用于激光器芯片的测试系统技术方案

本发明专利技术公开一种用于激光器芯片的测试系统，包括机架、安装于机架上的作业载板、测试载台和至少一个测试探头，所述机架上并位于作业载板上方安装有一上罩壳，所述测试夹具包括基板、若干个测试插座、导热板、PCB板、下盖板、上盖板和若干个间隔排列的活动压头，所述下盖板上间隔开有若干个与活动压头对应的通孔，所述导热板的下表面一端设置有一测温电路板。本发明专利技术既实现了常温下对激光器芯片的批量测试，又可以在低温、高温下对激光器芯片进行批量、多参数测试，兼容性、通用性好，还提高了对温度敏感芯片的测试精度，大大提高了各个测试环境下的测试的效率、精度和测试数据的一致性、稳定性，降低测试成本。降低测试成本。降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
用于激光器芯片的测试系统


[0001]本专利技术涉及一种用于激光器芯片的测试系统，属于光通讯测试


技术介绍

[0002]激光器芯片测试老化的夹具设计一直是难点，特别是温度敏感的芯片测试更是难中之难，目前业内只用常温测试系统，但是随着光通讯行业发展，25G、50G的产品越来越多需要低温测试和高温测试，业内欠缺可靠易用的低温，常温，高温测试系统。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种用于激光器芯片的测试系统，其既实现了常温下对激光器芯片的批量测试，又可以在低温、高温下对激光器芯片进行批量、多参数测试，兼容性、通用性好，还提高了对温度敏感芯片的测试精度，大大提高了各个测试环境下的测试的效率、精度和测试数据的一致性、稳定性，降低测试成本。
[0004]为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种用于激光器芯片的测试系统，包括机架、安装于机架上的作业载板、测试载台和至少一个测试探头，所述测试载台安装于作业载板上表面中部，所述测试探头通过一驱动机构可活动地设置于测试载台上方，供放置测试夹具的所述测试载台本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于激光器芯片的测试系统，其特征在于：包括机架（1）、安装于机架（1）上的作业载板（2）、测试载台（3）和至少一个测试探头（4），所述测试载台（3）安装于作业载板（2）上表面中部，所述测试探头（4）通过一驱动机构（5）可活动地设置于测试载台（3）上方，供放置测试夹具（21）的所述测试载台（3）包括基座（6）和若干个均匀排布于基座（6）上的TEC单元（7），所述测试夹具（21）放置于TEC单元（7）上方；所述机架（1）上并位于作业载板（2）上方安装有一上罩壳（8），从而在此上罩壳（8）与作业载板（2）之间形成一密封仓，所述上罩壳（8）的一侧表面上开有一进料口（9），此进料口（9）上安装有一密封盖（10），此密封盖（10）上间隔开有多个第二进料口（11），此第二进料口（11）上安装有第二密封盖（12），所述机架（1）上并位于测试载台（3）的一侧设置有两个预加工载台（16），所述机架（1）上并位于测试载台（3）的另一侧设置有一回温载台（17）；所述测试夹具（21）包括基板（1a）、若干个测试插座（2a）、导热板（3a）、PCB板（4a）、下盖板（1b）、上盖板（2b）和若干个间隔排列的活动压头（3b），所述PCB板（4a）位于基板（1a）下方，所述导热板（3a）、下盖板（1b）、上盖板（2b）依次设置于基板（1a）上方，若干个所述测试插座（2a）分别安装于基板（1a）上、并与PCB板（4a）电连接，所述导热板（3a）与下盖板（1b）之间安装有待测试器件（10a），此待测试器件（10a）的下端穿过导热板（3a）与测试插座（2a）电连接；所述下盖板（1b）上间隔开有若干个与活动压头（3b）对应的通孔（4b），此通孔（4b）下端内壁上具有一径向向内伸出的环形突出部（41b），所述活动压头（3b）中下部具有一径向向外伸出的凸缘部（31b），所述活动压头（3b）可活动地嵌入下盖板（1b）上的通孔（4b）内、且活动压头（3b）上凸缘部...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐鹏嵩，郭孝明，朱晶，王凯旋，王贤杰，顾涛，胡海洋，黄建军，
申请(专利权)人：苏州联讯仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：