下载用于激光器芯片的测试系统的技术资料

文档序号:32470010

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本发明公开一种用于激光器芯片的测试系统,包括机架、安装于机架上的作业载板、测试载台和至少一个测试探头,所述机架上并位于作业载板上方安装有一上罩壳,所述测试夹具包括基板、若干个测试插座、导热板、PCB板、下盖板、上盖板和若干个间隔排列的活动压...
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