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本申请涉及集成电路及其测试方法。集成电路包括测试控制电路、驱动电路和测试检测电路。测试控制电路生成与测试操作相对应的测试地址信号和测试命令信号。驱动电路通过利用基于测试命令信号生成的测试内部电压来执行测试操作。测试检测电路将测试地址信号与目...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

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