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本申请实施例涉及一种测试电路、测试装置及其测试方法，测试电路包括：信号处理模块，用于接收待测试的脉冲信号，并在控制信号的控制下输出处理信号；采样模块，与信号处理模块的输出端连接，用于接收处理信号，并根据处理信号生成采样信号；其中，采样信号包...
该专利属于长鑫存储技术（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术（上海）有限公司授权不得商用。

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