一种半导体结构及其制备方法技术

技术编号:32346168 阅读:12 留言:0更新日期:2022-02-20 02:03
一种半导体结构及其制备方法,包括:衬底(1)、沟道层(4)、势垒层(5)、栅极结构(6)、源极(7)、漏极(8),其中所述栅极结构(6)包括p型半导体层(62)、n型半导体层(63)、栅极(65);提高了栅极(65)对沟道的控制能力;提高半导体器件的阈值电压,避免栅极结构(6)垂直漏电,降低栅极结构(6)侧面漏电;避免沟道退化,提高器件的整体输出特性。整体输出特性。整体输出特性。整体输出特性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:程凯
申请(专利权)人:苏州晶湛半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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