集成电路及其测试方法技术

本申请涉及集成电路及其测试方法。集成电路包括测试控制电路、驱动电路和测试检测电路。测试控制电路生成与测试操作相对应的测试地址信号和测试命令信号。驱动电路通过利用基于测试命令信号生成的测试内部电压来执行测试操作。测试检测电路将测试地址信号与目标地址信息进行比较以输出测试内部电压。址信息进行比较以输出测试内部电压。址信息进行比较以输出测试内部电压。

【技术实现步骤摘要】
集成电路及其测试方法


[0001]各种实施方式总体上涉及集成电路及其测试方法，并且更具体地，涉及能够根据测试操作来检测测试结果的集成电路及集成电路的测试方法。

技术介绍

[0002]通常，在诸如半导体存储器装置之类的集成电路发布到市场之前对其执行各种测试。传统上，利用自动测试设备(ATE)对集成电路进行测试操作。自动测试设备是为了确定集成电路是否设计良好而开发的单一产品。因为自动测试设备的成本相对高，所以集成电路的成本取决于是否由自动测试设备对集成电路进行测试。随着用自动测试设备测试集成电路所花费的时间越多，集成电路的成本增加。
[0003]为了解决上述问题，将更多的注意力放在内置的自测电路上。内置的自测电路安装在集成电路内，并代替自动测试设备对集成电路执行测试操作。内置的自测电路减少了原本自动测试设备要使用的时间，从而降低了集成电路的最终成本。
[0004]然而，内置的自测电路通常具有复杂的配置，并且需要大量空间。复杂的配置使内置的自测电路易受噪声的影响，并且可能导致内置的自测电路由于噪声而输出错误的测试结果值。增加空间的需求本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路，该集成电路包括：测试控制电路，所述测试控制电路被配置为生成与测试操作相对应的测试地址信号和测试命令信号；驱动电路，所述驱动电路被配置为通过利用基于所述测试命令信号生成的测试内部电压来执行所述测试操作；以及测试检测电路，所述测试检测电路被配置为将所述测试地址信号与目标地址信息进行比较以输出所述测试内部电压。2.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述测试控制电路包括：信号发生电路，所述信号发生电路被配置为生成用于控制所述测试操作的控制信号；以及测试存储电路，所述测试存储电路被配置为存储所述测试命令信号和所述测试地址信号并且被配置为基于所述控制信号输出所述测试命令信号和所述测试地址信号。3.根据权利要求2所述的集成电路，其中，所述测试存储电路被配置为存储与至少一个测试操作相对应的至少一个测试地址信号。4.一种集成电路，该集成电路包括：测试控制电路，所述测试控制电路被配置为生成与测试操作相对应的测试地址信号和测试命令信号；驱动电路，所述驱动电路被配置为通过利用基于所述测试命令信号生成的多个测试内部电压来执行所述测试操作；以及测试检测电路，所述测试检测电路被配置为将所述测试地址信号与目标地址信息进行比较以输出所述多个测试内部电压当中的与目标电压信息相对应的测试内部电压。5.根据权利要求4所述的集成电路，其中，所述测试控制电路包括：信号发生电路，所述信号发生电路被配置为生成用于控制所述测试操作的控制信号；以及测试存储电路，所述测试存储电路被配置为存储所述测试命令信号和所述测试地址信号并且被配置为基于所述控制信号输出所述测试命令信号和所述测试地址信号。6.根据权利要求5所述的集成电路，其中，所述测试存储电路被配置为存储与至少一个测试操作相对应的至少一个测试地址信号。7.根据权利要求4所述的集成电路，其中，所述测试检测电路包括：测试目标存储电路，所述测试目标存储电路被配置为接收并存储所述目标地址信息和所述目标电压信息；激活电路，所述激活电路被配置为将从所述测试目标存...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑升炫，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：