一种测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开一种测试治具，其特征在于，包括治具台、第一调节臂、第一延伸臂、第一探针、第二调节臂、第二延伸臂，以及第二探针，其中，所述第一调节臂一端安装于所述治具台的一端，另一端与所述第一延伸臂连接，用于调节所述第一延伸臂与所述治具台之间的距离；所述第一探针安装于所述第一延伸臂远离所述第一调节臂的一端，用于接触待测试产品的第一电极；所述第二调节臂一端安装于所述治具台的另一端，另一端与所述第二延伸臂连接，用于调节所述第二延伸臂与所述治具台之间的距离；所述第二探针安装于所述第二延伸臂远离所述第二调节臂的一端，用于接触待测试产品的第二电极。本技术方案结构简单，成本较低，极大的降低了测试成本。了测试成本。了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种测试治具


[0001]本技术涉及测试
，特别涉及一种测试治具。

技术介绍

[0002]测试半导体或双极类元件的电性能时，需要用探针台把两根探针接触芯片的正负极，由于半导体或双极类元件尺寸很小，比如MiniLED芯片的尺寸一般为4
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8mil或3
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6mil，所以需要配套显微镜。目前市面上的探针台，价格昂贵，从几万到几十万甚至上百万，而且操作复杂，不利于快速操作测试。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的是提供一种测试治具，旨在有效降低测试成本。
[0004]为实现上述目的，本技术提出一种测试治具，包括治具台、第一调节臂、第一延伸臂、第一探针、第二调节臂、第二延伸臂，以及第二探针，其中，
[0005]所述第一调节臂一端安装于所述治具台的一端，另一端与所述第一延伸臂连接，用于调节所述第一延伸臂与所述治具台之间的距离；
[0006]所述第一探针安装于所述第一延伸臂远离所述第一调节臂的一端，用于接触待测试产品的第一电极；
[0007]所述第二调节臂一端安装于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括治具台、第一调节臂、第一延伸臂、第一探针、第二调节臂、第二延伸臂，以及第二探针，其中，所述第一调节臂一端安装于所述治具台的一端，另一端与所述第一延伸臂连接，用于调节所述第一延伸臂与所述治具台之间的距离；所述第一探针安装于所述第一延伸臂远离所述第一调节臂的一端，用于接触待测试产品的第一电极；所述第二调节臂一端安装于所述治具台的另一端，另一端与所述第二延伸臂连接，用于调节所述第二延伸臂与所述治具台之间的距离；所述第二探针安装于所述第二延伸臂远离所述第二调节臂的一端，用于接触待测试产品的第二电极。2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述治具台呈矩形板状。3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述治具台设有用于支撑的支撑脚。4.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一调节臂安装于所述治具台长度方向的一端；所述第二调节臂安装于所述治具台长度方向的另一端。5.如权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述第一调节臂包括第一螺杆、第一调节螺母、第一垫片，以及第一弹簧；所述第一螺杆依次穿...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱桂生，孙天鹏，张金刚，
申请(专利权)人：深圳市洲明科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：