在更优的技术方案中,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构,用于置放空料盘以及自动搬运空料盘至目标位置。
[0015]进一步地，所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空料盘。
[0016]本技术方案中,所述的第一抓取机构包含第三驱动电机、第三丝杆滑轨与第一机械手。
[0017]进一步地，所述的第三驱动电机由X轴驱动电机、Y轴驱动电机与Z轴驱动电机组成。
[0018]进一步地，所述的第三丝杆滑轨由被所述X轴驱动电机驱动的X轴丝杆滑轨、被所述Y轴驱动电机驱动的Y轴丝杆滑轨与被所述Z轴驱动电机驱动的Z轴丝杆滑轨组成，具体地：所述的Y轴丝杆滑轨设置在所述的X轴丝杆滑轨上，在X轴方向往复运动，所述的Z轴丝杆滑轨设置所述的Y轴丝杆滑轨上，在Y轴方向往复运动；或所述的X轴丝杆滑轨设置在所述的Y轴丝杆滑轨上，在Y轴方向往复运动，所述的Z轴丝杆滑轨设置所述的X轴丝杆滑轨上，在X轴方向往复运动；所述的X轴丝杆滑轨与Y轴丝杆滑轨水平设置。
[0019]所述的Z轴丝杆滑轨竖直设置，所述的第一机械手设置在所述的Z轴丝杆滑轨上。
[0020]进一步地,所述的第一机械手包含变距滑台、以及设置在所述变距滑台上的吸盘，所述的变距滑台与吸盘连接所述的工控模块。
[0021]所述的吸盘数量为至少两个，所述的吸盘之间的间距以及水平高度可调节。
[0022]进一步地,所述的工控模块至少包含电机驱动器与电磁阀。
[0023]所述的电机驱动器连接所述的第一驱动电机、第二驱动电机与第三驱动电机；所述的第一驱动电机、第二驱动电机与第三驱动电机均为伺服电机。
[0024]所述的电磁阀连接所述的第一气缸。
[0025]进一步地,所述的智能控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种。
[0026]本专利技术的第二种技术方案为基于第一种技术方案的一种分选装置，第二种技术方案具体如下：一种分选装置,所述的分选装置包含用于分类置放完成测试的存储芯片的分选
仓、以及用于抓取与移动料盘的第二抓取机构，所述的分选仓与第二抓取机构分别连接所述的工控模块。
[0027]进一步地,所述的分选仓由第四驱动电机、被所述第四驱动电机驱动的第四丝杆滑轨、以及与所述第四丝杆滑轨螺纹连接的第三托盘组成。
[0028]所述的第四驱动电机为伺服电机，连接所述的电机驱动器。
[0029]所述的分选仓至少包含第一分选仓、第二分选仓与第三分选仓中的一种或多种；具体地：所述的第一分选仓用于置放测试参数完好的存储芯片；所述的第二分选仓用于置放测试参数异常的存储芯片；所述的第三分选仓用于置放无法判断测试参数的存储芯片。
[0030]进一步地,所述的第二抓取机构21包含第五驱动电机、第五丝杆滑轨与第二机械手,所述的第二机械手包含第二气缸与夹爪。
[0031]进一步地，所述的第五驱动电机为伺服电机，连接所述的电机驱动器，所述的第二气缸连接所述的电磁阀。
[0032]进一步地,所述的第二机械手与所述的第五丝杆滑轨螺纹连接，并随着所述的第五丝杆滑轨的转动而水平运动，所述的第二气缸驱动所述的夹爪进行抓取动作。
[0033]本专利技术一种存储芯片自动化测试系统及分选装置，本技术方案不但可以实现对存储芯片的全自动化测试还可以实现对存储芯片测试结果的自动化分选,而且本技术方案中的上料、测试、分选、下料，每个环节都是自动化操作无需人工参与，所以本专利技术不但大大提高了存储芯片的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片自动化测试系统,其特征在于,包含：芯片测试装置，用于置放并固定存储芯片以及对存储芯片进行测试；动作机构，用于执行存储芯片自动化测试的动作指令；工控模块，连接所述的芯片测试装置与所述的动作机构，用于控制所述的芯片测试装置对存储芯片开展测试活动，以及控制所述的动作机构执行动作指令；智能控制端，连接所述的工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令，从而实现所述存储芯片自动化测试系统进行自动化测试。2.如权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的芯片测试装置包含用于测试存储芯片的测试板以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信；所述的存储芯片测试台包含第一气缸，所述的第一气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载存储芯片，以及压紧装载后的存储芯片；所述的芯片测试装置的数量至少为1个。3.如权利要求2所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片；所述的存储芯片测试台包含第一气缸，所述的第一气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载存储芯片，以及压紧所述测试位上装载的存储芯片。4.如权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的动作机构包含：第一自动上下料机构，用于自动搬运料盘至目标位置，所述的料盘用于置放存储芯片；第一抓取机构，用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置；所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控模块。5.如权利要求4所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的料盘。6.如权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构,用于置放空料盘以及自动搬运空料盘至目标位置;所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空料盘。7.如权利要求4所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的第一抓取机构包含第三驱动电机、第三丝杆滑轨与第一机械手；所述的第三驱动电机由X轴驱动电机、Y轴驱动电机与Z轴驱动电机组成；所述的第三丝杆滑轨由被所述X轴驱动电机驱动的X轴丝杆滑轨、被所述Y轴驱动电机驱动的Y轴丝杆滑轨与被所述Z轴驱动电机驱...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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