测试电路、测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本申请实施例涉及一种测试电路、测试装置及其测试方法，测试电路包括：信号处理模块，用于接收待测试的脉冲信号，并在控制信号的控制下输出处理信号；采样模块，与信号处理模块的输出端连接，用于接收处理信号，并根据处理信号生成采样信号；其中，采样信号包括第一采样脉冲和第二采样脉冲，第一采样脉冲和第二采样脉冲具有一脉冲宽度差，脉冲宽度差等于脉冲信号的脉冲宽度。在本申请中，通过信号处理模块和采样模块对脉冲信号进行采样，通过第一采样脉冲和第二采样脉冲即可获取脉冲宽度，即实现了一种测试精度更高的测试电路。了一种测试精度更高的测试电路。了一种测试精度更高的测试电路。

【技术实现步骤摘要】
测试电路、测试装置及其测试方法


[0001]本申请实施例涉及存储器
，特别是涉及一种测试电路、测试装置及其测试方法。

技术介绍

[0002]存储器是用于存储数据的器件，存储器通常包括多个存储阵列，每个存储阵列中包括多个存储单元，存储单元作为存储数据的基本单元结构，每个存储单元都具有数据存储的功能。
[0003]在对存储器进行读写操作时，需要由脉冲信号进行控制。示例性地，脉冲信号可以用于控制字线连接的晶体管对导通和断开，具体地，当脉冲信号有效时，存储单元进行读或写操作，当脉冲信号失效时，存储单元保持原来的数据。随着对存储器对读写速度对要求对不断提高，需要进一步提高脉冲信号的发送频率并减小脉冲宽度。为了保证脉冲信号对可靠性，需要通过测试电路对脉冲宽度进行测试，以确保生成对脉冲信号与设计的信号相同。但是，随着脉冲宽度的不断缩窄，对脉冲宽度的测试电路和测试装置提出了更高的要求，目前的测试电路已经无法准确地测试不断缩窄的脉冲宽度。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对脉冲宽度的测试电路的准确性不足的问题，提供一种测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，包括：信号处理模块，用于接收待测试的脉冲信号，并在控制信号的控制下输出处理信号；采样模块，与所述信号处理模块的输出端连接，用于接收所述处理信号，并根据所述处理信号生成采样信号；其中，所述采样信号包括第一采样脉冲和第二采样脉冲，所述第一采样脉冲和所述第二采样脉冲具有一脉冲宽度差，所述脉冲宽度差等于所述脉冲信号的脉冲宽度。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述采样模块包括：第一暂存单元，所述第一暂存单元的时钟驱动端与所述信号处理模块连接，所述第一暂存单元用于响应所述处理信号对待采样信号进行采样，以生成第一暂存信号，所述采样信号的边沿与所述第一暂存信号的边沿相对应。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一暂存单元包括触发器、锁存器、寄存器中的一种或多种。4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述采样模块还包括：第一反相器，与所述第一暂存单元共同构成反馈环路，所述反馈环路用于响应所述处理信号生成反馈信号，所述反馈信号的边沿与所述处理信号的边沿相对应。5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述第一反相器的输入端与所述第一暂存单元的输出端连接，所述第一反相器的输出端与所述第一暂存单元的输入端连接，所述第一反相器用于对所述第一暂存信号进行反相，以生成反馈信号。6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述采样模块还包括：第二反相器，所述第二反相器的输入端与所述第一反相器的输出端连接，所述第二反相器用于接收所述反馈信号，并根据所述反馈信号生成所述采样信号。7.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述脉冲信号包括时序上相邻的四个脉冲，所述信号处理模块用于响应所述控制信号，对所述脉冲信号中时序上的首个所述脉冲进行反相，并对其余所述脉冲不进行反相；其中，所述采样模块用于响应时序上的前两个所述脉冲生成所述第一采...

【专利技术属性】
技术研发人员：张良，
申请(专利权)人：长鑫存储技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：