本发明专利技术为一种双针式光敏电阻检测装置，涉及光电器件检测领域；包括工作台，工作台上表面左侧安装有震动机，工作台上表面右侧固定连接有支架；震动机右侧面固定连接有进料导轨，进料导轨右侧设有圆盘，圆盘外侧面等距离开设有若道放置槽，每道放置槽内顶面均开设有限位缺口，每道放置槽内底面均开设有检测孔，圆盘与支架内顶面之间设有校正板，校正板左侧开设有一对校正孔；本发明专利技术的有益效果在于：能够自动进行下料作业，同时能够自动对轻微形变的针脚进行校正，确保针脚与检测头的接触，无需人工操作，起到提高工作效率的效果，同时能够无极调节光照强度，在检测时能够得到更为准确的电阻随光照变化的数据。电阻随光照变化的数据。电阻随光照变化的数据。
【技术实现步骤摘要】
一种双针式光敏电阻检测装置
[0001]本专利技术涉及光电器件检测
，特别是涉及一种双针式光敏电阻检测装置。
技术介绍
[0002]光敏电阻是一种常见的光电器件，光敏电阻具有无光环境阻值较高，随着光照强度增强阻值降低的特性，其中双针式光敏电阻是光敏电阻中的一个最常见的分支，在双针式光敏电阻出厂前需要对光敏电阻进行检测，通过检测获得光敏电阻的健康情况以及各个光照强度下的阻值准确度，以便于在出厂前筛选出被击穿损坏的光敏电阻，基于双针式光敏电阻的结构，双针式光敏电阻在运输期间易出现针脚轻微变形的情况，进而会影响检测头与针脚的接触，现有的双针式光敏电阻检测装置难以对针脚进行微调，如人工进行调整，工作效率低下，同时现有的双针式光敏电阻检测装置难以无极调节光照强度，进而难以得到光敏电阻的准确电阻数据。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供了一种双针式光敏电阻检测装置，该种光电器件检测装置，能够自动进行下料作业，同时能够自动对轻微形变的针脚进行校正，确保针脚与检测头的接触，无需人工操作，起到提高工作效率的效果，同时能够无极调节光照强度，在检测时能够得到更为准确的电阻随光照变化的数据。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种双针式光敏电阻检测装置，包括工作台，所述工作台上表面左侧安装有震动机，所述工作台上表面右侧固定连接有支架；
[0005]所述震动机右侧面固定连接有进料导轨，所述进料导轨右侧设有圆盘，所述圆盘外侧面等距离开设有若干道放置槽，每道所述放置槽内顶面均开设有限位缺口，每道所述放置槽内底面均开设有检测孔，所述圆盘上方右侧与所述支架内顶面之间设有校正板，所述校正板左侧开设有一对校正孔，所述工作台上表面开设有位于两个所述校正孔正下方的透光孔，所述工作台下表面固定连接有位于所述透光孔正下方的检测筒，所述检测筒内底面竖直固定连接有电阻杆，所述电阻杆顶端安装有LED面板，所述检测筒内侧面滑动连接有滑动环，所述滑动环内右侧面固定连接有接触杆，所述接触杆左端与所述电阻杆右侧面滑动连接。
[0006]优选的，所述进料导轨和所述放置槽内均放置有光敏电阻，所述光敏电阻顶面安装有一对所述针脚，所述进料导轨中端呈坡面，且所述进料导轨出料端前后两侧均固定连接有限位板。
[0007]优选的，所述工作台底面安装有位于所述检测筒左侧的步进电机，所述步进电机顶端输出端穿出所述工作台底面并与所述圆盘底面中心处固定连接。
[0008]优选的，所述支架顶面固定连接有气缸，所述气缸底端输出端穿出所述支架顶面并固定连接有支撑板，所述支撑板底面安装有一对检测头，两根所述检测头底端分别与两道所述校正孔上端开口固定连接，所述校正孔呈大口径向下的喇叭状，所述校正板上方右
侧滑动连接有一对限位杆，两根所述限位杆底端均与所述工作台上表面固定连接，且两根所述限位杆外侧面下端均套接有弹簧。
[0009]优选的，所述检测筒顶面中心处开设有出光孔，所述检测筒右侧面竖直开设有滑槽，所述滑动环右侧面固定连接有滑槽，所述滑槽穿出所述滑槽并与所述滑槽滑动连接。
[0010]优选的，所述LED面板和所述滑动环均外接电源，所述滑动环、接触杆、电阻杆和LED面板组成连通电路。
[0011]与现有技术相比，本专利技术实现的有益效果：
[0012]将若干个光敏电阻放置于进料导轨左端，并使针脚向上，开启震动机带动进料导轨震动，并通过进料导轨中端的坡面结构加速落下进入放置槽内，并通过两块限位板对光敏电阻进行调整，使两根针脚以正确位置进入限位缺口内，通过以上结构能够起到自动下料的效果，步进电机带动圆盘按放置槽排布角度间歇性转动，当一个光敏电阻位于一对检测头正下方时，开启气缸推动检测头和校正板下压，一对校正孔呈大口径向下的喇叭状结构，通过该结构能够确保轻微形变的针脚准确的与检测头接触的同时不发生弯折的情况，起到自动对轻微形变的针脚进行校正，提高工作效率的效果，此时检测孔、透光孔和出光孔处于同一直线上，LED面板、滑动环、电阻杆接触杆组成一个滑动变阻器结构，拉动拉动杆带动滑动环和接触杆在电阻杆上上下滑动，能够调节电路中的电阻阻值，进而调节LED面板的光照强度，光照穿过检测孔、透光孔和出光孔并照射于光敏电阻，通过以上结构能够无极调节光照强度，在检测时能够得到更为准确的电阻随光照变化的数据。
