【技术实现步骤摘要】
一种半导体芯片生产设备电路检测装置
[0001]本技术涉及半导体检测
,具体为一种半导体芯片生产设备电路检测装置。
技术介绍
[0002]为了保证半导体产品的电路控制流转正常,往往需要使用检测装置对搭载的电路进行检测,在检测过程中往往会设置有对电子产品点控按钮电路的按压寿命测试。
[0003]但是,现有的检测装置在对点控按钮电路进行检测的过程中,往往直接将电子产品放置于检测台上对其按钮进行按压测试,这使得电子产品在测试过程中较易于产生偏移,进而影响装置对按钮的按压。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足,本技术提供了一种半导体芯片生产设备电路检测装置,解决了电子产品在测试过程中较易于产生偏移,进而影响装置对按钮的按压的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种半导体芯片生产设备电路检测装置,包括支架,所述支架底部内壁的前侧与托架的底部固定连接,所述托架的后侧与液压缸前侧螺接,所述液压缸 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体芯片生产设备电路检测装置,包括支架(1),其特征在于:所述支架(1)底部内壁的前侧与托架(2)的底部固定连接,所述托架(2)的后侧与液压缸(3)前侧螺接,所述液压缸(3)输出端与推板(4)的前侧中部固定连接,所述推板(4)的顶部开设有两组推槽(6),每组所述推槽(6)的内壁均与一组拨杆(7)外表面的底部相接触,所述拨杆(7)的顶端与拨动板(8)靠近拨杆(7)的一侧固定连接,所述拨动板(8)远离拨杆(7)的一侧与定位轴(9)的底端固定连接,两组所述定位轴(9)的中部分别与定位架(10)左前侧和右前侧转动连接,所述定位架(10)后侧中部与支架(1)的后侧内壁固定连接,每组所述定位轴(9)的顶端均与一组偏转架(11)的中部固定连接,所述偏转架(11)的两侧分别与第二连接杆(13)的后端和第一连接杆(12)的后端转动连接,所述第一连接杆(12)的前端和第二连接杆(13)的前端分别与两组连接板(14)靠近第一连接杆(12)或第二连接杆(13)的一侧固定连接,每组所述连接板(14)远离第一连接杆(12)或第二连接杆(13)的一侧均与一组夹板(5)固定连接,相邻两组所述连接板(14)的顶部设置有一组转动架(16),所述转动架(16)的顶部与支架...
【专利技术属性】
技术研发人员:包丽明,
申请(专利权)人:上海良薇机电工程有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。