【技术实现步骤摘要】
一种有源驱动系统及方法
[0001]本专利技术属于驱动
,特别涉及一种有源驱动系统及方法。
技术介绍
[0002]随着电力电子技术的不断发展,Si(硅)基电力电子器件的性能也被发挥到了其材料特性的极限,成为了电力电子技术追求高效化、高频化和高功率密度化的瓶颈。为了实现技术突破,以SiC(碳化硅)为代表的新一代半导体器件在过去的十多年中得到了快速的发展,较之于硅基材料,碳化硅材料在禁带宽度、击穿场强、导热率、电子漂移速度等方面都具有性能优势,其中SiC MOSFET器件由于其优异的结构特性被越来越多的应用在电力电子系统中。但SiC MOSFET更快的开关速度也给电力电子系统带来了挑战,由于SiC MOSFET更高的电压、电流变化率,以及电路中固有的杂散电感和寄生电容的存在,SiC MOSFET在开关过程会出现较高的电压、电流尖峰和振荡。这些过冲和振荡过程提高了SiC MOSFET的电压、电流应力,加剧了系统的电磁干扰,威胁系统的安全运行,还增加器件的开关损耗。为了更好的利用SiC MOSFET的性能优势,需要解决这些问题。
[0003]针对电压、电流尖峰和振荡以及电磁干扰问题,目前主要的解决方案有几种。首先,可以通过优化电路设计(如PCB板布局和母排结构)来减小电路中的杂散电感,以降低高电压电流变化率的影响,但是这种方法的优化效果是有限的。其次可以通过增加驱动电阻阻值,增加额外的栅极电容以及增加缓冲电路的方案来直接降低SiC MOSFET的总体开关速度,以降低电压、电流尖峰和振荡,但是这一类方案不仅牺牲了 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种有源驱动系统,其特征在于,所述系统包括:有源驱动电路及依次连接的主控芯片、驱动推挽电路、驱动电阻、被驱动器件,所述有源驱动电路还分别与所述主控芯片、所述驱动电阻及所述被驱动器件连接;所述有源驱动电路,用于实现控制所述被驱动器件在开通过程的第三阶段的开关速度及关断过程的第三阶段的开关速度。2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述有源驱动电路,用于通过闭环反馈实现控制所述被驱动器件在开通过程的第三阶段的开关速度及关断过程的第三阶段的开关速度。3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述有源驱动电路包括电流变化率采样模块、开通过程有源驱动模块、关断过程有源驱动模块;所述电流变化率采样模块分别与所述开通过程有源驱动模块和所述关断过程有源驱动模块连接;所述开通过程有源驱动模块和所述关断过程有源驱动模块均分别与所述主控芯片、所述被驱动器件连接。4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述电流变化率采样模块包括电流变化率采样元件、第一电阻R1和第二电阻R2;所述电流变化率采样元件输出端口的一端与所述第一电阻R1的一端连接,所述电流变化率采样元件输出端口的另一端接地;所述第一电阻R1的另一端与所述第二电阻R2的一端连接于节点,所述节点分别与所述开通过程有源驱动模块和所述关断过程有源驱动模块连接,所述第二电阻R2的另一端接地。5.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述开通过程有源驱动模块包括依次连接的电流变化率积分单元、电流值判断单元、开通过程驱动电压补偿单元;所述电流变化率积分单元包括:运算放大器、第三电阻R3、第四电阻R4、积分电容C1、积分并联电阻R
f
、模拟开关;所述第三电阻R3的一端与所述电流变化率采样模块连接,所述第三电阻R3的另一端连接于所述运算放大器的输入反相端;所述第四电阻R4的一端连接于所述运算放大器的输入同相端,所述第四电阻R4的另一端接地;所述积分电容C1、所述积分并联电阻R
f
、所述模拟开关跨接在所述运算放大器的输入反相端和输出端之间;所述模拟开关的控制端与所述主控芯片连接;所述电流值判断单元包括:第一比较器、第一阈值电压V
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、第五电阻R5;所述第一比较器的正输入端与所述运算放大器的输出端连接,所述第一比较器的负输入端与第一阈值电压V
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连接,所述第一比较器的输出端与所述第五电阻R5的一端连接;所述开通过程驱动电压补偿单元包括:第一二极管D1、第六电阻R6、第一可控器件S1、第二可控器件S2;所述第一可控器件S1的基极与所述第五电阻R5的另一端连接,所述第一可控器件S1的发射极与所述第二可控器件S2的漏极连接,所述第一可控器件S1的集电极与所述第六电阻R6的一端连接,所述第六电阻R6的另一端与所述第一二极管D1的阴极连接,所述第一二极管D1的阳极分别与所述被驱动器件的栅极及所述驱动电阻连接;所述第二可控器件S2的栅极
与所述主控芯片连接,所述第二可控器件S2的源极接地。6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述第一可控器件S1采用NPN型三极管,第二可控器件S2采用N沟道增强型MOSFET。7.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述...
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