附图说明
[0013]图1为本专利技术整体正视立体结构示意图；
[0014]图2为本专利技术进料导轨末端立体结构示意图；
[0015]图3为本专利技术圆盘和支架位置关系结构示意图；
[0016]图4为本专利技术圆盘和步进电机立体结构示意图；
[0017]图5为本专利技术圆盘和检测筒剖面结构示意图；
[0018]图6为本专利技术检测筒剖面结构示意图。
[0019]图中标记：工作台1、透光孔101、震动机2、进料导轨3、限位板31、圆盘4、放置槽41、限位缺口42、检测孔43、步进电机5、支架6、气缸7、支撑板8、检测头9、校正板10、校正孔1001、限位杆11、弹簧1101、检测筒12、出光孔1201、滑槽1202、滑动环13、接触杆1301、拉动杆1302、电阻杆14、LED面板15、光敏电阻16、针脚1601。
具体实施方式
[0020]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行描述。
[0021]请参阅图1至图6：
[0022]一种双针式光敏电阻检测装置，包括工作台1，所述工作台1上表面左侧安装有震动机2，所述工作台1上表面右侧固定连接有支架6；
[0023]所述震动机2右侧面固定连接有进料导轨3，所述进料导轨3右侧设有圆盘4，所述圆盘4外侧面等距离开设有若干道放置槽41，每道所述放置槽41内顶面均开设有限位缺口42，每道所述放置槽41内底面均开设有检测孔43，所述圆盘4上方右侧与所述支架6内顶面
之间设有校正板10，所述校正板10左侧开设有一对校正孔1001，所述工作台1上表面开设有位于两个所述校正孔1001正下方的透光孔101，所述工作台1下表面固定连接有位于所述透光孔101正下方的检测筒12，所述检测筒12内底面竖直固定连接有电阻杆14，所述电阻杆14顶端安装有LED面板15，所述检测筒12内侧面滑动连接有滑动环13，所述滑动环13内右侧面固定连接有接触杆1301，所述接触杆1301左端与所述电阻杆14右侧面滑动连接；
[0024]所述进料导轨3和所述放置槽41内均放置有光敏电阻16，所述光敏电阻16顶面安装有一对所述针脚1601，所述进料导轨3中端呈坡面，且所述进料导轨3出料端前后两侧均固定连接有限位板31；
[0025]所述工作台1底面安装有位于所述检测筒12左侧的步进电机5，所述步进电机5顶端输出端穿出所述工作台1底面并与所述圆盘4底面中心处固定连接；
[0026]所述支架6顶面固定连接有气缸7，所述气缸7底端输出端穿出所述支架6顶面并固定连接有支撑板8，所述支撑板8底面安装有一对检测头9，两根所述检测本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双针式光敏电阻检测装置，包括工作台(1)，所述工作台(1)上表面左侧安装有震动机(2)，所述工作台(1)上表面右侧固定连接有支架(6)，其特征在于：所述震动机(2)右侧面固定连接有进料导轨(3)，所述进料导轨(3)右侧设有圆盘(4)，所述圆盘(4)外侧面等距离开设有若干道放置槽(41)，每道所述放置槽(41)内顶面均开设有限位缺口(42)，每道所述放置槽(41)内底面均开设有检测孔(43)，所述圆盘(4)上方右侧与所述支架(6)内顶面之间设有校正板(10)，所述校正板(10)左侧开设有一对校正孔(1001)，所述工作台(1)上表面开设有位于两个所述校正孔(1001)正下方的透光孔(101)，所述工作台(1)下表面固定连接有位于所述透光孔(101)正下方的检测筒(12)，所述检测筒(12)内底面竖直固定连接有电阻杆(14)，所述电阻杆(14)顶端安装有LED面板(15)，所述检测筒(12)内侧面滑动连接有滑动环(13)，所述滑动环(13)内右侧面固定连接有接触杆(1301)，所述接触杆(1301)左端与所述电阻杆(14)右侧面滑动连接。2.根据权利要求1所述的一种双针式光敏电阻检测装置，其特征在于：所述进料导轨(3)和所述放置槽(41)内均放置有光敏电阻(16)，所述光敏电阻(16)顶面安装有一对所述针脚(1601)，所述进料导轨(3)中端呈坡面，且所述进料导轨(3)出料端前后两侧均固定连接有限位板(31)。3.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜忠文，
申请(专利权)人：苏州达亚电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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