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用于激光器芯片的测试系统技术方案
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下载用于激光器芯片的测试系统的技术资料
文档序号:32470010
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本发明公开一种用于激光器芯片的测试系统,包括机架、安装于机架上的作业载板、测试载台和至少一个测试探头,所述机架上并位于作业载板上方安装有一上罩壳,所述测试夹具包括基板、若干个测试插座、导热板、PCB板、下盖板、上盖板和若干个间隔排列的活动压...
该专利属于苏州联讯仪器有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州联讯仪器有限公司授权不得商用。
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